Патенты с меткой «следов»

Номер патента: 1729821

Опубликовано: 30.04.1992

Автор: Тоноян

МПК: B44B 1/00

Метки: наклонной, отвесной, поверхности, следов, слепков, тонояна

...пластину 5, приспособление освобождают от дверной коробки и вынимают готовый слепок.При наличии следов взлома на дверной коробке ступенчатой формы приспособление также, как и в первом случае устанавливают на дверной коробке и фиксируют с помощью винта 10, Однако нижняя кромка наклонной стенки 1 не плотно прилегает к коробке из-за наличия ступени. Между наружной поверхностью боковой стенки 2 и выступающей ступенью образуется щель, которую закрывают съемной пластиной 9, притягиваемой к стенкам приспособления, так как последние выполнены из железосодержащего металла, а пластина 9 - из магнита.Между внутренней боковой стенкой 2 и прижимной пластиной 5 на уровне ступени дверной коробки с помощью крючка 13 накидывают съемную перегородку 12,...

Номер патента: 1742758

Опубликовано: 23.06.1992

Авторы: Кишваради, Сороко, Терещенко, Торма

МПК: G01T 5/10

Метки: поиска, следов, частиц

...следов частицработает следующим образом,Включают источник 1 коллимированного пучка света, фотоприемники 7, дифференцирующие блоки 8, блок 9перемножения сигналов, блок 10 записиданных, а также систему 5 перемещения иконтроля положения ядерной фотоэмульсии, Ядерную фотоэмульсию устанавливаютв рабочее положение так, чтобы ориентацияискомого следа частицы была параллельнаузкой освещенной области слоя ядерной фотоэмульсии, но перпендикулярна векторускорости ч движения ядерной фотоэмульсии на стадии поиска. Процесс ведут до техпор, пока в блок 10 записи данных не поступит сигнал искомого следа частицы. Предлагаемое устройство может работать безсбоев при более высоком уровне фона отслучайных зерен серебра, чем известное.Не возникает...

Номер патента: 1807511

Опубликовано: 07.04.1993

Авторы: Гранкин, Екимов, Маслов

МПК: G09B 23/02

Метки: демонстрации, положения, прибор, пространстве, следов, точки

...проекций П 2, связанная с помощью шарниров 3, имитирующих оси проекций Х и Е, с пластинами 4 и 5, имитирующих плоскости проекций горизонтальную П 1 и профильную Пз соответственно, Жесткая линия связи 6 в виде стержня закреплена на панели 2 подвижно, например, с помощью гайки 7 и цилиндра 8 (фиг.8). На конце жесткой линии связи 6 расположен объект 9, имитирующий точку и связанный эластичными нитями 10, установленными перпендикулярно к пластинам 4 и 5, т,е. к плоскостям проекций П 1 и Пз. В местах крепления эластичных нитей 10 и гайки 7 к пластинам 4,5 и 2 нанесена маркировка, соответствующая проекциям точки на соответствующие плоскости проекций.Прибор работает следующим образом; плоскости проекций П 2, П 1 и Пз, т,е. панели 2, 4...

Номер патента: 1830500

Опубликовано: 30.07.1993

Автор: Сороко

МПК: G01T 5/10

Метки: обмера, следов, частиц

...из условия: Льтгпахп 2 - 1 2-- М,где ЛЬ - глубина аксиально сканируемогоучастка слоя ядерной Фотоэмульсии настадии прецизионного сканированиявдо оси г,М - линейное увеличение обьективов,М= И):11 - расстояние от обьектива до точкифокуса;1 - расстояние от точечного источникасвета (или точечного фотоприемника) до освещающего (или изображающего) обьекти-.ва;п 1 - показатель преломления света вядерной фотоэмульсии;п 2показатель преломления света воптическом диске, число ступенек 1 ч на каждой дорожке оптического диска выбрано изусловия: 5 10 15 20 25 30 35 40 50 55 где Л Л - аксиальное разрешение конфокальной системы из двух обьективов,Описываемое устройство с прецизионным сканированием работает следующим образом (фиг,2),Лучи света из...

Номер патента: 1837841

Опубликовано: 30.08.1993

Автор: Тоноян

МПК: A61B 5/117

Метки: обуви, следов, слепков, снятия, тонояна

...длины, выступающей из втулки 16 штифта 17, имеющей сферическую(или коническую) форму.Устройство используют следующим образом. Первоначально, не соприкасая со следом, сверху его подносят к контуру следа. Определив в какую сторону и на сколько нужно изменить размер приспособления, чтобы он был больше следа на один размер, . т.е, на два отверстия 6, увеличить или уменьшить, оттянуть пружину 18 фиксатора 5 и раздвинуть или задвинуть перемещаемые вдоль обоймы 3 направляющие на нужную величину, Фиксируют данное положение, вставив штифт 17 фиксатора 5 в нужное отверстие 6. После этого смазывают внутренн 1 ою поверхность приспособления тампоном с.вазелином для предотвращения прилипэния гипса.Далее устройство устанавливают таким...

Номер патента: 1820739

Опубликовано: 20.07.1995

Автор: Баранов

МПК: G01T 5/10

Метки: заряженных, микрофотографирования, следов, частиц

...4 показаны результаты последовательного фотографирования обращенных частичных изображений (фиг, 3) с целью их наслаивания на общем снимке, в том числе для глубины сечения 5, для глубины сечения 6+ 6, для глубины сечения 5+ 6+ 7, для глубины сечения 5+ 6+ 7+ 8,Предлагаемый способ микрофотографирования реализуется следующим образом, Микрофотографирование выполняют на микроскопе с фотонасадкой, В конкретном примере использован универсальный микроскоп МБИ, позволяющий применять темнопольный и иные методы освещения. Микроскоп должен иметь устройство для прерывания доступа света (затвор) и позволять вести наблюдение за объектом во время фотографирования. Выбирается объект съемки, масштаб увеличения, В поле зрения необходимо выбрать...

Номер патента: 1319692

Опубликовано: 27.06.2000

Авторы: Злобин, Костышева, Кюрегян, Сорокин, Шуман

МПК: G01N 23/225

Метки: анализа, локального, образцов, подготовки, следов, элементов

Способ подготовки образцов для локального анализа следов элементов, находящихся в перенасыщенных твердых растворах с ограниченной растворимостью, включающий выделение преципитатов, отличающийся тем, что, с целью расширения спектра примесей, содержащихся в преципитатах в концентрации, превышающей пороговую чувствительность M используемой методики локального анализа, образцы отжигают после выделения преципитатов при температуре интенсивного распада твердого раствора (0,4 - 0,7) Tпл в течение времени от tмин до 10tмин,где ;D(T) и Vа - коэффициент диффузии и объем атома...