Магнитный трековый спектрометр

Номер патента: 771517

Опубликовано: 15.10.1980

Авторы: Кадыров, Приступа, Трубников, Франкевич

МПК: G01N 24/00

Метки: короткоживущих, магнитного, парамагнитных, резонанса, спектрометр, частиц

...а резонатор выполнен в виде двух изолированных друг от друга половин, причем одна половина резонатора соединена с усилителем 25 и через сопротивление нагрузки с одним из полюсов источника постоянного напряжения, а вторая половина резонатора - с другим полюсом источника постоянного напряжения, при этом общая точка усилителя соединена с одним из полюсов источника постоянного напряжения, а также тем, что в качестве сопротивления нагрузки использован резистор, при этом выход генератора модуляции соединен с входом СВЧ-генератора, а также тем, что в качестве сопротивления нагрузки использован активный управляемый элемент, управляющий электрод которого соединен с выходом генератора модуляции. 40Блок-схема спектрометра представлена на...

Номер патента: 135842

Опубликовано: 01.01.1961

Автор: Воробьев

МПК: F16K 47/10

Метки: камеры, клапан, магнитном, находящийся, поле, расширительной

...садящихся на свои седла.Тарелка 4 клапана перекрывает выпускное окно б расширительной камеры 7. Тарелка 3 закрывает импульсные камеры 8, 9 и воспринимает силовые импульсы газа, вызываемые искровыми разрядами в моменты открывания клапана,На корпусе 1, над верхней тарелкой д клапана, установлена коробка 10, образующая камеру 11, заполненную сжатым воздухом, надежно удерживающим клапан в закрытом положении.Сжатый воздух в камере 11 пополняется после каждого срабаты вания клапана для посадки его на место.Импульсные камеры 8 и 9 сообщены с атмосферой дросселиру;ощпми каналами, обеспечивающими выпуск воздуха из камер прп закрывании клапана,135842Под действием силы сжатого воздуха в камере 11 клапан плотно прижимается тарелкой 3 к резиновому...

Номер патента: 2002250

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Новиков, Романов

МПК: G01N 27/85

Метки: дефектоскопии, индикатор, магнитной, магнитных, полей

...предварительной ее механической обработки магнигопорошковые метод контроля с использованием монолитных частицпорошка неэффективен. так как скоплениечастиц порошка затруднено. Если изделиенаходится под слоем жидкости, особенно втом случае, когда жидкость имеет малуюпрозрачность, то это препятствует наблюдению скоплений порошка в местах дефектов сплошности,Решение поставленной задачи позволит расширить область использования индикаторов магнитных полей за счет появления возможности контроля изделий с грубой поверхностью, а также изделий, находящихся под слоем жидкости.Сущность изобретения состоит в том, что в индикаторе магнитных полей для магнитной дефектоскопии, представляющем собой частицы магнитного порошка, в нем...

Номер патента: 1023265

Опубликовано: 15.06.1983

Авторы: Лисовский, Щеглов

МПК: G01R 33/12

Метки: анизотропии, легкого, магнитных, намагничивания, ориентации, оси, пленок, поля

...плоскости пленки,пленку устаавливают таким образом,цтобы. ось ее вращения совпадала сномалью к поверхности пленки, освещают пленку поляризованным светом ис помощью анализатора и микроскопанаблюдают зарождение доменной структуры, вращают пленку вокруг оси,совпадающей с нормалью к плоскостипленки, подбирают ориентацию и напряженность магнитного поля такимобразом, цтобы в момент зарождениядоменная структура имела полосовойхарактер, снимают зависимости продольной и поперечной (относительнооси вращения пленки) компонент напряженности магнитного поля, соответствующих моменту образования домен"ной структуры от угла поворота плен"гки, пред ста вляют полу ченную з ависимость в виде рядов Фурье и опреде,ляют константы и ориентацию...

Номер патента: 1642341

Опубликовано: 15.04.1991

Авторы: Марченков, Полевич, Сироко, Чикин

МПК: G01N 23/223

Метки: вакуумного, камера, спектрометра

...нержавеющей стали, и свинцовой пластины 9,прикрепленной к корпусу 8. На свинцовую пластину 9 нанесен реперный слой10, который представляет собой смесьили сплав веществ, содержащих всеэлементы, на анализ которых рассчитан прибор. Задвижка 4 служит длявакуумной герметизации шлюзовогообъема от рабочего объема во времясмены образцов для защиты от неиспользованного рентгеновского излучения. Реперный слой позволяет коррек-тировать значение интенсивности ха 1642341рактеристического излучения от элементов исследуемого образца с учетом изменения интенсивности характеристического рентгеновского излучения (ХРИ) элементов реперного слоя.При осуществлении анализа устройство работает следующим образом.Вводят в шлюзовой объем 3 камеры исследуемый...