302856

Номер патента: 670868

Опубликовано: 30.06.1979

Автор: Белов

МПК: G01N 25/32

Метки: качества, металла, неразрушающего, поверхностного, слоя

...судить по величине суммарной термо-ЭДС на детали, сравнивая ее с суммарной термо-ЭДС ца эталоне из того же материала, обработанного по тому же режиму, который предусмотрен технологией для контролируемой детали, при этом эталон исследуют известными лабораторньвщ методами.При гиздичии близлежащих к обработанному участку поверхности детали участков необработанной поверхности контролирусмой детали,и при возможности его получения целесообразно для единого температурного поля в двух группах электродов заключать их в единый нагреватель 7, при этом влияние изменений температурного поля сводится к минимуму и конструкция датчика упрощается, а в схеме поддеркания точного значения температур электродов нет необходимости. Для более полного устранения...

Номер патента: 847001

Опубликовано: 15.07.1981

Автор: Бабушкин

МПК: G01B 7/06

Метки: cko-рости, металла, слоя, толщиныстравливаемого, травления

...наположение микрометрического винта 3.5Устройство работает следующим образом.При помощи крепежной скобы 1 оно крепится к обрабатываемой детали 2 таким образом, что в первоначальном положении сосуд 8 касается обрабатываемой детали 2. По шкале .15, вращая микрометрический винт 3, устанавливают коническую головку 4 на расстоянии от поверхности детали 2, равном толщине калиброванного кольца 15 за вычетом величины снимаемого слоя металла. Опускают обрабатываемую деталь 2 в травильный раствор и устанавливают ее вертикально, Выделяющийся в процессе травления газ заполня- Я ет нижнюю часть сосуда 8 и, через отверстия 14, попадает в сосуд, вытес няя иэ него раствор., По мере стравливания металла асимметрично закрепленный сосуд 8 под...

Номер патента: 603702

Опубликовано: 25.04.1978

Авторы: Бабушкин, Соколова, Тиммерман

МПК: C23F 1/08

Метки: металла, слоя, стравливаемого, толщины

...11. Защите контактов 9,10 от действия агрессивного раствора осуцествляется чехлами 12, изготовленными из З 5тонкой разинь, Крепежная скоба 2 выполненатак, что контролируемый участок металла 4жестко зажат между прижимами 1 и в процессе травления не деформируется, Нв направляющей 3 нанесена шкала 13 толшин на фтребуемуо толщину стревливвемого слоя металла 4.Работа устройства происходит следующимобразол. 11 еред началом контроля контакты10 устанавливаются по шкале 13 на требуе-ф 5л:ую величину снимаемого слоя. Затем припсмошн скобы 2 устройство вертикально крепится на технологическом припуске обрабатываемого металла 4, поплавок -колокол 7при этом находцтся в верхней части напоав- "ляюшей 3, а клапан 8 не касается контактов 9. 1:онец...

Номер патента: 722407

Опубликовано: 15.04.1989

Авторы: Безуглов, Пекарский

МПК: G01B 15/02

Метки: композиции, металл, металла, пластмасса, слоя, толщины

...изоляцией.Цель изобретения - и ние толщины стенок заполненных трубопроводов с изоляцией.Для этого по пр способу предварительно ежду кон тролируемым объект иустройством дополнительный слой пластмассы. толщиной, обеспечивающей максимальную интенсивность регистрируемого гамма-излучения, по величине которой судят о толщине слоя металла.Экспериментально было установлено, что регистрируемый поток гамма-из- лучения радиационного захвата медленных нейтронов слоем металла возрас 10 тает с увеличением толщины слоя пластмассы (при данной толщине слоя металла) до определенного максимального значения, а при дальнейшем увеличении толщины пластмассы происходит очень медленный спад регистрируемого потока гамма-излучения в ши-, роком диапазоне толщин...

Номер патента: 792271

Опубликовано: 30.12.1980

Автор: Данилов

МПК: G06K 9/00

Метки: диэлектрической, контура, металлизированного, подложке, полупроводниковой, рисунка, слоя

...подложке,заключающемся в формирова. нии сигнала зондирования при сканировании рисунка и регистрации отраженного светового потока, его сканирование осуществляют пучком линейно-поляризованного света, вектор электрического ноля которого параллелен плоскости подложки, а угол падения соответствует утлу Брюстера.Сущность изобретения состоит в использова. иии явления поляризации при отражении света от полупроводниковых и диэлектрических материалов. Известно, что свет представляет собой электромагнитные волны. Векторы напряженностей Е и Й электрического и магнитных полей этих волн колеблются перпенди 30 кулярно друг к другу и вектору скорости распространения волны 7, т,е. электромагнитные волны являются поперечными.Если вектор Е в...