Способ определения параметров дисперсной системы
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(111 5242 08 ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветскихСоциалистическихРеспублик15/02 21/00 Гоаударстаанный комитет Соната Министров ССС на делам изоорвтвннй н открытий, П, Коврижны Институт горного дела Сибирского отдепения АН СССР(71) Заявител ПОСОБ ОПРЕДЕ 5 П частиц в дисперсной системе интенсивностпрошедшего через нее ипи отраженного от,нее изпучения беспорядочно колеблется, орицатепьно влияя на точность определенияпараметров дисперсной системы, особеннона размеры и удельный вес частиц.Цель изобретения - повышение точностт.опредепения параметров дисперсной системы за счет учета размера и удельного ве,.са частиц.Эта цепь достигается тем, что дисперс-ной системе придают периодические, копеба;тельные движения в направлении, перпендикупярном ходу лучей, и регистрируют ампптуду прошедшего через систему ипи отра н.ного изпучения. Копебатепьные движения-1могут придавать, одновременно кювете, источтптку и приемнику иэпучения. В случае текущей системы организуют течение систьмы в слое, перпендикулярном ходу лучей,Кроме того, пуч и площадь приемника излучения применяют прямоугопьной формы и,ориентируют направление колебаний измери-,: тельной системы перпендикупярно параппепьным им сторонам,ас Изобретение относится к техническому,анализу процессов производства и перерабо .,ки дисперсных систем и может быть испол зовано при опредепении размера, удельного веса, концентрации и ., скорости:, движения 5 частиц, степени и времейи влияния на них реагентов - коагупянтов и пептизаторов.Известен способ определения технологи ческих параметров дисперсной системы, ос нованный на фотосканировании, при котором 1 О ч тицы, помещенные в среду, подвергаютс действию кпассифицирующих сип и вызывают оспабпение светового потока Г Ц, Одн ко этот способ дает возможность съредепять параметры среды только в неподвижна х 5 средах,Наиболее близким к предлагаемому сп собу является способ, по которому параметр ры дисперсной системы опредепяют с помощью кюветы, источника и приемника светово 20 го излучения. Он закпючается в измерении, характеристик прошедшего через системуипи отраженного изпучения, по которым су-пят о параметрах цисперсной системы 2,Однако из-за беспорядочного движения 25 етень29 (53) УДК 543.275.3524108 Составитель Н, Преображенскаятор Н. Вирко Техред Н, Андрейчук Корректор С, Шекмар 96/3791 НИИПИ Го. Тираж 1029 Подарственного комитета Сопо делам изобретений и от Москва, Ж, Раушск исноеета Министров ССкрытийя наб., д, 4/5 3035 Филиол ППП "Патент", г. Ума ород, ул. Проектная, 4 формула изобретенйя 1. Способ определения парыметров дис-, персной системы с помощью кюветы, источ щка и приемника светового излучения, заключающийся в измерении характеристик прошедшего через систему или отраженного от нееизлучения, цо которым судят о па раметрах дисперсной системы, о т л и ч аю щ и й с я тем, что, с целью повышении точности определения за счетучетаразмера И и удельного веса частиц дисперсной системы, йоследней придают периодические колебательные движения в направлении, перпенфь,. кулярном ходу лучей, и регистрируют амплитуду прошедшего или отраженного излуче ния. 62. Способ по и, 1, о т л и ч а ю ш и й 1 с я тем, что организуют течение системы в слое, перпендикулярном ходу лучей. 3, Способ по и, 1, о т л и ч а ю щ и й- с я тем, что колебательные движения при.дают одновременно кювете, источнику и при , емнику излучения. Источники информации, принятые во виьмание 1 при экспертизе:1. Патент США, кл. 34633, 3377597 от 09.04.68 г.2, Григоров О. М. и др. Руководство к практическим ,работам по коллоидной химии, М, 1964, стр, 42-44.чпрототип,1
СмотретьЗаявка
1641948, 05.04.1971
ИНСТИТУТ ГОРНОГО ДЕЛА СО АН СССР
КОВРИЖНЫХ ЮРИЙ ПАВЛОВИЧ, ВЕЙГЕЛЬТ ЮРИЙ ПЕТРОВИЧ, СТЕРИН ЛЕОНИД ЕВГЕНЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 15/02
Метки: дисперсной, параметров, системы
Опубликовано: 05.08.1976
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-524108-sposob-opredeleniya-parametrov-dispersnojj-sistemy.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения параметров дисперсной системы</a>
Устройство для определения скорости движения частиц неоднородной дисперсной среды
Номер патента: 1282012
Опубликовано: 07.01.1987
Авторы: Ключев, Пилипенко, Ходунков
Метки: движения, дисперсной, неоднородной, скорости, среды, частиц
...края пластины 1 на расстоянии, не меньшемего поперечного размера. Устройство.4 предназначено для усиления сигна лов и состоит из двух мостовых схем5 и 6 измерения температуры, двухоперационных усилителей 7, 8 и осциллографа 9.Устройство для определения скорости движения частиц неоднороднойдисперсной среды работает следующимобразом.Нагревательная пластина 1 с укрепленными на ней термометрами 2 и3 сопротивления располагается так,чтоб ось, на которой установленытермометры сопротивления, параллельна направлению движения потокаматериала. Движущийся неоднородныйдисперсный поток вызывает изменениеусловий теплообмена на поверхностяхтермометров 2 и 3 сопротивления.Температуры пленок изменяются в со- ф 5ответствии с изменением условий...
Модулятор разности хода лучей
Номер патента: 327432
Опубликовано: 01.01.1972
Автор: Пеньковский
МПК: G02B 27/10
Метки: лучей, модулятор, разности, хода
...укреплен неподвижный контакт 8, Контакты 7 и 8 установлены так, что они замыкаются, наприиер, при увеличении наклона пластинки 1, и размыкаются при уменьшении наклона.В основу принципа работы предлагаемого модулятора разности хода лучей, положен факт изменения разности хода обыкновенного и необыкновенного лучей 1 при вращении плоской двулучепреломляющей пластинки вокруг одной из осей эллипсоида, лежащей в ее плоскости.Предлагаемое устроиство работает следующим образом.Протекающий по катушке б ток, изменяющийся, например, по гармоническому закону, создает каждые,полпериода определенную напряженность мапнитного поля и зазоре магнитопровода 6, которая воздействует на магнитный материал 4 и заставляет колебаться пружину 2 с частотой 2 оэ,...
Система управления движением горной машины
Номер патента: 682647
Опубликовано: 30.08.1979
Авторы: Власов, Глебов, Загороднюк, Петрухин
МПК: E21C 35/24
...луч 2 отклоняется отклоняющей призмой 20, закрепленной в выработке, в соответствии с радиусом кривизныучастка движения щита. Части прямого оптического луча, отраженного от триппельпризмы 12 светоделительным зеркалом 26,направляются на соответствующие входы 30лазерного дальномера 22, При этом используется фазовый способ, обеспечивающийнеобходимую точность измерения расстояния. Разность фаз между сигналами фотоприемника 24 и фотоприемника 25 соответствует расстоянию до щита.Сигнал с дальномера 22 поступает напривод 21 поворота, который осуществляетповорот зеркальной отклоняющей призмы20 в функции пути в соответствии с кривизной проходимого щитом участка,С выхода дальномера 22 подается такжесигнал на модулятор 23, при помощи...
Интерферометр с обратно-круговым ходом лучей для контроля формы вогнутых сферических и асферических поверхностей оптических деталей
Номер патента: 786471
Опубликовано: 27.05.1996
Авторы: Губель, Духопел, Ефимов, Федина
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: асферических, вогнутых, интерферометр, лучей, обратно-круговым, оптических, поверхностей, сферических, формы, ходом
Интерферометр с обратно-круговым ходом лучей для контроля формы вогнутых сферических и асферических поверхностей оптических деталей, содержащий осветительную систему, включающую лазер и коллиматорный объектив, призменную и наблюдательную системы, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля и расширения диапазона радиусов кривизны контролируемых поверхностей, призменная система выполнена в виде последовательно расположенных светоделительного кубика, плоского и двугранного зеркал и установленного между этими зеркалами высокоапертурного симметричного объектива, а коллиматорный объектив выполнен с возможностью осевого перемещения.
Система управления движением проходческогощита
Номер патента: 825939
Опубликовано: 30.04.1981
Авторы: Вершинин, Власов, Глебов, Загороднюк
МПК: E21C 35/24
Метки: движением, проходческогощита
...направпение цвижения. Луч, прохоця через зеркапьную призму 2 и отверстия в матрице 6 шепевой циафрагмы 5,поступает на матрицы с фотоэпементвми11 и 12, которые с измеритепьным бпоком 13 осушествпяют. измерение коорцинат цвух точек оси шита. С измеритепьного бпока сигнвп через логический бпокл14 поступает на управпяюший бпок 16.В управпяюшем бпоке 16 происхоцитдифференцирование сигнапа цифференцируюшим эпементом 1 7, опреаепение егомоаупя формироватепем 18, перемножениемоцупя и производной бпоком 19 умножения и спожение с основным сигнвпомв сумматоре 20, Затем сигнап поступаетв бпок 21 репе, который вкпючает гицрсцомкраты перецвижения шита.Таким образом, при формированииуправпяюшего возцействия учитываютсяоткпонения проходческого...
Предыдущий патент: Устройство для измерения концентрации ионов
Следующий патент: Устройство для контроля запыленности газов
Случайный патент: Способ контроля герметичности полых изделий