Оревкова

Способ размерной обработки плоских, ступенчатых и криволинейных поверхностей и устройство “посиорм” для его осуществления

Номер патента: 1709833

Опубликовано: 10.10.1996

Авторы: Мещеряков, Оревкова, Подяпольский, Симонова

МПК: G02B 27/18

Метки: криволинейных, плоских, поверхностей, посиорм, размерной, ступенчатых

1. Способ размерной обработки плоских, ступенчатых и криволинейных поверхностей, заключающийся в формировании изображения рисунка плоской маски на поверхности материала, изготовлении на материале рисунка в виде рельефа путем физико-химического воздействия, отличающийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей за счет получения рисунка заданных размеров и геометрической формы на обрабатываемой поверхности, плоскую маску с конформно отображенным рисунком исходной поверхности освещают световым пучком заданной расходимости и осуществляют управление распределением плотности световой энергии на обрабатываемой поверхности.2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что управление распределением плотности световой энергии по...

Способ изготовления керамическихизделий

Загрузка...

Номер патента: 852835

Опубликовано: 07.08.1981

Авторы: Богданович, Гиндулина, Мещеряков, Оревкова, Подяпольский

МПК: C04B 35/00, C04B 41/80

Метки: керамическихизделий

...обжига ишлифовки прокладки подвергались облучению импульсным когерентным светом ОКГтипа ГОСМ. Длина волны излучения -1,06 мкм, длительность импульса 1 мс, энергия в импульсе - 38 Длс.Прокладки с помощью держателя закреплялись на расстоянии 27 -28 см от торца лазера, обеспечивающем плотность энергии в импульсе Юот 2,2 до 4,1 ди/см. При этом прокладкиоблучались как несфокусированным излучением (двумя импульсами), так и излучением, прошедшим через фокусирующуюлинзу (одним импульсом). В последнем случае линза устанавливалась непосредственнона выходе лазера. Облучению в.указанныхрежимах подвергалось 30 прокладок,Предел прочности прокладок при статическом изгибе определялся на приспособлении для контроля прочности прокладок методом трех...

Способ количественного определения органических оснований

Загрузка...

Номер патента: 488136

Опубликовано: 15.10.1975

Авторы: Александров, Гилева, Евдокимова, Ерохина, Кудымов, Ларина, Москаленко, Оревкова, Панаева, Попова, Рабинович, Савельева, Стафеева, Стилик, Туева, Яковлева, Ярыгина

МПК: G01N 31/16

Метки: количественного, органических, оснований

...Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, )К, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 Ес;и продук резкпии получас гс 5 Иолу(идкий - В 51 зкой консистенции, то его Осаждают па стенках колбы при псремсшиванпи до прозрачности реакционного раствора, который затем отбрасывают. В случае образования аморфного или кристаллического, легко отделяемого от стенок сосуда соединения, его отфильтровыва 1 от через ватный фильтр, такой фильтр легко и быстро отмывается одновременно с осадком и переносится вместе с комплексным соединением в колбу для титрования.Для отмывания выделенного комплексного соединения применяют 5%-ный раствор рода- нида аммония, который, являясь аддендом тетрароданоцикоата аммония, легко отмывает...