Способ контроля параметров сведения отклоняющих систем многолучевых кинескопов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(61) Дополнительное к авт. свид-ву 51) М, Кл е Н 04 Я 9/62 21) 2047416 0 Заявлено 19 аявкисоединением государственныи комитетСавета Министров СССРва делан изобретенийн открытии(53 ата опубликования описания 22.07.77 72) Авторы изобретения Пакачим П. Шатер 1) заявители ОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ СВЕДЕНИЯИСТЕМ МНОГОЛУЧЕВЫХ КИНЕСКОПО2 ых кача отой оси оторой чет веИзобретение относится к измерительной технике и может использоваться при массовых производстве и разработке новых конструкций отклоняющих систем и многолучевых кинескопов.Один из известных способов контроля систем магнитного сведения лучей трехлучевого цветного кинескопа реализован в устройстве, содержащем электромагнитные датчики напряженности магнитного поля системы сведения, установленные взаимно перпендикулярно в параллельных плоскостях.Однако в этом устройстве невозможен контроль параметров сведения в требуемом объсме.Наиболее близким техническим решением к изобретению является способ контроля параметров сведения отклоняющих систем много- лучевых кинескопов, заключающийся в измерении,величины расхождения лучей на экране кинескопа.Однако этот способ, сопряжен с трудоемкими, громоздкими и сложными операциями, что не позволяет ускорить контрольные операции при массовом производстве отклоняющих систем,Чтобы ускорить контроль, по предлагаемому способу контроля параметров сведения отклоняющих систем многолучевых кинескопов отклоняющую систему поворачивают на горлавине кинескопа до получения максимального несведения на одной из осей кинескопа и измеряют несведение на этой оси, затем поворачивают отклоняющую систему на 90 и 5 измеряют несведение повторно на той же оси,а измеренные параметры сравнивают с допустимыми.Предлагаемый способ контроля заключается в следующем.10 Контроль производят на типовых испытательных стендах с контрольными кинескопами. Регулировкой постоянных токов в строчных катушках отклоняющей системы три лучапредварительно сведенные в центре, от клоняются на экране кинескопа вправо вдольгоризонтальной оси эирана в правую точку измерения. Регулировкой таков в катушках динамического сведения добиваются максимального совещения лучей в указанной точке 20 и производят отсчет величины расхождениялучей.Затем регулироькой токов в строчитушках отклоняющей системы три лу кланяются влево вдоль горизонтальн 25 экрана в левую точку измерения, в каналогичным способом производят отс личины расхождения лучей.Отклоняющую систему поворачивают нагорловине кинескопа на 90. Регулировкой то ков в кадровых катушках отклоняющей сис5603 Ь 5 Формула изобретения Составипгель Е. Любимова Техред И, Карандашова Корректор Л. Брахнина Редактор Т. Рыбалова Заказ 1619/8 Изд Хз 535 Тираж 815 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, )К, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 ТЕМЫ трн ЛуЧа, гирЕднарнтЕЛЬНО С 1 ВЕдЕИНЫЕ В центре, отклоняются на экране кинескопа вправо вдоль горязонтальной оси экрана в правую точку измерений. Регулировкой токов в катушках динамического сведения добиваются максимального совмещения лучей в этой точке и производят отсчет величины расхождения лучей. Аналогично осуществляют измерение в левой точке.По произведенным четырем отсчетам величины расхождения лучей на горизонтальной оси экрана, на которой для,кинескопов с треугольным расположением электронных пушек в наибольшей степени проявляется расхождение лучей, производится оценка параметров сведения отклоняющей системы. Существует зона допустимых значений измеренных величин расхождения лучей, при которых обеспечиваются требования ко всем параыетрам сведения отклоняющей системы. Измеренные четыре параметра сравниваются с допустимыми,Для кинескопов с компланарным расположением электронных параметров остаточное несведение лучей проявляется на вертикаль. ной оси, следовательно, контроль отклоняющих систем для кинескопов с компланарным раоположенивм электронных ирожекторов цроизводитс 51 измерен 11 ем расхождения лучей в точках на вертикальной оси экрана кинескопа.Использование предлагаемого способа конт роля параметров сведения отклоняющих систем многолучевых кинескопов обеспечивает повышение производительности операций контроля качества благодаря возможности оценки параметров сведения отклоняющих си стем ио четырем отсчетам остаточного несведеп 1 гя вместо двенадцати,15 Способ контроля параметров сведения отклоняющих систем многолучевых кинескопов, заключающийся в измерении величины расхождения лучей на экране кинескопа, отл ич а ю щ и й с я тем, что, с целью ускорения20 контроля, отклоняющую систему поворачивают на горловине кинескопа до получения максимального несведения на одной из осей кинескопа и измеряют несведение на этой оси, затем поворачивают отклоняющую систему на25 90 и измеряют несведение повторно на той же оси, а измеренные параметры сравнивают с допустимььми,
СмотретьЗаявка
2047416, 19.07.1974
ПАКАЧИМАС ДОМАРАС ЮОЗАПО, ШАТЕР ХАИМ ПЕЙСАХОВИЧ
МПК / Метки
МПК: H04N 9/62
Метки: кинескопов, многолучевых, отклоняющих, параметров, сведения, систем
Опубликовано: 30.05.1977
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-560365-sposob-kontrolya-parametrov-svedeniya-otklonyayushhikh-sistem-mnogoluchevykh-kineskopov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля параметров сведения отклоняющих систем многолучевых кинескопов</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения координат точечных изображений на телевизионном растре
Следующий патент: Устройство селекции импульсов
Случайный патент: Устройство для сортировки информации