Способ определения полюсной плотности текстурованных материалов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1511652
Авторы: Райгородский, Суров
Текст
(54) СПОСОБ ПЛОТНОСТИ Т (57) Изобре средств рен ля сройств применено д ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОПОСНОИКСТУРОВАННЫХ МАТЕРИАЛОВение относится к областигенографического контроатериалов и может бытья контроля технологичес" по градуировочости= Р ехр(С х средствам-. оля свойств имененоих процесевых и секИзобретение от рентгенографичес материалов и може для контроля техн сов при изготовле торных магнитов,носитс т путем расчета илому графику зависи Роо 2 ехр (С Роо ) 90 ооа ) ф ого конт т быть и ологичес коль по эксперимента чению полюсной плоскости (002) текстуры с помо полюсных фигур,но наиденному знаоотности Роо для параллельной оси ю метода обратных ч повышение проля за счет содготовку образевых или сек- сагональных р и м е р. Прова я радиальной тек аг 1 итах на основс внешним диамеенним 5 мм, толщ изготовлены из с 37,20 Бтп, 62,8 Р; П измерени кольце- нения дилосьстурые соедитром 16иной 3плава,Со, пол ба закл ние пол каждого чается всной плот- технологиадающего с осуществлявых мБтСо .внутрниты м мм со уче кстуры нь щего ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ(56) Б,Ропег, 1 г, Е.1, Мс И 1 ГГ ег а Иапегдс ргорегггев ог соЬа 1 Г. - Бап) гамп ЫгЬ 24 И.С. Ос епегау ргос 1 исг .//Арр 1. РЬув, Ьегс, 1972, ч. 20, И 11, р. 447-449.Русаков А.А. Рентгенография металлов. М.: Атомиздат, 1977, с, 363 Цель изобретеизводительностикращения временицов при контролеторных магнитовматериалов.Сущность спостом, что определности Р вдольческого направлеосью аксиальной ких процессов при изготовлении кольцевых и секторных магнитовЦель изобретения состоит в повышении производительности контроля благодаря сокращению времени на подготовку образцов при контроле кольцевых и сек" торных магнитов из гексагональных материалов. Контролируемый магнит, например, из сплава кобальт - самарий, структура которого характеризуется аксиальной текстурой радиального направления, подвергают рентгенографированию на предмет определения полюсной плотности Р по плоскости,оо 2параллельной оси текстуры, а затемо рассчитывают полюсную плотность Р с вдоль оси текстуры или находят ее из Е градуировочного графика зависимости о о 9 о 9 о Роо ехр(С Роо) = Роо ехр(С Роог)Составитель Е.СидохинТехред И.Верес Корректор Т,Малец Редактор М.Келемешч чччЗаказ 5896/47 Тираж 789 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,101 5 11 линейным прессованием с удельным давлением Р = 10 т/см.Использовался рентгеновский дифра ктометр ДРОН-ЗМ, СоК -излучение. Электрические режимы на рентгеновской трубке: Б = 35 кЧ, 1 = 10 мА. Скорость вращения гониометра 1, градФ /мин, Облучение рентгеновским пучком проводилось в диапазоне углов дифракции 17-38Для определения величины С в расчетной формуле готовился магнит из соединения на основе БгпСо в форме прямоугольного параллелепипеда размером 15 х 17 х 40 ммз. Далее готовились шлифованные поверхности под углами Ц, равными: О, 10, 20, 30, 40, 50, 60, 70, 80, 90 к оси текстуры.Величина С определялась из соотношения90" РАо ооох Роо 2.где 1 - тангенс угла наклона прямой,построенной в координатах1 п Р, от. При этом С = -4,2826.Для исследуемых образцов и порошков из того же сплава проводилось измерение интенсивности дифракционных отражений (101), (110), (200), (111), (002) (201) (112)э (211)э (202)После этого проводился расчет велиочины Р которая равна 0,04. Знаочение Раоопределенное по градуировочному графику, равно 0,67. 1652 Ч Формула изобретенияСпособ определения полюсной плотности текстурованных материалов,включающий олучение образца рентгеновским пуцком, анализ отраженногопучка и расчет полюсной плотности пометоду обратных полюсных фигур, о тл и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения производительностиконтроля за счет сокращения временина подготовку образцов при контролекольцевых и секторных магнитов из15 гексагональных материалов, анализотраженного пучка проводят от кристаллографической плоскости (002),параллельной направлению оси текстурь 1, находят полюсную плотность20 Р , а определение полюсной плотооности вдоль оси текстуры производятпутем пересчета найденной полюснойплотности для плоскости (002) в полюсную плотность Р искомой текстуры с помощью градуировочного графика зависимости Рот Р , , полуо 9 оценного на основе соотношения(Роог ехР(С Роо) = РооехР(С хох Р ),О304где С - величина, постоянная для данного материала и технологических условий изготовлениямагнитов, определяемая с по- .мощью изготовления и анализаэталонных образцов,
СмотретьЗаявка
4222253, 06.04.1987
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ М-5174
РАЙГОРОДСКИЙ ВЛАДИМИР МИХАЙЛОВИЧ, СУРОВ ЮРИЙ ИВАНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 23/20
Метки: плотности, полюсной, текстурованных
Опубликовано: 30.09.1989
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1511652-sposob-opredeleniya-polyusnojj-plotnosti-teksturovannykh-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения полюсной плотности текстурованных материалов</a>
Предыдущий патент: Устройство для определения содержания жидкости в газожидкостном потоке
Следующий патент: Способ рентгеновского дифрактометрического анализа текстуры
Случайный патент: Способ подготовки обоев к оклеиванию