Способ определения чистоты органическихвеществhatebtiin. exrieiilбиблиотека

Номер патента: 1043539

Опубликовано: 23.09.1983

Автор: Мещерин

МПК: G01N 25/04

Метки: вещества, плавления, твердого, температур

...с помошью низко.омного потенциометра ПМСи самопишушегопотенциометра ЭПП - 17 мз, реконструированного на чувствительность 0,016/мм диаграмнойленты.Расплавившееся на внешней поверхности об.разца вещество, дренируя сквозь образец и вызывая плавление по всей внутренней его по 1верхности, вытекало из образца, тогда какплавящееся в газовой среде твердое вещество находилось в контакте с датчиком,Через одну минуту после начала нагревания, в течение 3,5. мин самописец регистрировал строго горизонтальный, в пределах тол.шины пера, участок кривой плавления, отвечающий температуре 52,70 С, еше через минуту вещество расплавилось,П р и м е р 2. Было проведено измерение температур плавления малеинового ангидрида марки ч.д,а., изготовленного .в 1968...

Номер патента: 123755

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Киселев

МПК: G01N 25/04

Метки: веществ, застывания, плавления, пленкообразующих, температуры

...требуется для предотвращения оседания пузырьков воздуха на внутренних стенках стакана, которые мешают вести наблюдение). В стакане, в центре объема воды, устанавливают термометр. Подогрев воду до температуры, несколько превышающей температуру плавления вещества, в цее погружают кусочек последнего весом до 1 г, который расплавляется и на поверхности воды образует тонкий слой. На края стакана устанавливают отдельную проволоку, опускают з;такан подготовленнук проволоку с кольцом на конце и подвешивают ее на отдельной проволоке, находящейся на стакане (центр кольца устанавливаот против ртутного резервуара термометра). При погружении кольца в воду и прохождении его через расплавленный слой вещества на кочьце в силу поверхностного натяжения...

Номер патента: 283681

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Библ, Варламов, Манакин, Одесский, Тонконогий

МПК: G01N 25/04

Метки: веществ, плавления, смеси, температур

...В матрице по диагонали выполнен паз для установки шторки 2, по горизонтали нанесена шкала состава и по вертикали - шкала температуры. Матрица установлена на нагревателе д - массивной пластине размерами больше матрицы, один конец ко торой нагревается, а другой охлаждается,Для получения линейного температурного поля к пластине можно подключить дополнительные источники тепла.В диагональный паз матрицы устанавли вают шторку и сдвигают вправо до упора,при этом выступы шторки перекрывают пазы матрицы, образуя две изолированные половины. В каждую половину матрицы заливают в расплавленном виде компоненты исследу емой смеси. Затем шторку сдвигают влево доупора, соединяя между собой пазы обеих половин, и с помощью гребенки 4 перемешивают...

Номер патента: 616598

Опубликовано: 25.07.1978

Авторы: Гольдберг, Царенков

МПК: G01R 31/26

Метки: металла, плавления, полупроводника, температуры, эвтектики

...температуру, при которойвольт-амперная характеристика имеетформу прямой линии,На фиг, 1 изображена кривая, характеризующая ток-напряжение при низкойтемпературе; на фиг.2 - то же, в момент образования омического контакта,т.е. при температуре, соответствующейтемпературе плавления эвтектики.Предлагаемый способ измерения осуществляется следующим образом.На чистую поверхность исследуемогополупроводника , с предварительно иэготовленньи к нему смическим контактом, наносят металл. Структуру616598 тонкими слоями металлов, так как назависимость тока от напряжения структуры металл-полупроводник не влияеттолщина слоя металла,Формула изобретения Источники информации, принятые вовнимание при экспертизе: 1. Захаров А.М. Диаграммы состояния...

Номер патента: 911279

Опубликовано: 07.03.1982

Авторы: Зелепуга, Карпенко, Тюкаев, Шашков

МПК: G01N 25/20

Метки: веществ, газа, давлении, избыточном, свойств, температуре, тепловых

...для измерения тепловыхсвеастэ веществ при температуре доЗОООС и избыточном давлении газа, 60 котороеможет быть порядка-нескольких десятков ИПа, работает следующим образом.Образец 12 исследуемого веществапри снятой с камеры .1 крышке 9 устанавливается на чашку керна 20, который своим основанием опирается наконсольную балку 19 с наклеенными на нее тензодатчиками 18.Для предотвращения прогиба консольной балкц 19 ее фиксируют нижним арретиром 21. После этого камера эакрывается крышкой 9 и герметиэируется путем затяжки шпилек, соедиНяющих крышку 9 и основание 10 камеры 1 (фиг. 2)Для очистки камеры 1 и газовых магистралей от возможных загрязнений устройство вакуумируют, после чего обеспечивают достижение требуемого в эксперименте...