416247

Номер патента: 1222522

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Бейлина, Горбунов, Данилова

МПК: B24D 3/34

Метки: алмазного, корпуса, круга, масса

...алмазного инструментасодержит смолу, алюминий и ферросилиций при следующем соотношении ингредиентов, мас.7.: алюминий 60-80,ферросилиций 5-25, смола остальное,Смола может быть фенольная, поли-.имидная, эпоксидная и др.Экспериментальные исследованияпоказали, что введение ферросилицияв полимерную композицию улучшаетоднородность композиции по сравнениюс известной (использование железа и металлов группы железа и их сплавов), Это объясняется тем, что плотность ферросилиция в 2-3 раза меньше, чем железа и его аналогов, и более близка к плотности смолы, что обеспечивает однородность массы при перемешивании, .По этой же причине масса корпуса, изготовленного из композиции с ферросилицием, в 2-3 раза мен 1 ше, чем корпуса из композиции с...

Номер патента: 557246

Опубликовано: 05.05.1977

Авторы: Верещагин, Лазарев, Литвинов, Шнайдер

МПК: F26B 21/00

Метки: вязких, продуктов, процесса, сушки

...на регулятор вакуума 8 связанного с клапаном 9, Датчик усредненнойтемпературы 6 также подключен ко входу устройства 10, оценивающего величинуразности усредненной температуры и формирующего дискретные сигналы задания длярегулятора расхода 4.Способ осуществляется следующим образом,Пары легколетучих компонентов из ректора 1 поступают в холодильник 2, гдеконденсируются. Расход конденсата из холодильника 2, измеряемый расходомером 3,подается на вход регулятора расхода 4,управляющего клапаном 5 на линии подачипара в рубашку реактора 1.В реакторе одним из известных способовизмеряется усредненная температура, От датчика усредненной температуры 6 сигнал подается на вход устройства 7, дифференцирующего этот счгнал (определяющего скорость его...

Номер патента: 439303

Опубликовано: 15.08.1974

Авторы: Клешков, Нечаева, Павленко, Рафальсон, Цымберов, Шутов

МПК: B01D 59/44

Метки: масс, масс-спектрометр, разверткой, спектра, электростатической

...дискриминации ионов по массам,Конструкция источника ионов, работающего в не изменяющихся условиях для всех ионов, обеспечивает равные наиболее эффективные для данного источника ионов условия образования, вытягивания, формирования и ускорения ионов, а развертка масс-спектра осуществляется дополнительным специальным электродом, на который подается напряжение сканирования и расположенным в анализаторе за ускоряющим электродом источника ионов.Такая конструкция анализатора приводит к получению пучка ионов из источника одинаковой интенсивности и формы, независимо от массы исследуемого вещества, Полученный таким образом пучок ионов входит в область между ускоряющим электродом источника ионов и сканирующим электродом (электродом, определяющим...

Номер патента: 1228161

Опубликовано: 30.04.1986

Авторы: Колотилин, Овчинников, Самодуров, Чердаков, Шеретов

МПК: H01J 49/40

Метки: анализа, ионов, масс, масс-спектрометрический, спектрометр

...постоянное напряжение, меньшее потенциала катода источникаэлектронов, л с выхода 17 на другуюсетку подается импульсное напряжениеБ. Первая сетка служит для предотвращения попадания электронов изионного источника в пролетный анализатор, а вторая - для предотвращения попадания ионов из ионного ис"точника в пролетный анализатор вовремя процесса накопления ионовнокаол )(ТСпособ реализуется с помощью указанного устройства следующим образом.В течение времени С , (либо втечение части его) в ионйый источниквводят ионизирующий электронный поток.В течение этого времени ионы накапливаются в ловушке и при правильном выборе параметров питающего напряженияП и У сортируются. При этом ионнаяловушка настроена на те же ионы, чтои пролетный...

Номер патента: 512419

Опубликовано: 30.04.1976

Авторы: Борнгардт, Ланин, Павленко, Разников, Тальрозе, Фридлянский, Шутов

МПК: G01N 27/62

Метки: высокого, масс-спектра, массы, пиков, разрешения

...автономной регистрации спектров на магнитной ленте, накопители 27, 28 на магнитной ленте, ЭВМ 29, блок 30 программного управления устройством.Устройство работает следующим образом.Анализируемое вещество вводится с помощью устройства 4 прямого ввода пробы в источник 5 ионов, ионизируется электронным ударом и в виде пучка ионов направляется в масс-анализатор 6, где происходит разложение пучка на компоненты с одинаковым отношением массы к заряду. Ионы регистрируются системой 7 регистрации ионных токов, а в массовое число определяется при этом датчиком 8 масс. Высокий вакуум в масс-анализаторе поддерживается вакуумной системой 3, управляемой от пульта 2 автоматического управления, через который по сигналу от блока 30 программного управления...