Способ устранения утечек в вакуумных фотоэлектронных приборах

Номер патента: 1580486

Опубликовано: 23.07.1990

Авторы: Денисюк, Руденко, Тонкаль

МПК: H02J 3/18

Метки: обратных, потоков, устранения, энергии

...35 состояния; - - отсутствие таких выходных кодов и соответствующих им аварийных режимов (аварийное отключение нагрузки и аварицное отключение генератора) при работе устройства. 40 Сигналы логической "1" с клемм 26 (К 1), 27(К 2), 28(КЗ) и дешифратора 20 через усилители-формирователи 21-25 отпирают полностью управляемые ключевые коммутаторы 2-6 соответственно,а сигналы логического "0" их запирают.При таком алгоритме работы переключателя 19 режимов работы существует восемь интервалов на периоде Т работы 5 р системы генератор-нагрузка, в сечение которой подключено предлагаемое устройство,На интервале 1 (, ) переключатель 19 режимов работы замыкает ключе-. вые коииутаторы 2 и 3 (коммутатор 6 по предыдущему состоянию замкнут), обратный ток...

Номер патента: 1624713

Опубликовано: 30.01.1991

Авторы: Ефимов, Закутин, Шендерович

МПК: H05H 7/02

Метки: импульсного, поляризованных, пучка, электронов

...ток этого пучкаР 1 Ие(13)тСледовательно, для получения импульсного тока пучка поляризованных электронов, равного, должно выполняться условие4 л Е сй ге з10с)Рассмотрим пример практической реализации предлагаемого способа.Пусть на поверхность оргстекла с е = =2,2 площадью 10 м (1 на фиг, 1) из электронной пушки 2 направляют электронный пучок 3 с током 0,2 мА и энергией электронов, например, 100 эВ, За время 10 с на поверхности диэлектрика накопится заряд 2 10 Кл, т.е, М 1,2 10 электронов, К диэлектрику прикладывают магнитное поле, перпендикулярное его поверхности. При этом энергетические уровни электронов расщепляются. Энергетически более выгодным является состояние, в котором спиновый магнитный момент электрона параллелен внешнему...

Номер патента: 212573

Опубликовано: 01.01.1968

Автор: Кацнельсон

МПК: G01J 3/24

Метки: прибор, спектральный

...фотоэлектрически, фотографически и визуально одновременно с рабочим спектром. из естных спектральных приборах для я зз работой и градуировки приме- вспомогательная оптическая система агаемый спектральный прибор имеет ростую систему контроля и юстировбор выполняется с дифракционной й и особенность его заключается вкаждьш и-й штрих, например четпродолжен на незаштрихованную поть так, что совокупность продолжеазует контрольную заштрихованную ость. контролняетсяПред.более п На чертеже показана оптическбора.Дифракционная рся таким образом, чтпример четвертый, пхованную поверхносдолжений образуетванную поверхностьчерез входную щельматического излучен хема бр етен едмет и Спектр альныи прибор решеткой, отличающийся...

Номер патента: 546516

Опубликовано: 15.02.1977

Автор: Шастин

МПК: B62D 57/02

Метки: несущее, передвижения, поверхностям, ферромагнитных, шагающее

...5, которая, в свою очередь, зацепленас зубчатым венцом электромагнита-присоса 6.Электромагнитыприсосы 4 и 6 установлены на вращающихся осях 7 закрепленныхна платф 1 орме 2 по обе стороны от двигателя1, а оси 7 - под углом друг,к другу, причемвершина этого угла направлена в сторону,противоположную опорной поверхности. Рабочие поверхности электромагнитов-присосов4 и 6 взаимодействующие с опорной поверхностью, соответственно перпендикулярныосям 7,При установке устройства на поверхностьпз ферромагнитного материала подается питание на один нз электромагнитов-присосов,например левый 6. Электромагнитчприсос 6притягивается к поверхности, а так хак егорабочая поверхность наклонена к плоскостиплатформы 2 и рабочей поверхности дравого...

Номер патента: 920351

Опубликовано: 15.04.1982

Автор: Шалагин

МПК: G01B 5/22

Метки: кривизны, поверхности, радиуса, сферической, сферометр

...поверхностями 5 и 6 иотсчетное устройство 7,Измерение радиуса кривизны с помощью сферометра осуществляется следующим образом.На контролируемую сферическую.поверхность накладывают сферометрконтактной поверхностье 2 базовойопоры 1. Измерительный стержень. 4доводят его контактной поверхностью5 до контролируеМой поверхности.С отсчетного устройства 7 снимаютпоказания. Затем накладывают сферометр на эту же контролируемую поверхность, но уже контактной поверхностью 3 базовой опоры 1, Иэмерительный стержень 4 доводят его контактной поверхностью 6 до контролируемой поверхности, и с отсчетногоустройства 7 снимают показания,Разность отсчетов является удвоеннымзначением высоты сферического сегмента контролируемой поверхности.Способ...