Способ изготовления нейтрального светофильтра с переменной оптической плотностью

Номер патента: 1445885

Опубликовано: 23.12.1988

Авторы: Карпенко, Рекис, Русецкий

МПК: B23K 11/10, B23K 31/02

Метки: деталью, контактной, односторонней, плоской, проводника, сварки

...давление, направленное вдоль оси каждого из электродов 5 и 6, и включают сварочный ток 1 св, который в зоне сварки проходит по трем направлениям: вдоль петли 4, через. образованный электрический контакт между ветвями пет 50 ли 4 в месте установки торцов электродов 5 и 6, и через контактную площадку 2 на участке между ветвями петли 4 . Материалы нагреваются, происхо-: дит осадка проводника 1 под торцами электродов 5 и б, вдоль оси этих электродов, й процессе осадки участки проводника 1, находящиеся под торцами электродов 5 и 6, проскальзывают по поверхности контактной площадки 2, также нагретой до температуры пластической деФормации, во встречном направлении.В процессе сдвига происходит очистка контактирующих поверхностей от оксидных и...

Номер патента: 85536

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Качкачева

МПК: G03B 27/72, G03B 33/00

Метки: излучения, плотностей, прибор, светофильтров, спектра

...В ЗЯВИСИМОСТИ ОТ ЦВЕТЯ УСТЯНЯВЛИВЯЕТСЯ ЯДИТИВНЫЙ ФИЛЬТР, ДОИОЛНЯ 10 ЩИЙ ИСПЫТУЕМЫЙ фИЛЫР, И РУЧКОЙ ПОТСНЦИОМЕТРЯ 7 УСТЯНЯВ,ВЯЕТСЯ СТРЕЛКЯ Га;ЬВЯИОМЕТРс 1 Ия произвольном деле ии. Отмстив показание гяльваиометра и убрав фильтр, вдвцгают ио направляющим 12 стандартную линейку 1) с фИ.ЬТ 1)с)И 4 Рс 1 ЗЛИЧНЫХ ПЛОТНОСТЕЙ ДО ТСХ ПОР, ПОКЯ СТРСЛКЯ ГЯ;ЬВЯ- номстря нс достигнет отмеченного положения. Прочитанная ня линейке плотность будет в точности соответствовать испытуемой.Определение плотности серых фильтров производится таким же образом, как и предыдущих, только без пр:,мснсния адитивных фильтров.Определение средней Г,Еоти)сти негативной планки Гр)Езводитс 5 В)ССТС С ПРЕДЕЕЯЗНЯЕИНЪМИ ДЛ 51 ИСс 13 ТИ СУОТ)ЯКТИВНЫМИ фи:1 ЬТРЯМИ ПУТЕМ...

Номер патента: 241700

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Гребень, Кедра, Марец, Оранский, Прудвиблох, Сорока, Траубе

МПК: G01B 11/06

Метки: изделие, нанесения, пленки, процессе, толщины

...ячейки 10 И соединен с выходом усилителя 9, другой - с,выходом задатчика 7, а выход - с иополнительным орга ном б.Источник 1 света .выполнен в виде ихопульсной лампы с приспособлением для ее завтуска, выключающим датчик 11 положения свидетеля и блок 12 задержки начала измерения, свя занный с этим,да,тчиком.Свидетель 8 и катод 18 установлены накассете 14, при вращении которой происходит нанесение пленки на них пульверизатором 15.Работает предлагаемое устройспво следую 25 щим образом.При прохождении овидетеля 8 возле источ,ника 1 света срабатывает датчик 11, запускающий источник света и одновременно,включающий блок 12. Из источника света выходят З 0 два потомака лучистой энергии один из кото241700 Предмет изобретений Составитель М. Б....

Номер патента: 241701

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Кедра, Прудвиблох

МПК: G01B 11/06

Метки: изделие, нанесения, пленки, процессе, толщины

...способу; на фиг. 2 - измерительный импульс; на фит. 3 - разностный импульс; на фиг. 4 - элементарный положительный импульс,Контроль толщины пленки в,процессе еенанесения,на катод согласно предложенному способу осуществляют следующим образом.Короткими периодическими вспышками 5 света освещают эталон и свидетель. Эталонный импульс (см, фпг. 1) является постоянньвм по величине и полярности. Измерительный импульс (см. фиг. 2), прошедший через свидетель, находится в противофазе эталон ному и уменьшается (по абсолютному значению),по мере увеличения оптической плотности (или толщины) наносимого слоя.Вследствие этого, разностный импульс (см.фиг. 3) также уменьшится. При каждой 15 вспышке производится измерение величиныразностного импульса...

Номер патента: 737817

Опубликовано: 30.05.1980

Авторы: Комраков, Шапочкин

МПК: G01N 21/46

Метки: диэлектрических, интерференционный, переменной, пленок, показателя, преломления, толщины

...того, уточняющим признаком способа является то, что изменение угла падения освещающего пленку пучка осуществляют в плоскости, параллельной ингерференционным полосам в пленке и перпендикулярной ее поверхности.В этом случае наблюдаемое изменение ширины полосы полностью обуславливается изменением угла падения световых лучей на пленку и не требуетсявведения дополнительных поправок, учитывающих проекционные искажения интерференционной полосы.Способ позволяет определить показатель преломления в пленках переменной толщины не измеряя оптическую толщину пленки ни в одной ее точке. Однако, если оптическая тблщина пленки иэвестна в какой-нибудь ее точке с погрешностью не превышакщей величины, соответствующей одному порядку интерференции...