Патенты с меткой «текстурованных»
Способ измерения остаточных напряжений в текстурованных магнитных материалах
Номер патента: 962822
Опубликовано: 30.09.1982
Авторы: Корзунин, Коробка, Лазарев, Чистяков
МПК: G01R 33/12
Метки: магнитных, материалах, напряжений, остаточных, текстурованных
...образцах после резки и после повторного отжига для снятия нак" лепа 2.Однако известнйй способ нетехно". логичен, требует длительного времени, трудоемок, приводит к бесполезному расходу металла и, главное, не позволяет оценить остаточные напряже-ния в целых листах или по длине рулона на движущейся ленте. но определить, измеряя 8 на материале с напряжениями.Данные фиг. 2 позволяют по зна+чению В с высокой достоверностьюоценить значение удельных потерь.Чем сильнее ухудшаются удельные потери под действием остаточных напряжений, тем сильнее снижается магнитная индукция Вр, Поэтому изменение16 магнитной индукции Вррмаксимальнойпроницаемости под действием оста"точных напряжений характеризует влияние остаточных напряжений на удельные...
Способ определения полюсной плотности текстурованных материалов
Номер патента: 1511652
Опубликовано: 30.09.1989
Авторы: Райгородский, Суров
МПК: G01N 23/20
Метки: плотности, полюсной, текстурованных
...на предмет определения полюсной плотности Р по плоскости,оо 2параллельной оси текстуры, а затемо рассчитывают полюсную плотность Р с вдоль оси текстуры или находят ее из Е градуировочного графика зависимости о о 9 о 9 о Роо ехр(С Роо) = Роо ехр(С Роог)Составитель Е.СидохинТехред И.Верес Корректор Т,Малец Редактор М.Келемешч чччЗаказ 5896/47 Тираж 789 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,101 5 11 линейным прессованием с удельным давлением Р = 10 т/см.Использовался рентгеновский дифра ктометр ДРОН-ЗМ, СоК -излучение. Электрические режимы на рентгеновской трубке: Б...
Способ рентгеновского дифрактометрического анализа текстурованных материалов
Номер патента: 1629828
Опубликовано: 23.02.1991
МПК: G01N 23/20
Метки: анализа, дифрактометрического, рентгеновского, текстурованных
...прц увеличении угла наклона образца, различающихся порядком отражения,110) и г 22 сг.Анализ полученных кривых текс 1) рцой записи образца показал, что преимущественная ориентировка кристаллцтов электро1629828 Формула изобретения 10 Составитель Е. Сидохина Редактор М. Бланар Техред Л. Кравчук Корректор Л Патай Закз 435 Тираж 396 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР3035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 45 Производственно-издательский комбинат Патент, г. Ужгород, ул. Гагарина, 10осажденного железа описывается интенсивной аксиальной текстурой с осью 112 и слабой ограниченной текстурой (112) (110).Количественные характеристики аксиальной текстуры с осью 112 (средний угол рассеяния...