G02B 27/32 — отметки, принятые за основу сравнения, и измерительные шкалы в оптических системах

Страница 2

Устройство для градуировки фотометрических шкал

Загрузка...

Номер патента: 465611

Опубликовано: 30.03.1975

Авторы: Ватулев, Клименко

МПК: G02B 27/32

Метки: градуировки, фотометрических, шкал

...устройства являются: непрозрачные заслонки 1 и 2, поворотные устройства 3 и 4 для вывода заслонокиз светового пучка; приспособле ип 5 и 6 дляперемещения заслонок в плоскости поперечно 10 го сечения пучка, выполненные, например,в виде пластин, перемещающихся в направляющих, и укрепленные на общем основании 7с отверстием 8 для исходного светового пучка.15 При градуировке фотометрической шкалыоснование 7 жестко закрепляется на корпусеградуируемого прибора. В световой пучокприбора вводятся обе заслонки 1 и 2. С помощью приспособлений 5 и 6 заслонки уста 20 навливаются в плоскости основания 7 так,чтобы обеспечивалось соприкосновение их рабочих граней. Формы рабочих граней заслонок 1 и 2 соответствуют друг другу и при ихсоприкосновении...

Устройство для аттестации штриховых мер

Загрузка...

Номер патента: 505005

Опубликовано: 28.02.1976

Авторы: Данилов, Мутовкин

МПК: G02B 27/32

Метки: аттестации, мер, штриховых

...с положительным смещением на сетке (на чертеже не показан).10 Перед фотоприемниками размещены диафрагмы 7, обеспечивающие прохождение накатод (не показан) фотоприемника светового потока в зоне первого минимума дифракционной картины. Обработка сигнала с фотоприемников 6 15 происходит в дифференциальном усилителе 8и частотомере 9.Штриховая мера 1 перемещается вместе состолом (не показан) делительной машины при нарезании очередного штриха, освещается ис точником 2 монохроматического света. Лучлазера расширяется и коллимируется оптической системой 3. Далее фотоприемники 6 регистрируют манимумы дифракционной картины от щели 5 и аттестуемого штриха 10.25 Сигналы с фотоприемников поступают на усилитель 8 и далее на частотомер 9....

Устройство формирования фигур сеток оптического прибора

Загрузка...

Номер патента: 542968

Опубликовано: 15.01.1977

Авторы: Майраков, Парняков

МПК: G02B 27/32

Метки: оптического, прибора, сеток, фигур, формирования

...матовую поверхность экрана микропроектора,Ролик 11 установлен при помощи опорного кольца 14 во втулке 15 и вращается вокруг своей оси при помощи рукоятки 16.При вращении ролика 11, контактирующего с планками 8, каретки 4 сетками смещаются в противоположные стороны и симметрично.При вворачивании винтов 9 в планки 8 последние смещаются в пазах кареток 4 и уже не контактируют с цилиндрической поверхностью ролика 11.Устройство работает следующим образом.При отворачивании винтов 9 планки 8 контактируют с роликом 11, и при вращении рукоятки 16 в ту или другую сторону каретки 4 с сетками смещаются симме 1 рично в противоположные стороны. При вворачивании одного из винтов 9 одна из планок 8 перестает контактировать с роликом 11 и при вращении...

Юстировочное устройство для передающей трубки телевизионной камеры

Загрузка...

Номер патента: 572743

Опубликовано: 15.09.1977

Авторы: Быкова, Кулаков

МПК: G02B 27/32

Метки: камеры, передающей, телевизионной, трубки, юстировочное

...диапроекторы распо лояены во взаимно перпендикулярных плоскостях на плоском кольце 5, расположенном перед планшайбой передающей трубки 7, ось 15 этой трубки проходит через точку пересечениявизирных осей диапроекторов, причем прямоугольная призма 3 каждого диапроектора оптически связана с соответствующей ромбовидной призмой 4, расположенной на кадрирую О щей рамке 6 с непрозрачными шторками.Юстировочное устройство работает следующим образом.Реперные метки четырех диапроекторовпроецируются в плоскость фотослоя 8 пере дающей трубки на крайние зоны телевизионного растра, расположенные на горизонтальной и вертикальной осях, проходящих через центр растра.В видеосигнале оЗО перных меток, кототоматического регулирования размеров...

Имитатор плоскости для аттестации плоскомеров

Загрузка...

Номер патента: 600388

Опубликовано: 30.03.1978

Авторы: Волкова, Левин, Пинаев

МПК: G01B 11/24, G01M 11/00, G02B 27/30 ...

Метки: аттестации, имитатор, плоскомеров, плоскости

...марка Л, выполцец- О ная в виде прозрачного кружка. Для подсвечивания марки А используется осветитель 5 с копденсором б.Имитатор плоскости работает следующим образом.В центре основания 1 помещают испытуемый плоскомер, который последовательно наводят на каждую светящуюся марку оптической оси каждого коллиматора и определяют таким образом полную погрешность испытуемого прибора.При определении составляющих погрешности, например величины углового отклонения визирной оси от ее первоначального положения, визирную ось испытуемого прибора выставляюг по первой и последней марке оптической оси одного из коллиматоров так, что в поле зрения испытуемого плоскомера изображения этих марок совмещаются со штрихом перекрестия. Вращая плоскомер на...

Устройство для аттестации штриховых мер

Загрузка...

Номер патента: 877461

Опубликовано: 30.10.1981

Автор: Бобро

МПК: G02B 27/32

Метки: аттестации, мер, штриховых

...схему 11 и 12 согласования на вход фильтра 13 и 14 нижних частот. Отфильтрованный сигнал поступает на схему 15и 16 дифференцирования. Продифференцированный сигнал поступает на нульорган 17 и 18, определяющий момент 55 изменения знака производной, который представляется формирователем 19и 20 в виде отсчетного импульса,1поступающего иа вход регистрирующейсистемы , а именно на вход схемы 2 управления. Первым на вход схемы 2 управления поступает отсчетный импульс из блока 10 от 0-го штриха. При поступлении этого импульса схема 21 3 управления включает в работу блок 26 ввода поправки на аттестационную погрешность расстояния между центрами двух щелей образцового элемента.Работа этого блока осуществляет О ся следующим образом.Схемой 21...

Способ градуировки фотометрических шкал оптических приборов

Загрузка...

Номер патента: 1186958

Опубликовано: 23.10.1985

Авторы: Александров, Ватулев, Клименко, Сомсиков

МПК: G01J 1/02, G02B 27/32

Метки: градуировки, оптических, приборов, фотометрических, шкал

...10 с заслонками 5. 5 10 15 20 25 30 35 Поскольку секторный диск 50% уже укреплен на приводном валу, определение дополнительных значений пропускания на фотометрической шкале градуируемого прибора удобно начать со значения Т; = 25%. Для этого световой пучок экранируют заслонкой 5, перемещают при помощи микрометрического винта 6 до тех пор, пока перо самописца не возвратится на деление Тьо), полученное при помощи указанного эталона пропускания. Не выводя заслонки из светового пучка, приводят во вращение секторный диск 7 с номиналом 50% пропускания и получают на фотометрической шкале точку Тр), соответствующую 25% пропускания, согласно соотношению Т; = ( - "-- ) %, так как в данном случае Т, = Т," = 50%.Затем останавливают секторный диск...

Устройство для градуировки спектрофотометрических приборов преимущественно с приемником излучения

Загрузка...

Номер патента: 1531061

Опубликовано: 23.12.1989

Авторы: Мансурова, Саамова, Стрежнев

МПК: G02B 27/32

Метки: градуировки, излучения, преимущественно, приборов, приемником, спектрофотометрических

...спектрометрическийприбор 2, круггую д афрагму 3, устанавливаемую перед Фокальной плоскостьюприбора 2, прицем диаметр йдиафрагмы много меньше Фокусного Ерасстояния прибора (1Е), приемник5 излучения, установленный с возможностью перемещения в фокальной плоскости 1 прибора 2 перпендикулярно егооптической оси 6, и регистрирующуюсистемуФотометрицеская шкала 8 (фиг,2)содержит основной дифракционный мак 30симум 9 и вторицные дифракционныемаксимумы 1 О,Устройство работает следующим образом.Излучение от истоц ика 1 иэлучения с длиной волны Л проходит черезприбор 2 круглую диафрагму 3 и фокусируется в Фокальной плоскостиприбора. При этом в Фокальной плоскостинаблюдается дифракционная картина,состоящая из основного дифракционного максимума...

Устройство для аттестации линейности дифракционной решетки

Загрузка...

Номер патента: 1205103

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Горелик, Коваленко, Турухано

МПК: G02B 27/32

Метки: аттестации, дифракционной, линейности, решетки

...фазовой модуляции светового пучка по периодическому закону, Фотоприемники Ь и 7 расположены в плоскости, перпендикулярной направлению 5 одного из порядков дифракции выше нулевого (см. выражение 1), причем они установлены на прямой, перпендикулярной биссектрисе угла между штрихами решеток, т.е, параллельно 10 муаровым полюсам. Это позволяет осуществить измерения разности фаз независимо от изменения их периода.Таким образом, неточности изготов ления направляющих (м до 100 мкм/м), 15 в которых перемещается аттестуемая решетка 11, приводящие к изменению угла между решетками при их взаимном перемещении, а следовательно, к изменению периода муаровых полос, 20 не оказывают влияния на результат измерений. Вследствие такой установки...

Оптическая система для юстировки

Загрузка...

Номер патента: 1603332

Опубликовано: 30.10.1990

Авторы: Безруков, Вдовин, Лаптев

МПК: G02B 27/20, G02B 27/32, H01K 7/02 ...

Метки: оптическая, юстировки

...М,Моргентал,Касарда Корректор Э.Лончакова дакт каз 3383 Тираж 462 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ ССС 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 зводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 1 Изобретение относится к электротехнической промышленности и может быть использовано в технике и медицинской практике для точного наведения пучка рентгеновских лучей при помощи оптической системы на определенную точку исследуе,мого объекта.Цель изобретения - упрощение юстировки оптической системы,На фиг, 1 представлена оптическая система для юстировки; на фиг. 2 - лампа накаливания, использованная в этой системе.Лампа 1 накаливания расположена в фокусе отражателя 2,...

Способ поверки фотометрических шкал

Загрузка...

Номер патента: 1644067

Опубликовано: 23.04.1991

Автор: Макаров

МПК: G01J 1/02, G02B 27/32

Метки: поверки, фотометрических, шкал

...позволяет повысить точность поверки фотометрической шкалы, исключив влияние расфокусировки и эффекта переотражения и позволяет поверить фотометрическую шкалу вблизи значения коэффициента пропускания 100%.Фильтры для данного способа могут быть изготовлены в виде двух наборов нейт ра льны х осл абителей, удовлетворя ющих следующему условию где Ь, а - толщина и показатель преломления соответственно нейтральных ослабителей первоо набора,1, п - толщина и показатель преломления соответственно нейтральных ослабителей второго набора;й, М - число ослабителей в первом и втором наборе соответственно,Отношение коэффициентов пропускания наборов либо рассчитывается, если известны показатели преломления и коэффициенты поглощения отдельных...

Оптический прицел

Загрузка...

Номер патента: 1630504

Опубликовано: 30.03.1994

Автор: Степин

МПК: G02B 27/32

Метки: оптический, прицел

...ет сходящийся пучок, направленный отражателем 5 в точку Г, в параллельный. При наличии недостатков зрения они могут быть скорректированы п 4 движкой окуляра, в равной мере влияющей на лучи, идущие от це ли, и на лучи, идущие от марки.фб) Глейхен А. Теория современных оптических инструментов. Л.-М;:, ОНТИ НКТП СССР, 1935, с.125 - 126.Патент США М 3524710,20 кл,602 В 23/10, 1976. Формула изобретен ия25ОПТИЧЕСКИЙ ПРИЦЕЛ, содержащий зрительную трубу, состоящую иэ объектива и отрицательного окуляра, марку, фокусирующий элемент и светоделитель, отличающийся тем, что, с целью получения воэ можности коррекции недостатков глаза,Составитель Е.ВдовинаТехред М.Моргентал Корректор Е. Папп Редактор Т.КУркова Тираж Подписное НПО "Поиск"...

Оптический прицел

Номер патента: 1630505

Опубликовано: 30.05.1994

Автор: Степин

МПК: G02B 27/32

Метки: оптический, прицел

1. ОПТИЧЕСКИЙ ПРИЦЕЛ, содержащий закрепленную над прицельной планкой коллимационную оптическую систему, состоящую из светоделителя и фокусирующего отражателя, в фокальной плоскости которого установлена марка, отличающийся тем, что, с целью получения возможности наблюдения цели и марки двумя глазами одновременно, он содержит вторую коллимационную оптическую систему, смещенную в горизонтальном направлении относительно первой на величину среднего межзрачкового расстояния.2. Прицел по п. 1, отличающийся тем, что марки коллимационных оптических систем совмещены, а фокусирующие отражатели имеют общий центр кривизны.