G01N 23/202 — с использованием нейтронов

Номер патента: 1029057

Опубликовано: 15.07.1983

Автор: Нитц

МПК: G01N 23/202

Метки: монокристаллов, структуры

Номер патента: 1432395

Опубликовано: 23.10.1988

Авторы: Баллод, Булкин, Голосовский, Зеленюк, Касман, Петрунин, Сорокин, Трунов

МПК: G01N 23/202

Метки: дифрактометр, нейтронный

...приводом 16, обеспечивающим независимый поворот модуля над частью платформы, свободной от секций. В секциях расположены однощелевые коллиматоры 17, обращенные на кассету 5 с образцом, и вертикально расположенные счетчики 18 нейтронов. На неподвижном основании 1 смонтированы датчик 19, фиксирующий момент отделения секции, и датчик 20, срабатывающий после прохождения секцией падающего пучка 21 нейтронов.Нейтронный дифрактометр работаетследующим образом.Кассету 5 наполняют образцом и закрепляют на оси 3. Платформу 2 устанавливают в такое положение, что за образцом первоначальный пучок 21 нейтронов приходится на стык секций 6 и 7. Все электромагнитные замки 14 вкшочены и секции стыкованы между собой. Проводится измерение дифракционной...

Номер патента: 1673934

Опубликовано: 30.08.1991

Автор: Лебедев

МПК: G01N 23/202

Метки: вещества, исследования, малоуглового, нейтронов, помощью, рассеяния, структуры

...вектора й, лежащего в плоскости, перпендикулярной начальному направлению пучка, Масштаб расстояний, на котором происходит изменение Й(й), и поведение ее в пространстве, как известно (4), характеризуют структуру исследуемого объекта. Для получения наиболее полной информации о структуре необходимо провести измерения интенсивности рассеяния в широком диапазоне ймин 4 й ( Вмакс, т,е. сканирование по параметру й = (Я/Л) и угловое перемещение решеток при каждом значении модуля В 1. Границы диапазона доступных для измерения пространственных масштабов соответствуют наиболее удаленным решеткам ймакс - А макс/Л и в другом пределе - наиболее сближенным ймин = А мин/Л если задан определенный период решеток Л Задавая период Л и...