Способ определения степени закристаллизованности стеклоцемента

Номер патента: 1272279

Опубликовано: 23.11.1986

Авторы: Конев, Тиханович

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектрической, значений, листовых, малых, проницаемости, свч-датчик

...сигнала и определяют величину ь сб, по которойаналитически или с использованием 20 предварительно рассчитанных градуировочных кривых определяют величинудиэлектрической проницаемости исследуемого листового материала 4. 127 СВЧ-датчик для измерения малыхзначений диэлектрической проницаемости листовых материалов, содержащий 50 линзу, одна боковая поверхность которой параллельна поверхности исследуемого листового материала, и узлыввода и вывода СВЧ-излучения, о т -л и ч а ю щ и й с я тем, что, с 35 целью повышения точности измерений,другая боковая поверхность линзы имеет цилиндрическую форму, узлы вводаи вывода СВЧ-излучения выполнены ввиде диэлектрических стаканов, одни 40 торцы которых обращены к цилиндрической поверхности линзы и...

Номер патента: 317994

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Добровиш, Ландык, Лтно, Минов, Ярин

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектриковна, диэлектрической, листовых, образцов, проницаемости, резонатор, свч

...соответстзующее нечетному числу полуволн в стем е. Затем без изменения расстояния между ловипямц резонатора удаляется испытуем б образец 1 и вновь измеряется второе, ближ шее к первому, значение резонанснойчасто соответствующее нечетному числу полуво в системе. Помещение диэлектрика с проницаех 1 п стью Х в резонансную систему приближен в Х раз увеличивает значенне емкостей по рассеяния, нагружающцх открытыс кон половин резонатора, и вызывает сдвиг ре цансцой частоты. 5 Зная общую электрическую длину резона цой , частоту резонансапри наличии обр ца диэлектрика, частоту резонанса з при у ленном образце, приближенное зцачет диэлектрической проницаемости цспытуем 20 ооразця определяется соотношениемгде С - скорость света в вакууме. Более...

Номер патента: 249026

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Казаков, Левин

МПК: G01N 27/22

Метки: веществ, диэлектрической, заданного, значения, индикации, отклонения, проницаемости

...их, чтовило, делает его неприемлемым длятых целей. осится к бесконтактным мефизико-химических свойств найти широкое применение а также лабораторной пракПредлагаемый способ индикации отклонения диэлектрической цроницаемости веществ от заданного значения свободен от этих недостатков. Для пояснения его реализации рассмотрим принципиальную измерительную схему резонансного преобразователя, содержащего емкостную бесконтактную ячейку (см. чертеж). Для,простоты ограничимся рассмотрением преобразователя с параллельной измерительной схемой,Здес Ч - генератор высок1. - индуктивность оконтура;С - теременный конденсатор, необ ходимый для настройки колебательного контура в резонанс перед началом измерений;г - эквивалентное сопротивлениепотерь в...

Номер патента: 1195286

Опубликовано: 30.11.1985

Автор: Радченко

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектрической, проницаемости

...а ючто с цРлью умРньшРевой емкости и емкос Ясг л.1ь Д ИБИСЫ1195286 ДР Составитель Н,Криндактор М,Петрова Техред А.Боико рректор Ф 0 бруч Подписное Заказ 7411/50 ВНИИПИ Госуд по делам 113035, МОскТираж 747ственного комитета СССРзобретений и открытийЖ, Раушскаянаб.,4 5 илиал ППП "Патент", г,ужгород, ул,Проектная, 4 Изобретение относится к измерениям электрических величин и может быть использовано для определения диэлектрической проницаемости образцов с небольшой поверхностной проводимостью.Цель изобретения - повышение точности путем уменьшения влияния значений краевой емкости между. электродами и их емкости относительно земли на результаты определения величи-, ны диэлектрической проницаемости.На чертеже показана схема, поясняющая сущность...

Номер патента: 1636818

Опубликовано: 23.03.1991

Автор: Водеников

МПК: G01R 33/12

Метки: магнитной, максимальной, образцов, проницаемости, ферромагнитных

...уровень напряжения Ою = 1 Вмь и на выходе формируется уровень напряжения 5 10 Оз = Е 1 = Е 1 - (1)Вм О 11 15Н О 2Коэффициент пропорциональности Е 1 имеет размерность напряжения и при использовании известных схем делителей служит задаваемой величиной, и в данном 20 случае задается равным 1 В. По мере роста амплитуды 1 импульсов перемагничивающего тока напряжение Оз нарастает, достигая максимального значения Оэмакс В момент, когда перемагничивание про исходит по частному циклу, имеющему максимальную проницаемостьВм,Имакс = и в дальнейшем. с ростомН;макс30 амплитуды тока, уменьшается, а на выходе третьего пикового детектора с .учетом (1) фиксируется уровень Озмакс =,ймакс.Дальнейший рост амплитуды импульсов перемагничивающего тока...