Устройство для контроля толщины прозрачной лаковой пленки

Номер патента: 151036

Авторы: Хаит, Ройтштейн, Глаговский

Скачать ZIP архив.

Текст

Класс 42 Ь, 12 вз151036 ССС САНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ 1 К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ дписная группа1 б 4 Б. А. Глаговский,. Роитштеин и А. Л. Хаит УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛ ПРОЗРАЧНОЙ ЛАКОВОЙ ТОЛЩИ ЛЕНКИ января 1962 г за762040/25-8тений и открытий при Совете Министров С Заявлено итет по делам изоо 1 ллетене изобретений20 з убликоваио в Известны устройства для контроля толщины прозрачной лаковой пленки в процессе ее нанесения на поверхность изделия оптическим методом с помощью фотоэлектрической системы, содержащей источник света, оптическую систему и фотоэлемент, освещаемый светом источника, отраженным от поверхности покрытого лаком изделия.В описываемом устройстве для повышения точности измерения и возможности непосредственного отсчета значения толщины пленки испсльзованы две фотоэлектрические системы, фотоэлементы которых освещены светом, отраженным - один от покрытой лаком поверхности изделия, а другой - от его чистой поверхности. Кроме того, эти фотоэлементы включены дифференциально в цепь измерительного прибора, один - непосредственно, а другой - через схему задержки времени для совмещения по времени обоих сигналов.На чертеже изображена схема описываемого устройства.Устройство для контроля толщины прозрачной лаковой пленки в процессе ее нанесения на поверхность изделия включает в себя две фотоэлектрические системы 1 и 2, Каждая из систем содержит соответственно источник света 8 и 4, оптическую систему 5 и б и фотоэлемент 7 н 8, Фотоэлемент 7 освещен светом, отраженным от покрытой лаком 0 поверхности изделия 10, а фотоэлемент 8 - от чистой поверхности последнего, Эти фотоэлементы включены дифференциально в цепь измерительного прибора 11, причем фотоэлемент 7 - непосредственно, и фотоэлемент 8 - через схему 12 задержки времени.Принцип измерения толщины пленки основан на законах Бера и Бугера, связывающих поток лучистой энергии, падающий и прошедший через среду определенной толщины. Поэтому константы, входящие в эти законы (например, коэффициенты рассеяния лака, отражения чистой поверхности изделия и др.), определяются экспериментально и учитывактся при тарировке устройства. В ", зоне-с, клп воляМ 151036 сигнал от фотоэлемента о подается на прибор 11 с временной задержкой, определяемой скоростью движения .изделия 10 и расстоянием между точками измерения, а сигнал от фотоэлементов в сра. Измерительный прибор выдает значение толщины пленки лака в соответствии с результатами обоих измерений. Предмет изобретения Составитель М. Б. Нанкин Редактор Т. Загребельн ТехрПодп. к печ. 27.1 Хг,чак. 9804ЦБТИ Комитета но делМоск Объем 0,18 изд. л.Цена 4 коп.овете Министров СССР2/б,Типография ЦБТИ, Москва Петровка, 14,Устройство для контроля толщины прозрачной лаковой пленки в процессе ее нанесения на поверхность изделия оптическим методом с помощью фотоэлектрической системы, содержащей источник света, оптическую систему и фотоэлемент, освещаемый светом источника, отраженным от поверхности покрытого лаком изделия, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения и возможности непосредственного отсчета значения толщины пленки, использованы две фотоэлектрические системы, фотоэлементы которых освещены светом, отраженным - один от покрытой лаком поверхности изделия, и другой - от его чистой поверхности, и включены дифференциально в цепь измерительного прибора, один непосредственно, а другой - через схему задержки времени для совмещения по времени обоих сигналов.

Смотреть

Заявка

762040, 29.01.1962

Глаговский Б. А, Ройтштейн Г. Ш, Хаит А. Л

МПК / Метки

МПК: G01B 7/06, G01B 11/06

Метки: лаковой, прозрачной, толщины, пленки

Опубликовано: 01.01.1962

Код ссылки

<a href="http://patents.su/2-151036-ustrojjstvo-dlya-kontrolya-tolshhiny-prozrachnojj-lakovojj-plenki.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для контроля толщины прозрачной лаковой пленки</a>

Похожие патенты