Способ определения параметров функции распределения частиц по размерам дисперсной системы
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
,ЯО 13433 11 4 0 01 И 15/02 ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ЛЬСТВУ А ВТОРСКОМУ СВИ жет быть использов аэрозолей.Цель из но при исбретения -зможнося воэможистем и м ледовани асширени иональныхм обеспечеия удаленн ей способа пу на кос х объе сти исследова обретения э измерении с щности собс ключаетс то в,ость ектральвенного одновременном ой плотности мо(54) СПОСОБ ФУНКЦИИ РАСП МЕРАМ ДИСПЕР (57) Иэобрет ким методам и ПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРО ЕДЕЛЕН 1 И ЧАСТИЦ ПО Р НОЙ СИСТЕМИние относится к физи следования дисперсных ам.Щ съектывия. ОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИИ(56) Коломиец С, М, Фотоэлектрическиспособ измерения размеров и концентрации известных частиц, авт. св,Р 857778, Е В 31, 1981,Лазерное зондирование атмосферы,Сб М,: Наука, с, 11, 58, 1976 (СОАН СССР). мические расстояния диспер излучения, температуры и покаэат преломления частиц, составляющи дисперсную фазу, По этим парамет для диэлектрических частиц наход первый, второй и третий моменты ции распределения частиц по разм Способ позволяет исследовать уда ные космические объекты, а также следовать об без активного них воздейст343303 2где 1(с, - спектр излучения, нормализованный к излучению абсоя лютно черного тела, и Подставляя выражения (2) и (3) ввыражение (4) можно получить 1"= 2бай(а)а - +г2о+ +4 и(аИ (4 и(аы 2с с При условии, что температура и коэффициент преломления одинаковы для всех частиц, исходя из выражения (5), можно определить первый, второй и третий моменты функции распределения частиц по размерам по формулам 20 1 (ш) = ас, (ы, а, и)8(си 1 (и 7(аЗ, - 1 П) (, 3 с 4 и,) о Способ позволяет исследовать объекты, удаленные на космические расстояния, облегчает слежение за движущимися объектами, позволяет исследовать объекты без активного воздействия на них,гф35(4) Изобретение относится к физическим методам исследования дисперсных систем и может быть использовано дл решения задач физики космоса, физик атмосферы и др.Цель изобретения - расширение функ циональных воэможностей способа путем обеспечения воэможности исследования удаленных на космические расстояния дисперсных объектов,Способ реализуется путем одновременного измерения спектральной плотности мощности собственного излучения 1(ы), температуры дисперсной системы 15 Т, и коэффициента преломления частиц и, составляющих дисперсную фазу системы, Выражение для спектральной мощности излучения единичной частицы имеет вид 25 где а - приведенный радиус частицы;ц) - частота излучения;с скорость света;8 (О 3, Р) - функция Планка; ЭО Е(со, а, и) - фактор эффективности поглощения,Для ансамбля частиц это выражение преобразуется к виду где Г(а) - функция распределения частиц по размерам.Для диэлектрических оптически,"мягких" частиц фактор эффективностипоглощения записывается в виде+4 и) а где и - мнимая часть показателя преломления, 55 Вводят функцию Способ определения параметров функции распределения частиц по размерам дисперсной системы, заключающийся визмерении спектральной плотности мощности излучения от дисперсной системы, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью расширения функциональных возможностей способа путем обеспечения возможности исследования удаленных на космические расстояния дисперсных объектов, измеряют спектральную плотность мощности собственного излучения 1 о), температуру дисперсной системы Т, коэффициент преломления частиц и, образующих дисперсную фазу, а функцию распределения Г(а) частиц по размерам определяют из интегрального уравнения+2 4 паы У рк(1, а,5спектр излучения,-4 лОИ(с е - п ( чаи) ) 1 О 8(ы, Т)А с Составитель А, ВласовРедактор С, Патрушева Техред.Л.Сердюкова Корректор И.Муска Тираж 776 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 Заказ 4816/44 Производственно-полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул. Проектная,нормализованный к излучению абсолютно черного тела;функция Планка;аппаратурная постоянная;скорость света; при этом и- минимальная часть показателя преломления,
СмотретьЗаявка
4072030, 17.03.1986
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Г-4126
ГРИЦЕНКО АЛЕКСАНДР ПАВЛОВИЧ, ЛАХИН ВИКТОР НИКОЛАЕВИЧ, ПЕТРОВ ГЛЕБ ДМИТРИЕВИЧ, СЫСАК ВИТАЛИЙ МИХАЙЛОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 15/02
Метки: дисперсной, параметров, размерам, распределения, системы, функции, частиц
Опубликовано: 07.10.1987
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1343303-sposob-opredeleniya-parametrov-funkcii-raspredeleniya-chastic-po-razmeram-dispersnojj-sistemy.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения параметров функции распределения частиц по размерам дисперсной системы</a>
Устройство для определения среднего размера токопроводящих дисперсных материалов
Номер патента: 873040
Опубликовано: 15.10.1981
Авторы: Важненко, Рогалева, Черна
МПК: G01N 15/00
Метки: дисперсных, размера, среднего, токопроводящих
...необходимости обеспечения сплошности слоя контролируемогоматериала.Толщина внешнего слоя диэлектрикаэлектрода не менее, чем на порядокбольше слоя диэлектрика между электродом н контролируемым материалом,что повышает точность измерения, таккак в этом случае уменьшается паразитная емкость между электродом .и "землей", которая шунтирует рабочую емкость датчика.На чертеже представлена конструкция устройства для контроля дисперс"ности углеграфитовой шихты со среднимдиаметром 1-10 мм. Устройство содержит измерительную ячейку 1 из диэлектрического матерна" ла,имеющую два сквозных отверстия 2 и снабженную приспособлением 3 обеспечения заданной высоты столба контролируемого материала, состоящим из заслонки 4 для нижнего отверстия измери-...
Способ определения среднего размера капель (дисперсности) эмульсий
Номер патента: 484451
Опубликовано: 15.09.1975
Авторы: Абрамзон, Рохленко, Фирсов
МПК: G01B 17/00, G01N 29/02
Метки: дисперсности, капель, размера, среднего, эмульсий
...частотой превращают энергию ультразвука в электрические колебания. Напряжение с пьезоприемников подается на логарифмические усилители 5 и 6, Так как коэффициент поглощения ультразвука определяется по формуле где У и У 2 - напряжения, снимаемые с пьезоприемников, находящихся на расстоянии 1 и Ь соответственно от пьезоизлучателя, Л 1 - постоянный коэффициент, равный 1 - Ь, то для получения значения а усилители пьезоприемников имеют нагрузку с логарифмической характеристикой, В качестве такой нагрузки используются полупроводниковые диоды 7 и 8, работающие на лотарифмическом участке характеристики. Резисторы 9 и 10 исправляют форму реальной характеристики диодов, Таким образом при последовательном прохождении импульсов от...
Устройство для определения среднего размера токопроводящих дисперсных материалов
Номер патента: 1427240
Опубликовано: 30.09.1988
Авторы: Важненко, Гура, Рогалева, Тупиков
МПК: G01N 15/02
Метки: дисперсных, размера, среднего, токопроводящих
...штифтами 38 полуконуса 33, и рычаг 39, связанный шарнирно через тягу 40 с подвижной частью исполнительного механизма 27, прикрепленного при помощи крепежного хомута 41 к корпусу 2 устройства. Внутри воронки 10, состоящей из полуконусов 32 и ЭЗ, соосно ей расположена воронка 42.. Устройство встроено байпасно в наклонный технологический трубопровод.Устройство работает следующим образом.В момент прохождения материала через измерительную ячейку 1 на выходе датчика 8 появляется сигнал, постлающий через согласующий элемент 12 на вход схемы И 17, До тех пор, пока контролируемый материал не достигнет датчика 7 уровня, последний не выдает сигнал на второй вход схемы И 17 и сигнал на выходе измерительной схемы 5 отсутствует, т.е. равен...
Устройство для определения среднего размера токопроводящих дисперсных материалов
Номер патента: 1822942
Опубликовано: 23.06.1993
Авторы: Рогалева, Светлова, Тупиков
МПК: G01N 15/02
Метки: дисперсных, размера, среднего, токопроводящих
...32 и 33 против часовой стрелки, соответствующему увеличению площади в,кодного отверстия, находящиеся в саед,: .1 и вилки10 15 20 25 30 35 40 45 50 кронштейнов и полуконусов 32 и 33, в частности вилки 45 - 47 и 46-48, показанные на фиг. 2, поворачивают кронштейны (один иэ них - кронштейн 44) соответственно вокруг осей 42 и 43 в противоположном направлении. При этом толкатели 49, 50 входят через прорези внутрь нижней части измерительной ячейки (внутрь воронки 51) и разрушают слипшийся комок материала, если по какой- либо причине он оказался в измерительной ячейке и затруднил контролируемого материала из последней. Когда материал 6 начинает проходить через измерительную ячейку 1 устройства, сигнал от датчика 8 струи материала через...
Система для измерения концентрации дисперсной фазы
Номер патента: 1398592
Опубликовано: 15.12.1990
Авторы: Болтенко, Джусов, Чернухин
МПК: G01N 27/02
Метки: дисперсной, концентрации, фазы
...соответствующего жидкой фазе, на выходе усилителя 4. Этот сигнал с выхода усилителя 4подается на второй вход дискриминаторауровня 6, на первый вход которого подается уровень дискриминации, жестко связанный с уровнем на выходе пикового де 2тектора 5. В дискриминаторе 6 происходит выделение сигналов по первому входу, амплитуда которых превышает уровень дискриминации по второму входу. Таким образом появление импульса на выходе дискриминатора 6 соответствует посылке генератора 3 в момент нахождения чувствительного элемента зонда 1 в жидкости, отсутствие импульса соответствует моменту прохождения паровых пузырьков через зонд,Так как уровень дискриминации на вто. ром входе дискриминатора 6 и уровень сигнала на первом входе,...
Предыдущий патент: Фотоэлектрический анализатор частиц
Следующий патент: Устройство для определения концентрации падающего грубодисперсного аэрозоля
Случайный патент: Способ контроля вогнутой сферической линзовой поверхности и устройство для его осуществления