G01J 9/00 — Измерение оптической разности фаз; определение степени когерентности; измерение длины оптической волны

Номер патента: 158703

Опубликовано: 01.01.1963

МПК: G01J 9/00

Метки: 158703

...прибора устанавливают визуализирующую диафрагму, после чего в непосредственной близости исследуемой неоднородности устанавливают непрозрачную диафрагму.Полученное теневое дифракционное изображение неоднородности и непрозрачной диафрагмы измеряют фотоэлектрическим или фотометрическнм способом, измеряя интенсивности света в дифракционных максимумах, расположенных на изучаемой неоднородности и дополнительной диафрагме. Полученные результаты подставляют в формулу где 1 и 1 о - интенсивность света в сравниваемых дифракционных максимумах,2-,.к = -- волновое число, б - измеряемая разность хода. Теория способа основана на дифракционной теории теневых приборов. Способ может быть использован при измерении фазовых пластинок, газодинамических...

Номер патента: 418772

Опубликовано: 05.03.1974

МПК: G01J 9/00

Метки: 418772

...1, движущийся плазменный или электронный сгусток 2, зеркала 3 и 4, приемник зондирующего излучения 5. где Ь=1+д 1 да+б, а - угол падения зондирующего излучения на сгусток, д - толщина, 1 - длина сгустка, о - скорость сгустка; б - толщина луча зондируощего излучения. Этот световой сигнал отражается от зеркал 3, 4 ц снова пересекает траекторшо сгустка, движущегося вдоль оси ОХ, в точке Х 0, пройдя путь 1.=0 Л+ЛВ+ВХ 0 за времяСравнивают время 1 с временем пролета 1 х сгустком расстояния Х=ОХ 0, изменяют длину пролетной базы до совпадения 1 Х, и 1 х, характеризующегося тем, что световой сигнал еще раз взаимодействует со сгустком в точке Х 0. Сигнал, являющийся результатом двойного взаимодействия света со сгустком, регистрируют...

Номер патента: 1120178

Опубликовано: 23.10.1984

Авторы: Воинков, Дрынкин, Зубайраев, Коробов, Кравченко, Петухов, Тихомирова

МПК: G01J 9/00

Метки: газа, геохимических, месторождений, нефти, поисков

...которой определяют содержаниехимических элементов, преимущественноИа, Яс, Со, Аз, ЯЬ, НГ, Се, Яш, 1,ц,Сг, Ре, Ац, Ец, и по их аномальномураспределению оценивают перспективность нефтегазоносности исследуемыхплощадей.Установлен ряд химических элементов, геохимические свойства которыхв наибольшей степени зависят отфизико-химической обстановки, определяемой продуктами распада углеводородов, мигрирующих из залежей нефтии газа. Современные аналитическиеметоды, в частности, инструментальныйнейтронно-активационный анализотличающийся найболее высокой чувствительностью и точностью, позволяютизучать геохимию таких, например,химических элементов, как Иа, Яс,Сг, Ре, Со, Аз,ЯЬ, Се, Яш, Ец, 1.ц; НГ, Ац, ТЬ, являющихся геохимическими...

Номер патента: 1406455

Опубликовано: 30.06.1988

Авторы: Зубков, Сайдов, Юдович

МПК: G01J 9/00

Метки: волны, отражении, световой, сдвигов, фаз

...свою очередвится зависимым от показателяния образца, так что влияниепоказателя преломления а 6,измерения угла падения взаимноруются.Прияер. Способ используют л,ления абсолютных сдвигов фаз прнии от границы гексан - воздух,наливают в прозрачную кювету, по 5 1 О 15 20 25 2торой имеет конфигурацию трапецеидальной призмы. Измерение интенсивностей проводится на длине волны, соответствующей Р-линии натрия, что дает возможность сравнить полученные результаты с теоретическими. В качестве эталонной среды выбран диодметан. Измеряют при интенсивности света при фиксированном положении поляризатора и трех положениях анализатора (параллельно, перпендикулярно и под углом 40 к плоскости падения). Затем вычисляют значения параметров ф и Л...

Номер патента: 1427971

Опубликовано: 30.06.1991

Автор: Скляров

МПК: G01J 9/00

Метки: излучения, измеритель, когерентности, лазера, степени

...световоды 15 и 16 выбирать одномодовыми, С помощью юстировочного механизма диафрагма 8 установле." на так, чтобы ее щель располагалась против темной интерференционной полосы. Проходящее излучение в темной полосе через щель диафрагмы 8 направляется на первый фотодетектор 9. Выделяющийся в его нагрузке электрический сигнал поступает на вход узкополосного усилителя 10, настроенного на удвоенйую модулирующую частоту 2 й,. Выходное напряжение усилителя 10 выпрямляется выпрямителем 11 и поступа" ет на один вход измерителя 12 отношений, На его другой вход поступает напряжение постоянного тока, выделен-. ное в нагрузке второго Фотодетектора 13, На входе диафрагмы 8 образует-,: ся интерференционная картина в результате интерференции потоков.В...

Номер патента: 1220436

Опубликовано: 30.01.1993

Авторы: Боровой, Ивонин, Кабанов, Седин

МПК: G01J 9/00, G03H 1/16

Метки: излучения, когерентного, параметров

...излучения. Дальнейшее распространениепреобразованного светового поля зафокальной плоскостью подчиняетсязаконам распространения в свободномпространстве. Во фраунгоферовой зонеотносительно размеров изображенияамплитудного модулятора. будем иметьсимметрию пятнистой структуры излучения за счет Фурье-преобразованияют амплитудного модулятора и наруше 40ние симметрии за счет шумов от пространственных флуктуаций Фазы в изобра",женин амплитудного модулятора. Нетрудно показать, что пятнистые структуры интенсивности в .этой областиидентичны картине в плоскости изобра-.жения точечного источника, но имеютиной масштаб. Увеличение масштабовпроизводят изменением параметровпреобразующей системы или изменениемместонахождения плоскости регистрации, при...