Способ слежения за линией стыка при электронно-лучевой сварке
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1052355
Авторы: Локшин, Назаренко, Пастушенко, Шаповал
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ 9) (11) БЛИК 15/00 АНИЕ ИЗ 0 АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИ(72) Ю. И. Пастушенко, О. К. Назаренко, В. Е. Локшин и В. И. Шаповал (71) Ордена Ленина .и ордена Трудового Красного Знамени институт электросварки йм. Е. О. Патона(54) (57) СПОСОБ СЛЕЖЕНИЯ ЗА ЛИНИЕЙ СТЫКА ПРИ ЭЛЕКТРОННО-ЛУЧЕВОЙ СВАРКЕ, при котором используют вторично-эмиссионный сигнал, получаемый с двух экранированных коллекторов отраженных электронов с расположениемзон обзора коллекторов и зоны сканирования поискового электронного пучка на поверхности изделия, отличающийся тем, что, с целью повышения точности помехозащищенности путем компенсации сигнала помехи, зоны обзора коллекторов располагают с касанием в одной точке, а зоны сканирования поискового электронного пучка совмещают с зоной обзора одного. из коллекто1052355 Составитель Б. Панов Редактор М. Дылын Техред И. Верес Корректор А. Дзятко Заказ 8741/ О Тираж 11 Об ПоДписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4Изобретение относится к способам автоматического слежения за стыком приэлектронно-лучевой сварке.Известен способ слежения за линией стыка при электронно-лучевой сварке, при котором используют вторично-эмиссионный сигнал, получаемый с двух экранированных коллекторов отраженных электронов с расположением зон обзора коллекторов и зоны сканирования поискового электронного пучка на поверхности изделия 1.Недостатком этого способа является низкая точность и помехозащищенность, поскольку вторично-эмиссионный сигнал содержит как полезный сигнал от свариваемых кромок, так и интенсивный фон помехи, вызванный воздействием на коллекторы потока диффузионно-отраженных электронов; возникающих при работе сварочного электронного пучка.Цель изобретения - повышение точности и помехозащищенности путем компенсации сигнала помехи, возникающей при воздействии потока диффузионно-отраженных электронов от сварочного электронного пучка. Для этого зоны обзора коллекторов отраженных электронов располагают с касанием в одной точке, а зону сканирования поискового электронного пучка совмещают с зоной обзора одного из коллекторов.На чертеже показана схема устройства.Коллекторы 1 и 2 отраженных электронов с измерительными цепями на операционных усилителях 3 и 4 подключены к входам дифференциального усилителя 5. Излучатель 6 с отклоняющей системой 7 выраба) тывает поисковый электронный пучок 8 с зоной сканирования 9, совпадающей с зоной обзора одного из коллекторов (на чертеже с зоной обзора коллектора 2). Зоны обзора коллекторов 1 и 2, определяемые телесными углами 10 и 11, располагают на поверхности изделия 12 так, что они соприкасаются в одной точке, Поток диффузионно-отраженных электронов, возникающий при воздействии поискового электронного пучка, воспринимается только коллектором 2, не попадая на коллектор 1.При работе сварочного электронногопучка на коллекторы 1 и 2 попадают диффузионно-отраженнь 1 е электроны, вызывающие снижение точности при выделении сигнала поискового пучка на коллекторе 2.Сигналы с коллекторов 1 и 2 после преобразования в измерительных цепях 3 и 4 подаются на разнополярные входы дифференциального усилителя 5, в результате 2 О чего сигнал на выходе 13 усилителя отображает разность сигналов коллекторов.Пример. Проводят испытания опытногообразца системы слежения за стыком. При расстоянии в 30 мм между сварочным и измерительным пучками электронов на вы-ходе преобразователя получают сигнал с отношением сигнала к помехе более 10.При сварке устанавливают режимы сварочного пучка впуск. = 60 кэВ, 1 п = 1 А, а ток зондирующего пучка не превышает 1 - 30 2 мА. Предложенный способ позволяет повысить точность слежения за стыком.
СмотретьЗаявка
2644128, 14.07.1978
ОРДЕНА ЛЕНИНА И ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ИНСТИТУТ ЭЛЕКТРОСВАРКИ ИМ. Е. О. ПАТОНА
ПАСТУШЕНКО ЮРИЙ ИВАНОВИЧ, НАЗАРЕНКО ОЛЕГ КУЗЬМИЧ, ЛОКШИН ВИКТОР ЕФИМОВИЧ, ШАПОВАЛ ВЛАДИМИР ИВАНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: B23K 15/00
Метки: линией, сварке, слежения, стыка, электронно-лучевой
Опубликовано: 07.11.1983
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1052355-sposob-slezheniya-za-liniejj-styka-pri-ehlektronno-luchevojj-svarke.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ слежения за линией стыка при электронно-лучевой сварке</a>
Способ контроля распределения мощности пучка электронов электронно-лучевой пушки и устройство для его осуществления
Номер патента: 1588521
Опубликовано: 30.08.1990
Авторы: Безденежный, Ермакова, Кайдалов, Ланкин, Леоненко, Пастушенко, Саморукова, Стрекаль
МПК: B23K 15/00
Метки: мощности, пучка, пушки, распределения, электронно-лучевой, электронов
...14 выдает сигнал включения электронной пушки на рабочий режим, Мощный пучок 21 проходит по пластинам 6 и 7, которые являются датчика 5 10 15 20 25 30 35 40 50 55 ми тока и подключены к формирователю 13, который представляет собой дифференциальный блок. За счет вычитания токов, протекающих через пластины 6 и 7, на выходе формирователя 13 получают сигнал 22, отображающий сечение пучка 21 электронов зазором 8. После прохождения пучком 21 электронов пластины 6 формирователь 14 выдает сигнал перевода электронной пушки 1 в ждущий режим, Формирователь 14 представляет собой усилитель-ограничитель с сумматором на входе. Другим конструктивным решением блока 14 является использование триггера, запуск которого выполняется передним фронтом...
Коллектор вторичных электронов растрового электронного микроскопа
Номер патента: 1056309
Опубликовано: 23.11.1983
Авторы: Васичев, Камунин, Смирнов
МПК: H01J 37/244
Метки: вторичных, коллектор, микроскопа, растрового, электронного, электронов
...экране 3, а допопнительд ный сцинткппятор 4 - окно 5 в экране 6. Оба сцинткплятора подключены к блоку 7 преорбразования. сигнала. На электронно-оптической оси размещен исследуемый объект 8. Входные окна сцинтилляторов распопожены в одной, проходящей через электронно-оптическую ось РЭМ, плоскости 9. Показаны (фиг,2) также траекто рии 10 и 11 медленных вторичных электронов, вышедших с разных сторон исспедуемой обпасти объекта, и траектория 12 быстрых вторичных электронов.Блок 7 преобразования сигнала представпяет собой электронное устройство (например, последовательно соединенные дифференцируюший и интегрируняций блок и сумматор), осуществляющие обработкусигнала с каждого иэ сцинтилпяторов ипоспедукяцее суммирование их значений по...
Электронная пушка для получения пучка медленных моноэнергетических электронов
Номер патента: 1748202
Опубликовано: 15.07.1992
Авторы: Асалханов, Домбровский, Желаев
МПК: H01J 29/48
Метки: медленных, моноэнергетических, пучка, пушка, электронная, электронов
...поло сти диаметром 10 мм на глубину 2 мм так,что внутри цилиндра образована перегородка толщиной 1 мм, по центру которой сделано отверстие диаметром 1,5 мм дляпрохождения электронного луча, Выходнойэлектрод 14 электростатической личзы пристыковывается к коллектору отраженных от образца электронов также с помощью керамических трубок 11 описанным выше способом. Коллектор отраженных электронов представляет собой диск 16 толщиной 1 мм, и диаметром около 30 мм, в центре переходящий в цилиндр высотой 7 мм с наружным диаметром 9 мм, На внутренней поверхно. сти данного цилиндра нарезана сквозная резьба М бх 1, Вторая часть коллектора отражен н ых электроновсостоит из выходного электрода 17 пушки, представляющего собой трубку длиной 15 мм и...
Устройство для определения положения пучка ускоренных электронов
Номер патента: 184988
Опубликовано: 01.01.1966
МПК: H01J 43/02
Метки: положения, пучка, ускоренных, электронов
...подключены к элек троизмерительному блоку, который сравнивает токи вторичных электронов, проходящих через полученные половины электродов. Это позволяет упростить процесс определения и регулировки положения пучка. резаны пополам во взаивных направлениях.Работа устройства основана на эффектевторичной эмиссии. При прохождении пучка 5 ускоренных электронов с каждой из половинэмиттирующих электродов выбиваются вторичные электроны, число которых прямо пропорционально числу первичных, прошедших через данную половину. Направление смеще ния пучка определяют, сравнивая импульсныепли средние токи, проходящие через каждую половину эмиттерных электродов.Толщина фольги, из которой изготовленыэмиттирующие и собирательные электроды, 15 должна быть...
Электростатическое устройство для модуляции тока электронного пучка
Номер патента: 917236
Опубликовано: 30.03.1982
Авторы: Беляев, Дюков, Меерович
МПК: H01J 29/52
Метки: модуляции, пучка, электронного, электростатическое
...положения инаправления электронного пучка, содержит дополнительную пару пластин,при этом все четыре пары последовательно расположенных плоскопараллель 6 4 ронный пучок 6, причем поля в первой и четвертой парах пластин равны по величине и противоположны по знаку полям во второй и третьей парах.Вначале электронный пучок отклоняется полем первой пары пластин на некоторый угол, приобретая радиальную составляющую скорости по направлению к пластине с положительным потенциалом; поле второй пары пластин, нап:равленное в противоположном направлении, уменьшает радиальную составляющую скорости до нуля на выходе из второй пары пластин, где отклонение электронного пучка максимально, Попадая на вырезывающую диафрагму, расположенную в плоскости...
Предыдущий патент: Устройство для дуговой сварки с подачей гранулированного присадочного материала
Следующий патент: Способ электрошлаковой сварки
Случайный патент: Линия пайки погружением