Устройство для определения толщины слоя, выпавшего в пульпопроводе землесосной установки из транспортирующей пульпы материала

Номер патента: 1758413

Опубликовано: 30.08.1992

Авторы: Зубко, Кулеш, Лугаков, Сакович, Франюк

МПК: G01B 7/00, G01N 27/90

Метки: металлических, поверхностных, слоев, толщины

...согласно способу частотывыбирают по глубине проникновения так,что один раз вихревые токи в изделии возбуждают в слое, заведомо меньшем, чемначало переходного слоя, а другой раз - взаведомо большем, чем глубина переходного слоя.Повышение точности контроля толщины металлического поверхностного слоядостигается эа счет выбора месторасположения катушек для измерения тангенциальной и нормальной составляющейпеременного магнитного поля, а также засчет выбора частот подмагничивания одной с глубиной, заведомо меньшей глубины проникновения переходного слоя. а другой - заведомо большей глубины переходного слоя, что позволяет отстроиться от влияния самого переходного слоя на показания толщины металлического поверхностного слоя.На чертеже...

Номер патента: 1057901

Опубликовано: 30.11.1983

Авторы: Лухвич, Мелешко, Рудницкий, Шукевич

МПК: G01R 33/12

Метки: магнитных, поверхностных, слоев, толщины

...зависит от содержания 35магнитной Фазы в исследуемом металле 12 .Вследствие того, что конструкциямагнита не позволяет регулировать глу-,бину намагниченного слоя, на показания 40прибора при измерениях оказывает влия"ние ферромагнитная основа иэделий.Поэ-тому понижаются чувствительность иосо-бенно точность измерений в тонкихнаправленных слоях и ограничиваетсяобласть применения известного устройства,Цель изобретения - повышение точности измерения.Поставленная цель достигается ф ; 50 тем, что в устройстве для измерения толщины магнитных поверхностныхслоев, содержащем рычаг с уравно" вешенным противовесом постоянным магнитом и спиральную пРужину, пос тоянный магнит выполнен из двухчастей, установленных соосно одна иад другой на регулируемом...

Номер патента: 1206677

Опубликовано: 23.01.1986

Авторы: Лухвич, Рудницкий, Шукевич

МПК: G01N 27/72

Метки: магнитных, поверхностных, слоев, толщины

...4 2 О может служить хром, нанесенный гальваническим путем. Ее толщина выбирается из следующих условий;25 0 усом 2 мм лщину ни Постоянный магни ать ет контролиро покрытий с в е 2-300 мк позвол келевь очностьюолщине с 0,05(сЕПетсисим зон00 в диапсвышение от тклонети силы на акс)ф ( инеиности за ия - толщина а показания шарового сегмента радиу мм- толщи- намаг посто тяж яжения в а оболочки, мм;иченность материаланного магнита, кАм параметро:.ективно итно чесме яниягнитного магнита покрыт ичивание лем. Кр аняет отя, что обеспечива покрытия более од ме того, оболочка т намагородным редохизноса по эксплуат ы немагни овия отст тоянныиции. Нижной обол агнитий прев про дел толщи ран из ус шероховат чки вы влиян ти...

Номер патента: 1737261

Опубликовано: 30.05.1992

Авторы: Арешкин, Иванов, Федорцов, Федотова

МПК: G01B 11/06

Метки: бесконтактного, полупроводниковых, слоев, толщины, эпитаксиальных

...слое или в подложке вследствие различия их электрофизических свойств. Область генерации неравновесных носителей зависит от глубины проникновения инжектирующего излучения в структуру, т. е, от его длины волны. Снимают спектральную зависимость изменения интенсивности прошедшего через структуру или отраженного ею зондирующего излучения от длины волны дополнительногоизлучения, фиксируют длины волны1 определяющую спектральное положение перехода величины изменения интенсивности от значения, характерного для подложки, к значению, характерному для эпитаксиального слоя, и по заранее построенной градуировочной кривой определяют толщину эпитаксиального слоя И/.На фиг. 1 изображена эпитаксиальная структура; на фиг. 2 - зависимость...

Номер патента: 79238

Опубликовано: 01.01.1949

Авторы: Дерягин, Кудрявицкий, Леви

МПК: G01B 7/06, G05D 5/03

Метки: нанесения, светочувствительного, слоя, толщины, фотопленку

...подложкиливной кюветы), а вторая пстнн - измерение суммы толнесенного слоя эмульсииложки.Разность измеряемых толщин иесть собственная толщина эмульсионного слоя,Разность эта получается авттически при помощи двух котельных контуров, направленных навстречу один другому и настроенныхна колебательную частоту общегогенератора. Отсчет производится поизмерительному прибору, включенному в цепь контуров,Если Обозначить черезС 0 и С - соответствующие емкостиконденсаторов,т, и Т, - соответствующиетрические проницматериалов,62 - искомую толщину эмульсионного слоя,79238 92 Измерительный прибор состоит из лампового генератора и двух колебательных контуров с пластинами конденсаторов 1 и 2, настроенных в резонанс.Между обкладками конденсаторов...