Способ измерения концентрации электронов в плазме

Номер патента: 425229

Авторы: Евграфов, Иванчиков, Маколкин, Старостин

ZIP архив

Текст

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советскии Социалистицеских Республик(32) ПриоритетОпубликовано 25.04.74. Бюллетень15 Государстаеииый комитет Совета Мииистроа СССР по делам изобретеиий и открытий) СПОСОБ ИЗМЕРЕ ЭЛЕКТРО НОпример, по пилообразному за фазу отраженного излучения. жения сдвига фазы отраженн 90 фиксируют частоту зонд волны и определяют концепт нов в плазме из соотношения кону и измеряют В момент дости ого излучения на ирующей радио рацию электро ентрации -сигнала, плазмы зменении- . - = 2)48 10 -/ (см -4 еф где т и е - соответственно масса и электрона, о - угловая частота и / - ческая частота зондирующей радиово герцах. ет недостаточрений в магниах и ударных двух параметлиы в дмет изобретения Способ изм в плазме, вкл 20 плазмы зонди менении его ч что с целью п измерений, ф фаза отражен 25 и по этой час тронов.юв ерения концентрации электр ючающий прием отраженног рующего СВЧ-излучения пр астоты, отличающийся овышения точности и упрощ иксируют частоту, при кот ного СВЧ-излучения равна тоте судят о концентрации э и изтем,енияорой90,лекИзобретение относится к электротехнике и может быть использовано для диагностики плазмы в магнитогазодинамических устройствах и ударных трубах.Известен способ измерения концэлектронов в плазме по отсечке СВЧвключающий прием отраженного от зондирующего СВЧ-излучения при иего частоты,Однако известный способ даную точность в условиях изметогазодинамических устройствтрубах и требует регистрацииров плазмы.Целью изобретения является повышение точности и упрощение измерений.Для этого фиксируют частоту, при которой фаза отраженного СВЧ-излучения равна 60, и по этой частоте судят о концентрации электронов.Способ измерения концентрации электронов в плазме осуществляют зондированием направленными радиоволнами СВЧ-диапазона и измеряют отраженное от плазмы электромагнитное излучение. При этом частоту зондирующих радиоволн изменяют дискретно или, на 111 425229 51) М, Кл. Н 011 т 1/00Н 01) 23/24 Н 051 т 1/1801 3/34

Смотреть

Заявка

1707500, 21.10.1971

И. А. Евграфов, Н. Н. Иванчиков Маринский, Е. В. Маколкин, Г. Н. Старостин

МПК / Метки

МПК: G01J 3/32, H01H 1/00, H01J 23/24, H05H 1/18

Метки: концентрации, плазме, электронов

Опубликовано: 25.04.1974

Код ссылки

<a href="https://patents.su/1-425229-sposob-izmereniya-koncentracii-ehlektronov-v-plazme.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения концентрации электронов в плазме</a>

Похожие патенты