Вейгельт

Способ магнетизирующего обжига слабомагнитного железорудного материала

Загрузка...

Номер патента: 1700057

Опубликовано: 23.12.1991

Авторы: Адигамов, Ауслендер, Болдырев, Бочкарев, Вейгельт, Вейс, Войтковский, Воронин, Горягин, Грибков, Крайнин, Курбатов, Ляхов, Мирошниченко, Ростовцев, Русаков, Соловецкий, Талецкий, Шалацкий, Шемякин

МПК: C21B 13/00

Метки: железорудного, магнетизирующего, обжига, слабомагнитного

...уменьшают мощнос 1 ь дозы и устанавливают ее такой, чтобы температура руды соответствовала заданной. Зятем руду., находящуюся в контакте с восстяновителе 1 л, например в атмосфере водорода, Выдержива 1 от при заданной температуре 550 С в течение л 0 необходпмого времени, например 2 мин, Прц этом прс 1 псходит Восстановление гематита ГеО, содержащегося в руде и являющегося слабомЯГнитпым окислом до мяг 11 сдтитяе 1 ОА мяГнитноГО 5ОКЕСд Я жСд 51 ЕЗЯ эП р и м е р, Для магнетизирующего обжига железорудного 1 гатерияла ис- ПО 11 ЬЗУКгГ ОКИСЛЕППЫЕ КВЯРЦПтЫ, ПРЕДВаРитель 1.о и;.Меллдченные До класса50 О, 125 мм. Б качестве Восстановителя используют водород, прспян-бутановую смс сь, а также порошок :саменного угля(яптраь 151 та), колпчество...

Способ получения железного порошка из железорудного концентрата

Загрузка...

Номер патента: 1699719

Опубликовано: 23.12.1991

Авторы: Адигамов, Бочкарев, Вейгельт, Вейс, Войтковский, Воронин, Горягин, Грибков, Курбатов, Мирошниченко, Поляков, Ростовцев, Русаков, Телецкий, Шалацкий

МПК: B22F 9/22

Метки: железного, железорудного, концентрата, порошка

...1 П р и м е ч а н и е, Энергия злектрнов.1.7 МэВ,пучке 0,4 - 10 МэВ, массовая толщина облучаемого концентрата изменялась в зависимости от энергии: при энергии 0,4 МэВона составляла 0,2 г/см, а при энергииг10 МэВ - 5 г/см, В качестве газа-восстановителя применяли водород, Концентрат нагревали до 350 - 900 С,Облучение электронами с начальнойэнергией менее 0,4 МэВ нецелесообразно,так как потери энергии электронов в атмосфере газа-восстановителя при давлении выше 1,333 10 Па достигают величины,зблизкой к начальной энергии электронов.Электроны теряют энергию в газе и не достигают поверхности концентрата,15При энергиях выше 10 МэВ в облучае-,мом материале и окружающей среде возникает наведенная активность, представляющая опасность для здоровья...

Способ подготовки полезных ископаемых к обогащению

Загрузка...

Номер патента: 1382492

Опубликовано: 23.03.1988

Авторы: Болдырев, Бочкарев, Вайсман, Вейгельт, Воронин, Грибков, Миненко, Поляков, Ростовцев

МПК: B02C 19/18

Метки: ископаемых, обогащению, подготовки, полезных

...доз0,04-0,07 Дж/гс выход технологически ценных классов (-0,071+0,063-0,063+0,050 мм) по сравнению с необлученной рудой увеличивается от89,3 до 94,17. т,е. на 4,37, а содержание технологически нежелательногокласса(- О, 050 мм) уменьшается от7,2 до 1,8-2,57, При этом извлечениеолова в технологически желательныеклассы возрастает от 87,2 до 95,096,57., т,е. на 7,7-9,27 В классе0,050 мм, являющемся источником основных потерь ценного компонента прифлотации, содержание олова падаетот 10,1 до 2,2-4,27,При прочих равных условиях дальнейшей технологической переработкиоловосодержащей руды (флотация, флотогравнтация и т.д,) приводимые данные свидетельствуют, что облучениеруды малыми дозами ускоренных электронов, действующих в импульсном...

Способ определения параметров дисперсной системы

Загрузка...

Номер патента: 524108

Опубликовано: 05.08.1976

Авторы: Вейгельт, Коврижных, Стерин

МПК: G01N 15/02

Метки: дисперсной, параметров, системы

...движения 5 частиц, степени и времейи влияния на них реагентов - коагупянтов и пептизаторов.Известен способ определения технологи ческих параметров дисперсной системы, ос нованный на фотосканировании, при котором 1 О ч тицы, помещенные в среду, подвергаютс действию кпассифицирующих сип и вызывают оспабпение светового потока Г Ц, Одн ко этот способ дает возможность съредепять параметры среды только в неподвижна х 5 средах,Наиболее близким к предлагаемому сп собу является способ, по которому параметр ры дисперсной системы опредепяют с помощью кюветы, источника и приемника светово 20 го излучения. Он закпючается в измерении, характеристик прошедшего через системуипи отраженного изпучения, по которым су-пят о параметрах цисперсной системы...