Способ обработки хрупких кристаллов

Номер патента: 113651

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Инютин, Яковлев

МПК: G01B 21/32

Метки: внутренних, деталях, исследования, конструкций, механических, напряжений, элементах

...эпоксидной массы длятся: эпоксидная смола ЭД, малеиновый ангидрид и113651Внутренняя поверхность гипсовой формы оклеивается оловянистойфольгой посредством латекса. Фольга предохраняет эпоксидную массу от загрязнения гипсом и препятствует образованию пузырей. После изготовления форму просушивают. В изготовленную форму устанавливают в необходимых точках проволочные чензометрические датчики (см, чертеж). Концы проволоки от датчиков выводят в отверстия в стенках формы; после установки датчиков отверстия заделывают. Малеиновый ангидрид и очищенную эпоксидную смолу подогревают до 80, смешивают, и полученной массой заливают форму. Залитая в форму эпоксидная масса подвергается отвердению в термостате при температуре 80 в течение 24 часов. После...

Номер патента: 1073669

Опубликовано: 15.02.1984

Автор: Набок

МПК: G01N 27/00

Метки: внутренних, напряжений, остаточных, проволоке

...проволока, удовлетворяю-. щая требуемым, например техническими условиями, внутренним остаточным напряжениям, причем для нее опред ление этих напряжений произведено иными способами, например согласно способУ электрОхимического травления нагруженного образца проволоки.На Фиг. 1 изображена блок-схема установки для осуществления предлагаемого способа контроля остаточных внутренних напряжений в Образце проволоки, где показаны источник 1 элек" трического тока, ключ 2,. клеми 3, испытываемый образец 4 проволоки, на Фиг. 2 изображены эталонный образец проволоки (аи тот же образец, деформированный электрической силой 3 7 И ПЛОТНОСТЬЮ 3 э 7 р ПрИчем ВОЗНИК- шйе при этом дефОрмации в Виде бусинок имеют плотность расположения по длине образца. Р...

Номер патента: 540192

Опубликовано: 25.12.1976

Авторы: Мокшанов, Шипилевский

МПК: G01N 3/20

Метки: внутренних, напряжений, покрытиях, прибор

...съемного держателя с основанием обеспечивает постоянство их взаимного расположения при повторных установках, например с помо щью конических поверхностей.Кроме того, на основании 1 закреплены: механизм для задания пары поперечных образцу сил, включающий два микрометрических упора 4 и 5, установленных в изоляционных 15 втулках 6, и нагружающий узел, включающий микровинт 7 для перемещения динамометра 8 по направляющим 9.Прибор имеет индикатор равновесия, в который входят сигнальные лампочки 10 и 11, 20 электрически соединенные с микрометрическими упорами 4 и 5, а также источник тока 12, присоединенный к основанию и лампочкам.Прибор работает следующим образом. 25 Испытываемый образец 3 закрепляется в держателе 2, последний...

Номер патента: 502282

Опубликовано: 05.02.1976

Авторы: Баранский, Галкин, Климов, Коломоец, Левинзон, Шаповалов

МПК: G01N 3/00

Метки: внутренних, кристаллах, напряжений, полупроводниковых

...достигается тем, что испытуемый образец подвергают одноосному сжатию вдоль определенного кристаллографического направления, измеряют величину удельного электро- сопротивления по этому направлению в функции от напряжения сжатия, и по средней величине смещения линейного участка этой зависимости для испытуемого образца относиалкин, В. А. Климов, В, В. Коломоевинзон и В, П. Шаповалов линеиного участка тои же зависимосятой для контрольного образца, судят ошении напряжений в этих образцах, ертеже изображены графики исследуевисимостей. Согласно предложенномуконтроль осуществляется путем изя для сравниваемых образцов зависиудельного сопротивления от приложенешнего механического напряжения при ом сжатии. Затем для каждого обстроят график...

Номер патента: 1109579

Опубликовано: 23.08.1984

Авторы: Пинчук, Рогачев, Харитонов

МПК: G01B 7/24

Метки: внутренних, композиционных, материалах, напряжений, полимерных

...напряжения сжатия и растяжения,Введение в образец мелкодисперсного ферромагнитного наполнителя позволяет использовать в качестве параметра, чувствительного к внутренним напряжениям, частоту резонансного поглощения ЯМР, величина которой определяется внутрикристаллическим локальным магнитным полем, зависящимот механических напряжений. Чувствительность используемого импульсногокогерентного метода ЯМР достаточновысока и позволяет обнаружить в 1 смобразца 10"ф -10 резонирующих ядер,Это составляет (10-10) часть отвсех атомов в 1 см. Точность измерения резонансной частоты 0,005, Мелкодисперсный ферромагнетик (дисперс 1 ностью5 10-10 фм), являющийсячувствительным к внутренним напряжениям элементом, служит или в качест=ве наполнителя в...