Патенты с меткой «низкомодульного»

Номер патента: 1013404

Опубликовано: 23.04.1983

Авторы: Виденин, Дьяконов, Мирсанова, Михалев

МПК: C01B 33/32

Метки: жидкого, низкомодульного, стекла

...прочностных свойств образцовна основе ниэкомодульного жидкогостекла (,М = 2,15) от времени смешивания высокомодульного жидкого 45стекла с едким натром; на фиг. 2зависимость прироста плотности низкомодульного стекла НМС (М = 2,15)и высокомодульного стекла ВМС (М=28)от концентрации МаОН,50На основе экспериментальных данных было выбрано оптимальное время 2, Способ по п. 1, о т л и ч а ю щ и й с я тем,.чтс, с целью исключения расслоения компонентов стекла, смешение раствора силиката щелочного металла с .едким натром произнодят в течение 15-18 мин. 2перемешивания компонентов низкомодульного жидкого стекла ( фиг,1 ).Качестно перемешивания оценивали по прочности на разрыв(б кг/см ) образцов, изготовлейных по ГОСТ 234097- 78 с...

Номер патента: 1536256

Опубликовано: 15.01.1990

Авторы: Буйлов, Дятченко, Корягин, Яковлев

МПК: G01N 3/32

Метки: декремента, изгибных, колебаний, колебаниях, низкомодульного

...и потенциальной энер)-ией деформирования при иэгибных колеба 50 няях подложки и сОставного образца. Повышение точности обусловлено Опредепением декремента колебаниЙ в режиме установившихся колебаний при фиксированных частоте и амплитуде дефорэ маций, Использование пОДЛОжки в ви де балки равного сопротивления динамическому изгибу Обеспечивает близкое с частотой, равной измеренной резо-. нансной частоте подложки. Амплитуду колебаний составного образца задают из условия равенства амплитуды деформации на поверхности подложки, измеренной ранее амплитуде деформации на поверхности подложки. Измеряют амплитуду колебаний защемленного конца составного образца и сдвиг фаз между ьозбуждающей силой и вызываемой ею деформацией, регистрируют...