Патенты с меткой «теневого»

Номер патента: 1511676

Опубликовано: 30.09.1989

Авторы: Кутюлин, Рапопорт, Шкляев

МПК: G01N 29/04

Метки: теневого, ультразвукового

...иэделия беэ искусственных дефектов, в случае наличия дефектов регист.рируют время обнаружения дефекта каждым приемником по уменьшению амплитуды принятого сигнала, По разностивремен обнаружения дефекта каждым изприемников с учетом найденных по искусственным дефектам параметров определяют глубину залегания и протяженность дефекта,(У -М К -2д 12 К разница во времени междуобнаружением дефекта бприемниками 2 и 3, с;разница времени между обнаружением дефекта 5 прием.никами 2 и 3, с;коэффициент пропорциональный скоростИ перемещенияизделия 4, мм/с;коэффициепт, определяемыйуглом т (К = к,/2),где Д,Кч С помощью определенттттх значений Д 1, от. и Н вычисляют угол 3 между акустическими осями в изделии 4 и Способ УЗ-теневого контроля...

Номер патента: 1557516

Опубликовано: 15.04.1990

Авторы: Калинин, Карташова, Качанов, Кутюрин, Потапов, Рапопорт, Соколов

МПК: G01N 29/04

Метки: теневого, ультразвукового

...определяют глубину залегания дефекта по расстоянию между основным и дополнительным зафиксиро 35 ванными положениями изделия с учетом размера минимального выявляемого дефекта.Способ ультразвукового теневого контроля изделий реализуется следую щим образом.По разные стороны изделия 1, например из слоистого пластика, соосно устанавливают пару совмещенных иден - тичных преобразователей 2 и 3, напри мер, на частоту 200 кГц. Преобразователь 2 соединяют с выходом, а преобразователь 3 - с входом УЗ-дефектоскопа 4, например типа УДУМ. В ходе работы дефектоскопа 4 сканируют преобразователями 2 и 3 с сохранением50 соосности изделие 1 и измеряют с помощью дефектоскопа 4 амплитуду принятого сигнала. При уменьшении амплитуды принятых колебаний до...

Номер патента: 1695185

Опубликовано: 30.11.1991

Авторы: Камалов, Комиссарук, Смирнов, Тогулев

МПК: G01N 21/45

Метки: исследования, неоднородностей, оптическая, прибора, прозрачных, средах, теневого

...и астигматизма, но Вследствие нарушения симметрии опт 1 ческой системы имеет слабую кому. Однако качество изобракенп сс.ается более Высоким по сравнению с известныкьНа ОСНОВЕ даННОй ОПтИЧЕСКОй СИСТЕМС. разрабать Ваю гся интерференционно-теневье приборы ИАБ, ИАБ, ИАБИАБ - 468 и "Поток". Оокусные расстояния Объективов соответственно равны 1840, ,000, 3200, 1000 и 1000 мм при относительном отверстии 1,2. Для получения эмпирическбй зависимости были проведены специальные исследования изменения качества йзобракения Опической системы в зависимости отормы положительной линзы и, линь: обьектива, Выбор соотношений не более : и ДруГих, укаэанных В форму" ле изобре.ения, сделан на основе сравнения мноГих Ваоиантов, В которых В каждом...