Иммерсионный способ измерения показателей

Номер патента: 707739

Опубликовано: 05.01.1980

Автор: Сычев

МПК: B23K 37/04

Метки: диафрагм, изделия, полые, установки

...на внутреннихстенках блока перемещения диафрагмв осевом направлении станет невозможным.Целью изобретения является снижение трудоемкости сборки прИ устаНовкедиафрагм в изделия коробчатого сечения,Поставленная цель достигаетсятем, что механизм для перемещениядиафрагм оснащен кронштейном с шаровой опорой, стол смонтирован на упо,мянутой шаровой опоре, а механизмдля наклона стола выполнен в видеустановленных на кронштейне четырехвинтов, расположенных по окружностина.равном расстоянии от шаровой опоры, при этом механизм центрированияустройства внутри изделия выполненв виде смонтированных на механизмедля перемещения диафрагм ползунов,концы которых снабжены роликами.На фиг.1 изображено устройствов разрезе, общий вид; на фиг.2.разрез...

Номер патента: 1272205

Опубликовано: 23.11.1986

Авторы: Зарембо, Карпачев

МПК: G01N 27/82

Метки: величины, внутреннего, кристаллов, магнитного, магнитоупорядоченных, неоднородности, поля, структуры

...точностью до ЛН. Изменение амплитуды прошедшего импульса А - А(НЦ. аН ь 2, где А, амплитуда вдали от резонанса, А(Н) амплитуда при данном значении поля. Если Р(2) - функция распределения внутреннего поля в направлении распространенна звука, то у(Н) 1 1 А, -А1 с 1 = 2(Н). Обратная функция 2 (Н) дает одномерное распределение внутреннего поля в направлении распространения звука. Таким образом, способ заключается в определении с помощью акустической волны и линейно меняющегося магнитного поля спектра магнитоакустического резонатора (зависимости амплитуды прошедшего импульса от внешнего поля А(Н), интегрировании этого спектра и определении обратной функции, представляющей собой распределение внутреннего поля на половине длины кристалла....

Номер патента: 236062

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Акчурин, Апариси, Тепл, Шатов

МПК: G01J 5/60

Метки: изл1ерения, температуры

...монтажа и оперативного вмешательства в процесс измерения.Оптико-механическая система микропиромстра состоит цз двух ветвей. Первая ветвь включает фотографический объектив 7, формирующий четкое изображение образца 8 в плоскости подвижной диафрагмы 9 поля зрения, которая совмещена с полевой диафрагмой 10. Перемещение подвижной диафрагмы 9 обеспечивается микрометром 11 с соответ ствующей фиксацией положения измеряемого) ) Г 1 л 1Ч 1,7Лучастка на облучасмой стороне образца 8. Кон,Спсагорь) 1) обеспечивают трапсформироыапнс светового пучка в плоскость обто)а- тора 1,3, снабжен,ого двумя сысгофильтрами, назначение которого совмсс 1 но с ненодыижныъ Кад)оыыъ Окном 14 35 к)почве 05 Б формировании цветовых импульсоы треугольной формы в плоскости...

Номер патента: 680901

Опубликовано: 25.08.1979

Авторы: Григорьев, Кобозев, Наджаров, Смиреннова

МПК: B29H 5/02

Метки: вулканизации, пневматических, покрышек, формования, шин

...кольцом пресс-Формы диафрагму,привод управления ею с поршнем и полым штоком, на котором закрепленаголовка подачи теплоносителей, связанная с нижним бортом диафрагм,авнутри которого расположен шток соединенный с верхним бортом диафрагмы, замковый механизм для соединения цилиндрической направляющей с приводом диафраги, замковый механизм выполнен в виде силовых щтанг, жестко закрепленных на головке подачи теплоносителей и выполненных с кольцевыми кан анк ами, нз аимодей ст вующими с поворотной шайбой, которая связана с цилиндрической направляющей.На фиг, 1 изображено устройство в процессе нулканизации; на Фиг2 разрез А-А на Фиг, 1; на Фиг, 3 шайба поворотная; на Фиг, 4 - разрез ство после выведения диафрагмы из нулканизон анной покрышки; на...

Номер патента: 717985

Опубликовано: 23.04.1981

Авторы: Бердиков, Григорьев, Иохин

МПК: G01N 23/223

Метки: рентгенорадиометрическогоанализа, флюоресцентного

...анализа между пробой и детектором вокруг кристаллов установлен конвертер в форме цилиндрической поверхности, выполненный из такого материала, что энергия его К-излучения меньше энергии излучений анализируемых элементов, Флюоресцентное излучение конвертера возбуждается, в основном, рассеянным излучением пробы, поэтому наличие пиков излучения конвертера в регистрируемом спектре позволяет получить информацию об интенсивности рассеянного излучения и ввести поправку на эффект матрицы пробы с помощью метода спектральных отношений. В то же время под пиками анализируемых элементов не возникает добавочного фона, так как энергия излучения кон." Фь .ю. фф Е-ЕГ .ф7179 а 5 Составитель В, Ромашкодактор Е. Месропова...