Способ счета отдельных заряженных частиц полупроводниковым счетчиком
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
В. Коган, П. И, Мале А. С иолов М. Рывкин, Н, М, Рейнов., А Н. А, Витовский и ЗАРЯД(ЕННЫХ ЧАСТ1 М СЧЕТЧИКОМ ПОСОБ СЧЕТА ОТДЕЛЬНЫХ ПОДУПРОВОДНИКОВ 12 февраля 1988 г. за591998/ открытий при Советеб в Комитет по делам изобретенМинистров СС 1 Р аявлено а ключа ется зуется фо- оэлемента дмет изобретения счета отдельных заряженных частиц полупроводниковым о т л и ч а ю ш и й с я тем. что, с целью уменьшения шума сутствует источник питания де 1 ектора излучения, а испольСпосо счетчиком детектораИзвестные способы счета отдельных заряжечных частиц с помощью электронных приборов основаны на применении источников питания детектора излучения, Приложение внешнего напряжения к детектору создает шум в приборе и исключает возможность применения прибора в ряде исследований.Отличительная особенность описываемого способа зи отсутствии источников питания. В качестве детектора испольтодиод, который включается в схему в режиме вентильного фотНа чертеже приведена блок-схема способа счета отдельных заряженных частиц.Схема содержит полупроводниковый фотодиод 1, нагрузочное сопротивление 2, усилитель 3, регистрирующий прибор 4, например, осциллограф. (Б - направление излучения заряженных частиц).Возможность счета отдельных заряженных частиц фотодиодами без применения источников питания детектора следует из рассмотрения их вольт-амперных характеристик, которое показывает, что амплитуда импульсов должна увеличиваться с понижением температуры. Понижение температуры позволяет применять ббльшее сопротивление нагрузки путем увеличения внутреннего сопротивления фотодиода и этим увеличить амплитуду импульса, а также облегч.ет ряд исследований, которые производятся при сверхнизких температурах.Яо 117428 Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Редактор И, С. Кутафина Гр. 97Типография Комитета по делам изобретений и открытий гри Совете Министров СССР Москза, Петровка, 14зуетсч Физическая особеннссть п - р переходов, когда при попаданиив полупроводник ионизируюц.;,ей частицы на переходе образуется импульс7 г,7 Энапряжения Лр = -- , где ф - ток через и - р переход, вызванный1+актом ионизации, Я - внутреннее сопротивление полупроводника, Я - сопротивление нагрузки,
СмотретьЗаявка
591908, 12.02.1958
Витовский Н. А, Коган А. В, Малеев П. И, Рейнов Н. М, Рыбкин С. М, Соколов И. А
МПК / Метки
МПК: G01T 1/24
Метки: заряженных, отдельных, полупроводниковым, счета, счетчиком, частиц
Опубликовано: 01.01.1958
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-117428-sposob-scheta-otdelnykh-zaryazhennykh-chastic-poluprovodnikovym-schetchikom.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ счета отдельных заряженных частиц полупроводниковым счетчиком</a>
Источник питания детекторов ядерных излучений
Номер патента: 665551
Опубликовано: 15.11.1981
Автор: Шерметьев
МПК: G01T 1/175
Метки: детекторов, излучений, источник, питания, ядерных
...ЗО дя 1 и опорным источником 5, Входпреобразователя 6 напряжения подключен к выходу истокового повторителя1, а выход через диод 7 - к выходному фильтру 8.Устройство работает следующим образом.После включения дифференциальный5усилитель 4 находится в нелинейном режиме ипитает стоковый повторитель 1 постоянным током, что в сочетании с положительной обратной свя. зью через истоковый повторитель 10обеспечивает линейный заряд конденсатора 1 через резистор 3. После того как выходное напряжение истоково, го поВторителя 1 сравняется с напряжением опорного источника 5, дифференциальный усилитель 4 переходит клинейный режим и поддерживает выходное напряжение истокового повторите ля 1 равным напряжению опорного источника 5, Выходное напряженйе пре-...
Способ контроля контактов алмазных детекторов ионизирующих излучений
Номер патента: 1018549
Опубликовано: 23.11.1986
Авторы: Липовченко, Мухачев, Протасов, Татаринов, Хрунов
МПК: H01L 21/66
Метки: алмазных, детекторов, излучений, ионизирующих, контактов
...дырки, на инжектирующий контакт подают положительное напряжение, для проверки контакта, инжектирующего электроны, на инжектирующий контакт подают отрицательное напряжение, После выключения поля детекторная структура подключается к электрометрическому усилителю. В простейшем случае для этого необходимо просто выключить напряжение и закоротить клеммы источника питания в схеме измерения тока через детектирующую структуру с прижимным электродом вместо запорного. Далее алмазную пластинку освещают светом из области фоточувствительности алмаза и регистрируют ток фотодеполяризации. Дальнейшее осуществление контроля контакта может быть реализовано двумя способами. Задают постоянную интенсивность света и регистрируют максимальное...
Детектор рентгеновского излучения
Номер патента: 246697
Опубликовано: 01.01.1969
МПК: G01T 1/16
Метки: детектор, излучения, рентгеновского
...конуса, усеченная вершина которого образована фильтром, боковая поверхпость - счетчиком излучения, а основание - излучателем, причем излучатель выполнен в виде ряда слоев, параллельных друг другу и основанию по всему объему детектора.На фиг, 1 схематически изображен предлагаемый детектор рентгеновского излучения с излучателем в виде одной пластины; на фиг. 2 - то же, с составным излучателем.Детектор состоит из фильтра 1, излучателя 2 и счетчика 3 рентгеновского излучения, Флуоресценция излучателя регистрируется счетчиком.При конструкции детектора, изображенной на фиг. 1, происходит отбор излучения только с одной стороны излучателя. Расчеты показываот, что повышение светосилы детектора за счет регистрации флуоресценции...
Детектор рентгеновского излучения
Номер патента: 811367
Опубликовано: 07.03.1981
Авторы: Владимиров, Козлов, Курозаев, Мамонтов, Маслов, Сергета
МПК: H01J 47/02
Метки: детектор, излучения, рентгеновского
...эффект.На чертеже изображен предлагаемый детектор. Он содержит - основание 1, крышку 2, пластину 3 коллиматора, предварительный коллиматор 4, замкнутую пластину 5, уплотняющую прокладку б, высоковольтный электрод 7, основание 8 электродов, собирающий электрод 9, охранный электрод 10, электрический ввод 11, входное окно 12 для рентгеновского излучсния.Основание,1 служит для размещения на нем высоковольтных электродов 7, оснований электродов 8, пластин коллиматора 3 и замкнутой пластины б. Электроды 7, основание электродов 8 и пластины коллиматора 3 закреплены в единых пазах, которые выполняются согласно направлениям распространения квантов веерообразного пучка рентгеновского излучения.В основании 1 сделана канавка (на глубину большую,...
Способ контроля качества алмазных детекторов ядерных излучений (его варианты)
Номер патента: 860639
Опубликовано: 23.11.1986
Авторы: Мартынов, Мухачев, Татаринов, Хрунов
МПК: H01L 21/02
Метки: алмазных, варианты, детекторов, его, излучений, качества, ядерных
...от технических условий надетекторы и может отличаться ц определенных пределах, например, для счетных и спектрометрических детекторов. Экспериментально установленное пороговое значение для работоспособных счетных детекторов составляет 20-402 от амплитуды сигнала при обычной регистрации того же излучения тем же детектором, но при нормальном электрическом напряжении наконтактах 15 По второму варианту способ контроля включает в себя следующие операции: алмазный детектор подключают 20к источнику электрического напряжения и одновременно облучают ионизирующим излучением, затем облучение прекращают, электрическое поле убирают, а после затухания переходных 25 процессов в регистрирующей системе вновь облучают ионизирующим излучением, например,...
Предыдущий патент: Способ электрического развертывания луча антенны по двум угловым координатам
Следующий патент: Привод транспорта арифмометра
Случайный патент: Устройство для кислотного гидролиза растительного сырья