Патенты с меткой «облученности»

Номер патента: 219818

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Волкенштейн, Кувалдин

МПК: G01J 1/04

Метки: зонд, облученности, пространственной, сферической, фотометрический

...или мгновенной мощности излучения светоприемник выполнен в виде полой кварцевой сферы, матированной изнутри и полированной снаружи, с отверстием, примыкающим к световоду.Этот зонд дает возможность измерять пространственную или сферическую плотность энергии или мгновенной мощности излучения ламп накачки в любой точке внутренней полости ОКГ, Использование цветных светофильтров позволяет производить измерения в ограниченных спектральных участках, в том числе в области полос поглощения материала генерирующего стержня.На чертеже приведен описываемый зонд.Он состоит из оветоприемннка 1 с цветными светофильтрами, световода 2 с металлическим кожухом и фотоэлектрического приемни.10 ка 3. Светопрнемник, изготовленный нз кварца, полый,...

Номер патента: 470736

Опубликовано: 15.05.1975

Авторы: Згуровская, Карилер, Римм, Халликсоо

МПК: G01N 21/02

Метки: воздействий, контроле, облученности, поверхности, посторонней, светотехническом, устранения

...материала 4 падает также излучение постороццих источников 10, которое имеет постоянную и переменную составляющие амплитуды по времени, Таким образом, суммарная облученность поверхности материала состоит из переменной составляющей модулированного луча 3 постоянной и переменной составляющих посторонних источников 1 О. При данной мощности источцика 1 ца поверхности материала достигается наибольшее отношение амплитхд облученности от модулированного луча 3 и от посторонних источников 10, так как неселективный модулятор 2 только прерывает лучистый поток, не уменьшает его силы прц пропускании. Через селективный модулятор 6 проходит излучение отраженного луча 5 только с теми длинами волн, которые пропускаются его селективными элементами....

Номер патента: 520561

Опубликовано: 05.07.1976

Авторы: Гикалко, Микулин, Писной, Федоренко

МПК: G03C 7/12

Метки: облученности, пленок, фоторезистов

...р и м е р. формируют на проводподложке субмикронную светочувствиту для типоофсетной печати из фомарки С 6 на основе смешанныхв. На универсальном диэлектром икулин, В. И. Гикало, Б. Я. Писной и Т. П,федоренко 2типа ОН 301 (ВНР) измеряют электричес,кие параметры пленки (см. таблицу) в про 1 цессе ее экспонирования актиничкым излучением лампы ДРШв следующих усло;виях: частота 3 мгц, давление электродов та образец 0,55 кгс/см 2, площадь электро дов 3,14 см 2, температура окружающейф осреды 20 С, атмосферное давление 755 мм рт.ствлажность воздуха в помещении 85%, Толщину пленки измеряют на интерферометре марки МИИпосле экспонирования ее и проявления рельефа.Изменения электрических параметров пленки фоторезиста марки С 6 после...

Номер патента: 744246

Опубликовано: 30.06.1980

Авторы: Геращенко, Сарычев, Семилетов, Сокальский

МПК: G01J 5/04

Метки: облученности, сферической

...снижает точцось и треб)уст больших затрат времени. Кроме того, это устройство це позволяет определять мгиовецые зцачеция сферической облучености.Извес 1 цостройство дл 5 Измереци 5 сферической облучеццостц, содержацее приемник излучения в виде полой сферы (2. К недостаткам данного устройства следует отнести то, что цз-за спектрального поглощения лучистой энерчш спектральный диапазон применимости этого устройства ограничен, а точность измерений цедостаточцо высока. Целью изобретен. я является повышениеточности цзмерец:ярасширение спектр "льцого;папазца цзмереций. Для дости 5 кеп.5 указ;иной ;е,и в устройстве, и 5 с)о щем црс: ц: к излучения в виде полой сферы, сфера выполцс;а пз непрозрачного материала с 60 отерстц 5 ми, распределенымц...

Номер патента: 779405

Опубликовано: 15.11.1980

Авторы: Кузнецов, Смоляренко

МПК: C21C 5/52

Метки: моделирования, облученности, футеровки

...интервалу. Начальная и конечная точки измерения (4 и 10) находятся на диаметре, проведенном через центральную ось горящей дуги 1., Такое размещение точек измерения обеспечивает симметричность их расположений относительно электродов и минимальное их число. Измерения на модели проводятся чувствительным датчиком, например фотоэлементом, подключенным к вторичному прибору, например милливольтметру.При обработке результатов измерения (облученность измеряют в точках 4-15) учитывали облученностьот всех трех дуг, используя симметричность модели и свойство аддитивности лучистых потоков. Свойствоадцитивности означает, что суммарныйлучистйй лоток складывается из потоковотдельных источников излучения.Симметричность модели (кратностьугла между...

Номер патента: 1034653

Опубликовано: 15.08.1983

Автор: Молчанов

МПК: A01G 7/00

Метки: облученности, растений, уровня

...значения позволяет снизитьвредное воздействи е на растениядепрессии фотосинтеза, так как низкий уровень облученности снижаетинтенсивность фотосинтеза, и темсамым обеспечивает преобладание оттока ассимилятов над их накоплением, и достичь накопления за времяТ 1 наибольшего количества хлорофилла в силу того, что в растении приотносительно низкой облученностистимулируется значительно большееобразование хлорофилла, чем при высокой облученности, которая является оптимальной для интенсивногоФотосинтеза.Создав в растении за время Т облученностью Е наибольшую концентра 1цию хлорофилла, тем самым увеличивпотенциальную возможность растенийпоглощать энергию излучения, переходят к облучению высокой облученностью Е (о). При этом...

Номер патента: 1402291

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Михайленко, Мякишев

МПК: A01G 9/26

Метки: облученности, температуры, теплицах

...до 50 Е максимально возможной величины облученности, то дешифратор 25 запускает таймер 27, который формирует импульс соответствующей длительности, который на время своей длительности переводит ключевой элемент 14 в положение в, подключая к блоку 13 сравнения задатчик 15 с мень. шей величиной задающего сигнала по сравнению с задатчиком 16.За время длительности импульса, формируемого таймером 27, на выходе блока 13 сравнения формируется отрицательный сигнал как и в случае пре 1 вышения температуры воздуха в теплице 1 заданного значения. При этом за этот интервал времени уменьшается14022916 температура теплоносителя, поступаю- оперативных изменениях освещенности Щего в систему 2 отопления на величи" в теплице за счет влияния естествен....

Номер патента: 1206995

Опубликовано: 07.06.1991

Авторы: Жербин, Комар, Николаевская, Чухловин, Щедрина

МПК: A61B 10/00

Метки: диагностики, облученности, организма

...изобретения является ускорение способа.1.Способ осуществляется следующим образом.Кровь у крысы-самца массой 180 г г забирают в количестве 0,3 мл О и смешивают с равным объемом среды Игла, .содержащей 20 Едмл гепарина. Подученная клеточная взвесь наносится на вату - 20 мг помещенную в стеклянную колонку - туберкулиновый 15 шприц. Высота столба ваты должна быть 40 мм. Затем колонку термостатируют О мин при 37 С и выдавливают содержимое поршнем. Подсчет лейкоцитов и адгеэивных лейкоцитов пронэво длт после 1 О-кратного разведения в 37.-ной уксусной кислоте с метиленовой синью в камере Горячева при 150-кратном увеличении.Коэффициент адгезии (А) рассчиты вается по Формулеи - пА- " -- ,игде и - общее количество лейкоцитов; ЭОи - количество...