Способ горизонтальной электрошлаковой наплавки

Номер патента: 1670385

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Рыков, Харионовский

МПК: G01B 11/06

Метки: нанесенных, пленок, подложку, толщины, тонких

...значенияющих соседнимэксционной картины втре,Из формулы (1) следует, что в спектрах прозрачности при длинах волнЯох = , пч = 2, 4, 6 (2) наблюдаются максимумы, а при длинах волн4 п 1 л =4 пб%=1,3,5гпнаблюдаются минимумы.Если показатель преломления пЯ) зависит от длины волны, то из интерференционных полос нельзя определить толщину пленки, однако, часто можно считать пЯ ) = сопзс, тогда на основании длин волн Ат, и А - 1, соответствующих соседним экстремумам в спектре прозрачности, может быть определено произведение пб из равенства 4 пб в Ьл = (гп - 1 Яг - 1, откуда Способ осуществляют следующим образом. На тонкую стеклянную подложку размерами 10"0,5"0,2 мм с одной стороны в качестве непрочного слоя наносят тонкую алюминиевую...

Номер патента: 1177663

Опубликовано: 07.09.1985

Авторы: Захаров, Колбун

МПК: G01B 15/02

Метки: активного, нанесения, пленки, скорости, толщины

...прямоугольного СВЧ-волновода измеряют амплитуды проходящей и отраженной от элемен та-свидетеля СВЧ-волны и в моменты1 1177663 2Изобретение относится к контроль- ку. Одновременно измеряют амплитуды но-измерительной технике и может проходящей и отраженной СВЧ-волны; быть использовано для контроля от элемента-свидетеля. толщины и скорости роста пленки впроцессе ее нанесения на подложку.В момент равенства амплитуд отраЦель иэббретения - повышение точ- женкой и прошедшей СВЧ-волны протягиности контроля толщины и скорости вают дискретно элемент-свидетель нанесения пленки, таким образом, чтобы в волноводе по-:Способ осуществляется следующим мещался новый отрезок элемента-свиобразом, 10 детеля с первоначальными параметраВ зоне контроля...

Номер патента: 1280311

Опубликовано: 30.12.1986

Автор: Альперович

МПК: G01B 11/06

Метки: нанесенных, пленок, подложку, толщины, тонких

...Результатвзаимодействия лучей, отраженных отформула из обр ет енияверхней и нижней поверхностей пленки 4 О1, регистрируется устройством 6. При;измерении изменяют длину волны интерферирующих лучей и фиксируют зна,чения длин волн, соответствующиедвум соседним максимумам или минимуВыполнение пластинки клиновидной 35 дает возможность исключиь ияниена результат измерений засветки, вызываемой отражением от верхней поверхности. Способ измерения толщины тонкихпленок, нанесенных на подложку, за"ключающийся в том, что освещаютконтролируемую пленку пучком инфра 45 красного излучения, наблюдают интер" Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины пленок,прозрачных в инфракрасной...

Номер патента: 1033853

Опубликовано: 07.08.1983

Авторы: Кайбин, Калнин, Кулешов

МПК: G01B 7/06

Метки: диэлектрической, нанесенной, пленки, подложку, проводящую, толщины

...натянута полимерная пленка с металлнзированным покрытием, Цилиндр заполнен жидкой средойили тонкой суспенэией, давцение которойрегулируется, благодаря чему может бытьплавно изменена пластичность электрода,чтопозволяет контролировать неравномерное по",крытие с особо шероховатой поверхностью Я.Однако выполнение электрода емкостного преобразователя из металлцолимерного композиционного материала не позволяет измерять толщину диэлектрическогопленочного покрытия, меньшую чем 35 мкм на неболыцих участках поверхности,площадь которых не превышает десятыхдолей квадратного сантиметра.Целью изобретения является повьццениеточности измерения толщины тонких пленок порядка О, 015 - 3 мкм с большой50пористостью и повышение степени локааности...

Номер патента: 1465694

Опубликовано: 15.03.1989

Авторы: Жердев, Каныгин, Каныгина, Киселев, Смажелюк, Усова

МПК: G01B 11/06

Метки: подложке, слоя, толщины

...Заказ 932/40 Тираж 683 Подписное ИБИПИ Государственного комитета поизобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Иосква, Ж, Рауйская наб., д. 4/5Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина, 101 з 146 занной толщины покрывают путем вакуумного испарения тонким (3-5 нм) полупрозрачным слоем металла, не имеющего собственной окраски (А 1, М, Рй), Напыление слоя металла толщиной менее 3 нм не дает яркой интерференционной окраски, а слоя более 5 нм приводит к тому, что образец приобретает серебристый "металлический" блеск, Следовательно, для анодированного слоя алюминиевой консервной ленты (АКП) оптимальная суммарная толщина напыляемых слоев диэлектрика и металла составляет 50- 70 нм + 3-5 нм.Окраска...