Устройство для измерения параметров сведения и геометрических искажений магнитного поля электромагнитных отклоняющих систем
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(61) Дополнительн (22) Заявлено 04,1 е к авт. свид-ву -4 (21) 2073698/18-09 рисоединением заявки-ооудврственный номнтет Соовтв Мнннстров СССР ао делам нэобретеннй н отнрмтнй(45) Дата опубликования описания Я.03.10,(72) Авторы изобретены Ю, Пакачимас, Ю. Ю. Кайрис вр(71) Заявите 4) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРСИ СВЕДЕНИ И ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ИСКАЖЕНИЙ МАГНИТНОГО ПОЛЯ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ОТКЛОНЯЮЩИХ СИСТЕМ 1Изобретение относится к радиотехнике и может использоваться в измерительной технике при разработке, производстве и контроле качества электромагнитных отклоняющих систем для черно-белых и цветных кинескопов.Известно, устройство для измерения геометрических искажений растра на экране кинескопа телевизионного приемника, основанное на полуавтоматическом определении расстояния между опорной меткой и линиями растра на экране кинескопа 1),Это устройство, содержацее в качестве индикатора измерительный кинескоп, имеет низкую точность измерений, связанную как с недостатками самой методики измерений, так и с неизбежными производственными разбросами параметров контрольных кинескопов.Наиболее близким техническим решением к изобретению является устройство для измерения параметров сведения и геометрических искажений магнитного поля электромагнитных отклоняюгцих систем, содержаьцее индикатор, генератор напряжения строчной и или кадровой разверток, соединенный через первый переключатель с соответствующими катушками отклоняющей системы, н размещенные внутри отклоняющей системы основные магнитоиндукционные датчики, например два, расположенные в плоскости, соответствующей одной нз осей отклонения луча (2) .БЭто устронство позволяет измерять абсо.лютные значения параметров магнитного поля проверяемых систем в определенной точке нх внутреннего пространства. Однако для точных измерений параметров сведения и геометрических искажений электромагнитных систем необходимо измерение разности параметров магнитного поля отклоняющих систем в нескольких точках их внутреннего объема. Указанное устройство не позволяет производить подобные разностные нзмере-ния, не позволяет тем самым достичь требуемой точности.Целью изобретения является повышениеточности измерения.Для этого в предлагаемое устройствовведен дополнительный магнитоиндукцнонный датчик, расположенный между магнитоиндукцноннымн датчиками вдоль оси отклоняющей системы, обмотка которого соединена с первым входом вновь введенного628637 3блока вычитания сигналов, второй вход которого Через вновь введенный переключатель соединен с обмотками основных магннтоиндукциониых датчиков, а выход блока вычитания соединен с входом индикатора,На чертеже приведена структурная элек трГ 414 еская схема предложенного устройства.Устройство для измерения параметров сведения и гйометрических искажений маг. нитного поля электромагнитных отклоняющих систем содержит индикатор 1, генератор 2 напряжения строчной и/или кадровой разверток, соединенные через первый переключатель 3 сЬ строчными и кадровыми катушками 4 и б отклоняющей системы б, и размещенные внутри отклоняющей системы 6 основные магнитоиндукционные датчики 7, 8, расположеггные в плоскости, соответствующей одной из осей отклонения луча, дополнительный магнитоиндукционный датчик 9, расположенный между магнитоиндукциоиными датчиками 7, 8 вдоль оси отклоняющей системы 6, обмотка которого сое динена:с первым входом блока вычитания 10, второй вход которого через переключатель 11 соединен с обмотками основных магнитоиндукционных датчиков 7, 8, а выход блока вычитания 10 соединен с входом индикатора , Магнитоиндукционные датчики 7, 8, 9 размещены в оправке 12, выполненной из немагнитного материала, фрума которой соответствует форме внутренней поверхности отклоняющей системы 6.Устройство работает следующим обра- зо зом,Отклоняющая система б, параметры которой требуется измерить, одевается на оправку 12, На одну из пар катушек отклоняющей системы 6, например на строчные катушки 4, через переключатель 3 подается напряжение строчной развертки с генератора 2. Строчное отклоняющее поле наводит ЭДС в обмотках магнитонндукционных датчиков 7, 8, 9, На первый вход блока вычитания 10 поступает напряжение с дополнительного магнитоиндукционного датчика 9, на другой вход блока вычитания 10, в зависимости от положения переключателя 11, поступает напряжение с магннтоиндукцион. ного датчика 7 или 8. Разностное напряжение на выходе блока вычитания 10 измеряФормула изобретения Устройство для измерения параметровсведения и геометрических искажений магНитного поля электромагнитных отклоняю.гцнх систем, содержагцее индикатор, генератор напряжения строчной и/или кадровой разверток, соединенный через первый переключатель с соответствующими катушками отклоняющей системы, и размещенные внут 4 в ри отклоняющей системы основные магнитонндукционные датчики, например два, расположенные в плоскости, соответствующей одной из осей отклонения луча, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения, введен дополнительный магнито индукционный датчик, расположенный меж.ду магнитоиндукционными датчиками вдоль оси отклоняющей системы, обмотка которого соединена с первым входом вновь введенного блока вычитания сигналов, второй вход которого через вновь введенный,гпереключатель соединен с обмотками основных магнитоиндукционных датчиков, а выход блока вычитания соединен с входом индикатора,Источники информации, принятые во внимание прн экспертизе:1. Авторское свидетельство СССР302850, кл. Н 04 М 3/22, 1969.2, Авторское свидетельство СССР431646, кл. Н 04 М 7/02, 1972. ется индикатором 1, Величина этого напряжения характеризует электронно-оптические параметры строчных отклоняющих катушек 4.Повернув отклоняющую систему б на оправке 12 на 90 и подав напряжение кадровой развертки через переключатель 3 на к".дровые катушки 5, индикатор 1 аналогично показывает величину напряжения, характеризующую электронно-оптические параметрыкадровых отклоняющих катушек 5.Что касается искажений, являющихся результатом совместного действия строчных и кадровых катушек 4 и 5, то существует область допустимых значений величин напряженнй, измеренных нндика 1 ором 1, ха. рактеризующих соответственно строчный н кадровый узел, прн которых проверяемая отклоняющая система б дает геометрические искажения растра меньше допустимых или имеет допустимые параметры сведения.Для достижения наибольшей чувствительности данного устройства магнитонндукциоь - ные датчики 7, 8, 9 расположены у внут. ренней поверхности отклоняющей системы 6, Каждая нз обмоток датчиков 7, 8, 9 интегрирует измеряемую составляющую м агнитного поля вдоль осей, перпендикулярных этой составляющей в пределах интегрирования, соответствующих длине обмотки вдоль продольной оси н ширине обмотки вдоль поперечных осей.Использование предложенного устройства для измерения параметров сведения и геометрических искажений обеспечивает существенное повышение точности контроля, благодаря применению разностного метода измерений. Применение этого метода позволяет достичь высокой чувствительности данного устройства, а также исключить влияние магнитного поля Земли при оценке результатов контроля. Кроме того значительно повышается производительность. контрольных операций с данным устройством, в связи с возможностью полуавтоматического контроля качества проверяемых отклоняющих систем.нистров СССй оектная,ЦНИИПИ Госудапо113035, М рственного комитета елам изобретений сква, Ж.35, Гауш илиал ППП Патент, г. Уж вета Моткрыя наб
СмотретьЗаявка
2073698, 04.10.1974
ПАКАЧИМАС ДОМАРАС ЮОЗАПО, КАЙРИС ЮСТИНАС ЮОЗО, ШАТЕР ХАИМ ПЕЙСАХОВИЧ
МПК / Метки
МПК: H04N 7/02
Метки: геометрических, искажений, магнитного, отклоняющих, параметров, поля, сведения, систем, электромагнитных
Опубликовано: 15.10.1978
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-628637-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-parametrov-svedeniya-i-geometricheskikh-iskazhenijj-magnitnogo-polya-ehlektromagnitnykh-otklonyayushhikh-sistem.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения параметров сведения и геометрических искажений магнитного поля электромагнитных отклоняющих систем</a>
Предыдущий патент: Способ настройки цветного кинотелевизионного устройства
Следующий патент: Устройство для измерения отношения размаха видиосигнала к эффективному значению флуктуационной помехи
Случайный патент: Форма для изготовления железобетонных изделий