Пакачимас

Устройство контроля электронно-оптических параметров магнитной отклоняющей системы

Загрузка...

Номер патента: 1543571

Опубликовано: 15.02.1990

Авторы: Войнарская, Пакачимас, Чюплинскас

МПК: H04N 17/00

Метки: магнитной, отклоняющей, параметров, системы, электронно-оптических

...с блока 25 управления подключает выход усилителя 3 мощности через конденсатор 5 к строчным катушкам 7, а при приходе второгоуправляющего сигнала (фиг. За) с блока.25 управления через конденсатор6 - к кадровым катушкам 8При этомпоочередно на строчные, а потом накадровые катушки 7 и 8 подается переменное синусоидальное испытательное напряжение частотой 16 кГц, чтобы вцепи строчных и кадровых катушек 7 и8 имел место резонанс. ЭДС, наводимые строчным и кадровым отклоняющими полями соответственно на обмотках 11 и 12 магнитоиндукционного датчика 10, подаются черезвторой коммутатор 13, управляемый блоком 25 управления, на регулятор 2 тока, где они управляют величиной напряжения возбуждения, поступающегос задающего генератора 1 на усилитель3...

Устройство контроля параметров электромагнитных отклоняющих систем

Загрузка...

Номер патента: 1518923

Опубликовано: 30.10.1989

Авторы: Галванаускас, Пакачимас, Чюплинскас

МПК: H04N 17/00

Метки: отклоняющих, параметров, систем, электромагнитных

...была бы всегда постоянной заданной величины, что соответствует постоянному расстоянию отклонения луча от центра до заданной точки на экране кинескопа и является непременным условием при проведении ,измерений ЭОП. На входы сумматоров 24 и 25 посту пают напряжения, созданные строчным отклоняющим полем в горизонтальных обмотках датчиков 16 - 19. На входы сумматоров 26 и 27 поступают напряжения, созданные кадровым отклоняющим олем в вертикальных обмотках датчиков 16-19, На входы вычитателя 40 поступают напряжения с сумматоров 24 и 25, а на входь вычитателя 41 поступает напряжения с сумматоров 26 и 27. 40 Раэностное напряжение на выходе вычитателя 40 соответствующее астигматиэму строчных катушек 7, поступает на блок 46 задержки, где...

Устройство автоматического контроля электронно-оптических параметров магнитных отклоняющих систем

Загрузка...

Номер патента: 1275789

Опубликовано: 07.12.1986

Авторы: Пакачимас, Чюплинскас

МПК: H04N 17/00

Метки: магнитных, отклоняющих, параметров, систем, электронно-оптических

...магнитные линии будут пересекать плоскость вертикальных обмоток датчиков 12-20 под углом 90 а ЭДС, наводимая в вертикальных обЗО мотках этих датчиков, будет максимальной. ЭДС, наводимая строчным и кадровым отклоняющими полями на соответствующих обмотках датчика 12, подается через второй коммутатор 5, уп- З 5 равляемый блоком 21 управления, на регулятор 2 тока, где она управляет величиной напряжения возбуждения, поступающего с задающего генератора 1 на усилитель 3 мощности. Тем самым, ЭДС на обмотках датчика 12 всегда поддерживается постоянной.На входы сумматоров 24 и 25 поступает напряжение, созданное отклоняющим полем в горизонтальных обмот- ф ках датчиков 13-16, На входы сумматоров 26 и 27 поступает напряжение,созданное...

Устройство контроля чувствительности магнитных отклоняющих систем

Загрузка...

Номер патента: 1269276

Опубликовано: 07.11.1986

Авторы: Пакачимас, Чюплинскас

МПК: H04N 17/00

Метки: магнитных, отклоняющих, систем, чувствительности

...приконтроле чувствительности с помощьюрегулятора 15 тока обеспечиваетсяпостоянство ЭДС в измерительных катушках 12 и 13. Зто достигается следующим образом. Напряжение возбуждения с задающего генератора 10 подается на усилитель 3 мощности через управляемый делитель, состоящий из резистора 20 и сопротивления переходасток - исток полевого транзистора 19,которое меняется в зависимости от изменения подаваемого напряжения управления на затвор полевого транзистора19. Для получения напряжения управления ЭДС с измерительной катушки 12через второй коммутатор 14, управляемый формирователем 22, подается нарегулятор 15 тока, где она после 30выпрямителя 16 поступает на дифферен- .циальный усилитель 17, который сравнивает ее с опорным постоянным...

Устройство для измерения параметров сведения и геометрических искажений магнитного поля электромагнитных отклоняющих систем

Загрузка...

Номер патента: 628637

Опубликовано: 15.10.1978

Авторы: Кайрис, Пакачимас, Шатер

МПК: H04N 7/02

Метки: геометрических, искажений, магнитного, отклоняющих, параметров, поля, сведения, систем, электромагнитных

...входом блока вычитания 10, второй вход которого через переключатель 11 соединен с обмотками основных магнитоиндукционных датчиков 7, 8, а выход блока вычитания 10 соединен с входом индикатора , Магнитоиндукционные датчики 7, 8, 9 размещены в оправке 12, выполненной из немагнитного материала, фрума которой соответствует форме внутренней поверхности отклоняющей системы 6.Устройство работает следующим обра- зо зом,Отклоняющая система б, параметры которой требуется измерить, одевается на оправку 12, На одну из пар катушек отклоняющей системы 6, например на строчные катушки 4, через переключатель 3 подается напряжение строчной развертки с генератора 2. Строчное отклоняющее поле наводит ЭДС в обмотках магнитонндукционных датчиков 7, 8, 9, На...

Устройство для изготовления отклоняющих катушек

Загрузка...

Номер патента: 597015

Опубликовано: 05.03.1978

Авторы: Пакачимас, Шатер

МПК: H01F 41/04

Метки: катушек, отклоняющих

...в левое положение, подключая "горячую катушку 25 к генератору 23, к которому постоянно подключена эталонная катушка. Подключение 0 выполненно таким образом, что эталонная катушка с намотанной катушкой 25 в паре составляет отклоняющий узел, Магнитное поле этого узла наводит.ЭДС в магнитэчувствительных зондах 2-4, На вход дифферен- ф 5 циальной схемы 5 поступает ЭДС с зондов 2 и 31 а на вход дифференциальной схемы 6 ЭДС с зондов 2 и 4, Каждый из зондов 2-4 интегрирует измеряемую составляющую поля Нвдоль продольной и поперечнои осей, перпендикулярных этой составляющей в пределах интегрирования, соответствуюших длине зонда вдэль продольной оси и ширине зонда вдоль поперечной оси. Размеры зон-, дов подобраны такими, что длина сторон зондов...

Устройство для контроля параметров сведения и геометрических искажений магнитного поля электромагнитных отклоняющих систем

Загрузка...

Номер патента: 571933

Опубликовано: 05.09.1977

Авторы: Кайрис, Пакачимас, Шатер

МПК: H04N 7/02

Метки: геометрических, искажений, магнитного, отклоняющих, параметров, поля, сведения, систем, электромагнитных

...из двух Взаимно перпендее , 45 кулирно плоских стержней, причем длина каи Дого стеРжни больше его шееРиеыр пеРвый блок Удвоеееееи 13 напРЯжеепеир вход котоРО= го через второй переключатель, 14 соединен с первыми стержнями первого и третьего 50 зондов 9 и 11 Второй блок удвоереия 15 напряжения, вход которого через третий пе ;.,=,сечатель 16 соединен с вторыми стерж ними второго и четвертого зондов 10 и 12, первый бреон суммирования 17, вхоДы которого соединены с первыми стержнями вторе- го и четвертого зондов 10 и 12, и второй блок суммирования 18, входы которого сое динены с вторыми стержнями первого и треиье го зондов 9 и 11, при атом Вье.-.Оды перво- "ф го бл ока удвоении 13 и первого блока суммиррвания 17 и выходы второгоблока...

Способ контроля параметров сведения отклоняющих систем многолучевых кинескопов

Загрузка...

Номер патента: 560365

Опубликовано: 30.05.1977

Авторы: Пакачимас, Шатер

МПК: H04N 9/62

Метки: кинескопов, многолучевых, отклоняющих, параметров, сведения, систем

...таков в катушках динамического сведения добиваются максимального совещения лучей в указанной точке 20 и производят отсчет величины расхождениялучей.Затем регулироькой токов в строчитушках отклоняющей системы три лу кланяются влево вдоль горизонтальн 25 экрана в левую точку измерения, в каналогичным способом производят отс личины расхождения лучей.Отклоняющую систему поворачивают нагорловине кинескопа на 90. Регулировкой то ков в кадровых катушках отклоняющей сис5603 Ь 5 Формула изобретения Составипгель Е. Любимова Техред И, Карандашова Корректор Л. Брахнина Редактор Т. Рыбалова Заказ 1619/8 Изд Хз 535 Тираж 815 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, )К, Раушская...

Устройство для формования отклоняющих катушек

Загрузка...

Номер патента: 558315

Опубликовано: 15.05.1977

Авторы: Пакачимас, Рапникас, Шатер, Юркявичюс

МПК: H01F 41/04

Метки: катушек, отклоняющих, формования

...частей 2 и 3 и подвижных частей 4 и 5. Подвижные части обжима установлены с возможностью поворота и соединены с неподвижными шарнирами 6. Поворотные части 4 и 5 обжима зафиксированы в рабочем положении зажимами 7 и 8 под углом относительно неподвижной части, Для отсчета величины угла поворота служит шкала 9.Работает устройство следующим образом.Зависимость между одним из электронно- оптических параметров отклоняющих систем - остаточным несведением и параметром, определяюгцим форму изготовляемых катушек, - углом регулирования между рабочей плоскостью поворотной части обжима и рабочей плоскостью неподвижной части графически изображена на фиг. 5.При отпущенных зажимах 7 и 8 поворотные части 4 и 5 обжима вращаются вокруг шарнирных осей 6,...