Патенты с меткой «микроскопа»

Номер патента: 1775706

Опубликовано: 15.11.1992

Авторы: Буцевицкий, Вознесенский, Курчинская, Родионов, Сокольский, Фокина

МПК: G02B 21/02

Метки: микроскопа, объектив, планахроматический

...и астигматиэма,Исследуя наличие стекол в ГОСТе13659-78, пришли к выводу, что первый отрицательный мениск и плосковыпуклая линза выполнены из стекла с показателемпреломления не более 1,5 и коэффициентомсредней дисперсии не менее 68, а второйотрицательный мениск выполнен из стеклас показателем преломления не менее 1.75 икоэффициентом средней дисперсии не более 28, для коррекции хроматических аберраций, особенно хроматизма увеличения, атакже кривизны изображения и астигматизма,На фиг; 1 дана оптическая схема планахроматического объектива микроскопа,где 1 - первый отрицательный мениск, обращенный вогнутостью к пространствупредметов, 2 - положительная плосковыпуклая линза, 3 - второй отрицательный мениск, обращенный вогнутостью...

Номер патента: 1775707

Опубликовано: 15.11.1992

Авторы: Буцевицкий, Вознесенский, Иванов, Курчинская, Пржевалинский

МПК: G02B 21/02

Метки: микроскопа, объектив

...выполнен в виде одиночной плосковыпуклой линзы, что повышает технологичность объектива с одной стороны, и обеспечивает коррекцию сферической аберрации и комы для точки на оси. Склеенная линза положительного компонента выполнена в виде отрицательного мениска, обращенного вогнутостью к пространству предметов, служит для коррекциисферической аберрации широких наклонных пучков лучей в меридиональном и сагиттальном сечениях.В отрицательном компоненте двусклеенных мениск обращен вогнутостью к пространству изображения для исправления кривизны изображения и астигматизма, а также для устранения хроматизма увеличения,В отрицательном компоненте за двусклеенным мениском по ходу луча введен одиночный положительный мениск, обращенный вогнутостью к...

Номер патента: 1777113

Опубликовано: 23.11.1992

Авторы: Буцевицкий, Курчинская, Пржевалинский, Родионов, Усоскин

МПК: G02B 21/02

Метки: ахроматический, микроскопа, объектив

...увеличению переднего рабочего отрезкаобьектива и коррекции сферической аберрации третьего и высших порядков дпя точки на оси.Второй компонент представляет собойдвояковыпуклую линзу, склеенную из отрицательного мениска, обращенного вогнутостью к изображению, и двояковыпуклой линзы, Такое выполнение второго компонента служит для коррекции хроматических аберраций, а также для исправления кривизны изображения и астигматизмэ.Выполнение третьего компонента в виде мениска, обращенного вогнугостью к предмету, обеспечиваетустранение кривизны изображения и астигматизма, а такке сферической аберрации широких наклонва, равной бесконечности, Исследуя наличие стекол, имеющихся в ГОСТе 13659-78, приходим к выводу, чтодля коррекции хроматизма...

Номер патента: 1778737

Опубликовано: 30.11.1992

Авторы: Буцевицкий, Демченко, Курчинская, Пржевалинский, Родионов, Сокольский

МПК: G02B 21/02

Метки: ахроматический, микроскопа, объектив

...расстояния объектива,В предлагаемом варианте расчета объектива поперечная сферическая аберрация для точки на оси не превышает 0.030 мм во всем спектральном диапазоне,Волновая аберрация по зрачку не превышает 0,54 Л во всем спектральном диапазоне и 0,04 Л- для основной длины волны,Кривизна иэображения и астигматизм равны: у = -0,5 мм, у = -0,35 мм; к с = -3,10 мм; г = -1,05 мм; х з = -4,26 мм, г= 1,64 мм; г з - х= -1,16 мм; г з - г= -0,59 мм.Хроматизм увеличения по всему полю не превышает 0,013, т.е. практически устранен,Предлагаемый объектив рассчитан на длинутубуса бесконечность, поэтому расчет аберраций производился с учетом тубусной линзы.Средняя квадратичная волновая аберрация для точки на оси равна 0,073 Л. Значение...

Номер патента: 1781661

Опубликовано: 15.12.1992

Авторы: Буцевицкий, Курчинская, Пржевалинский, Родионов, Сокольский, Фокина

МПК: G02B 21/02

Метки: ахроматический, микроскопа, объектив

...а третий, выполнен в виде отрицательного мениска,обращенного вогнутостью к иэображению ивключающего двояковыпуклую и двояковогнутую линзы, одиночная линза выполненаплосковыпуклой, третий двухсклеенныйкомпонент расположен на расстоянии неменее 21 от второго компонента и выполнен из .материалов, разность йоказателейпреломления которых не менее 0,15, а разность коэффициентов средних дисперсийне более 15, где 1 - фокусное расстояниеобъектива,Одиночная линза выполнена в виде плосковыпуклой и служитдля коррекции сферической аберрации третьего и высшихпорядков для точки на оси и для внеосевыхпучков, для коррекции сферохроматизма.Расстояние между вторым и третьимкомпонентами не менее 2 выбрано экспериментально и служит для коррекции...

Номер патента: 1788492

Опубликовано: 15.01.1993

Автор: Вороненская

МПК: G02B 21/02, G02B 9/28

Метки: ахроматический, инструментального, микроскопа, объектив

...из отрицательного мениска и двояковыпуклой линзы, склеенных между собой, перед отрицательным компонентом установлена дополнительная двояковыпуклая линза на расстоянии, равном половине своего фокусного расстояния, а в отрицательном компоненте положительный мениск обращен вогнутостью к дваяковогнутой линзе.Оптическая схема ахроматического объектива для инструментального микроскопа представлена на чертеже. Объектив содержит отрицательный и положительный компоненты и дополнительную двояковыпуклую линзу 1, Отрицательный компонент состоит иэ положительного мениска 2, обращенного выпуклостью к предмету, и отрицательной двояковагнутой линзы 3. Положительный компонент состоит из двояковыпуклой линзы, склеенной из отрицательного мениска 4 и...

Номер патента: 1793413

Опубликовано: 07.02.1993

Авторы: Андреев, Соболева

МПК: G02B 13/14, G02B 21/02

Метки: видимой, микроскопа, областей, объектив, спектра, ультрафиолетовой

...1793413)5 0 02 В 21/02, 13/14 двух одиночных положительн силового трехсклеенйого включающего две положитель 5 из флюарита и отрицательн кварцевого стекла, трехлинэ ного компонента положитеп ской силы, выполненно отрицательных менисков 6 и го стекла, между которыми положительная линза 7 из фл линзового склеенного кампо тельной оптической силы, и линза 9 которого выполнена и отрицательная линза 10 - и стекла. 1 ил. Цель и щение качества изоб раже ей коррекции аберрации овай области спектра,Поставленная цель. достигается тем, что отрицательный мениск выполнен двухсклеенным из положительной и отрицательной линз, причем положительные линзы склеенных компонентов выполнены из флюорита, а отрицательные - иэ кварцевого стекла, что позволило...

Номер патента: 1793414

Опубликовано: 07.02.1993

Авторы: Буцевицкий, Иванов, Курчинская, Усоскин

МПК: G02B 25/00

Метки: микроскопа, окуляр

...не более 30, при этом 40соотношение оптических сил компонентовравно (1,4;3,7) Г, где Г - фокусное расстояние окуляра,Соотношение оптических сил компонентов данного окуляра выбрано зкспериментально и обеспечивает коррекциюкривизны изображения и астигматизма.Расстояние между компонентами окуляра микроскопа не превышает 1. мм, чтоуменьшает габариты оптической системы, а 50также служит для коррекции сферическойаберрации широких наклонных пучков лучей в меридиональном и сэгиттальном сечениях.Второй компонент склеен иэ отрицательного менйска и выпуклоплоской линзыи обеспечивает коррекцию хроматическихаберраций и сферической аберрации дляточки на оси. Общая компоновка окуляра позволяетобеспечить вынос передней фокальной плоскости на...

Номер патента: 1798833

Опубликовано: 28.02.1993

Авторы: Гнидо, Закурдаев, Сурков, Трусов

МПК: H01J 9/02

Метки: микроскопа, острийного, сканирующего, туннельного, эмиттера

...приходился на середину паза 6 держателя 2,В качестве материала заготовки 3 используется стержень из тугоплавкого металла, например, вольфрама диаметром 1,5 мм. Большой диаметр заготовки 3 необходим для обеспечения требуемой жесткости острия,К заготовке 3 к электроду 4 от источника 5 подается рабочее напряжение. Процесс формирования острия проходит в 3 стадии,Первая ступень острия формируется при токе 100 мА и напряжении 10 В. Линия смачивания электролитом заготовки (мениск) поддерживается на постоянном уровне путем опускания штока 9 в электролит, что исключает самопроизвольный сброс мениска.Постоянный контроль за процессом травления ведется с помощью микроскопа, При достижении диаметра заготовки порядка 800 мкм с помощью штока 9 смещают...

Номер патента: 1800432

Опубликовано: 07.03.1993

Авторы: Буцевицкий, Курчинская, Пржевалинский, Родионов, Усоскин

МПК: G02B 25/00

Метки: микроскопа, окуляр

...для кор- С рекции хроматических аберраций особенно хроматизма увеличения. разность показателей преломления линз склеенной (Д линзы не менее 0,13, а разность коэффици- с ) ентов средних дисперсий не более 33.Общая компановка окуляра микроскоп обеспечивает получение малых гаГаритв оптической системы,Волновые аберрации дляточки на оси во всем спектральном диапазоне не превышают 0,011 А. Среднеквадратическая волновая аберрация для точки на оси равна 0,001 Л.Среднеквадратическая волновая аберрация для всего окуляра по спектральному интервалу, полю и зрачку ровна:а) без учета расфокусировки и дисторсии 0,057 Л;в) без учета расфокусировки, дисторсии и кривизны изображения 0,052 А.Отсюда следует, что окуляр микроскопа обладает улучшенным...

Номер патента: 1800433

Опубликовано: 07.03.1993

Авторы: Буцевицкий, Жукова, Иванов, Курчинская, Родионов

МПК: G02B 25/00

Метки: микроскопа, окуляр

...и хроматическихаберраций, Общая компановка окуляра обеспечивает получение увеличенного пе.реднего рабочего отрезка, коррекцию сферической аберрации для точки на оси и в широком наклонном пучке лучей. Волновая аберрация для точки на оси во все спектральном диапазоне не превышает 0,0072 А. Среднеквадратическая волновая аберра- д ция по полю, спектральному интервалу и СО зрачку составляет: Оа) без учета расфокусировки и дистор- О сии 0,053 Л; Фб) без учета расфокусировки, дисторс и кривизны изображения 0,04 А,Отсюда следует, что окуляр микроскопа обладает улучшенным качеством изображения.1800433 л веюсь Ф Я З У Сахормоч л четвертый компоненты, Первый и второй компоненты - соответственно положительный и отрицательный мениски,...

Номер патента: 1809412

Опубликовано: 15.04.1993

Авторы: Буцевицкий, Вознесенский, Курчинская, Пржевалинский, Сокольский, Усоскин

МПК: G02B 21/02

Метки: ахроматический, микроскопа, объектив

...на оси не превышает 0,04 мм вовсем спектральном диапазоне,Кривизна изображения и астигматизмравны:у=-0,5 мм 1 .; Е = -4,30 ммЕв = -5,64 мм Е - 2 с= -1,34 мму = -0,36 мм Ес = - 2,17 мм15 Т= -2,83 мм Е - Е = 0,66 ммСредняя квадратическая волноваяаберрация для точки на оси 0,07 Л.Значение среднеквадратической волновой аберрации по полю для плоскости наи 20 лучшей установки равно;У Чср. кв,10, 0,1578,66 0,12877,07 0,10325 5,0 0,0850 007Число Штреля для точки на оси равно0,83.Отсюда следует, что ахроматический30 объектив микроскопа обладает улучшеннымкачеством изображения,На фиг. 1 дана оптическая схема ахроматического объектива микроскопа с конструктивными данными; на фиг. 2 - графики35 его аберраций,Схемасодержит: 1, 2 и 3 - три...

Номер патента: 1823030

Опубликовано: 23.06.1993

Авторы: Дюков, Казаров, Ушахин

МПК: H01J 37/26, H01J 37/28

Метки: микроскопа, параметров, растрового, электронного

...режиме динамической фокусировки.б. Вычисление размера области фокусировки электронного зонда в плоскости штриховой меры а = А/Мю и глубины динамической фокусировки и =(Аг - Афо а /Мю.Признак 1 является общим с прототипом, а признак 2 отличает заявляемое решение от прототипа тем, что при калибровке увеличений микроскопа наблюдают полосы муаровой картины, расположенные вертикально на экране монитора, а в заявляемом решении регистрируется область изображения муаровой картины в целом.На основании исследований, проведенных по патентной и научно - технической литературе установлено, что признаки 3 - б являются новыми. Использование совокупности существенных признаков в указанной между ними взаимосвязи и последовательности...

Номер патента: 1826007

Опубликовано: 07.07.1993

Автор: Зайцев

МПК: G01B 9/02, G01M 11/00

Метки: автоматической, микроскопа, наводки, объект, объектив, резкость, системы

...Отраженный от поверхности образца 3 и зеркала 23, расположенного пер , пендикулярно оптической осиинформационного луча, направляется светоделительным кубиком 18 в светоделительный кубик 13, где на его внутренней грани разделяется на два взаимно. перпендику лярных луча. Опорный луч, пройдя фазовую пластинку 15, направляется уголковым .отражателем 16 в светоделительный кубик 13, где он также разделяется на два взаимно перпендикулярных лучз, совпадающих с лучами, полученными при делении отраженного информационного луча. Пройдя поляроиды 19 и 20, полученные таким образом лучи рекомбинируют. Фотоприемники 21 и 22 преобразуют интенсивности падающего на них света в электрические синусоидальные сигналы. Введение фазовых пластин 14 и 15 и...

Номер патента: 2002329

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Гурков, Исаев, Пожидаев

МПК: H01J 3/20

Метки: иммерсионный, магнитный, микроскопа, объектив, электронного, эмиссионного

...1) О глг). 20Г 1 одфокусироока эмгссионного иэображения на пюминасцентном экране микроскопа осугцестоляатся за счет излганенгя величины маггтног идукции в перво 1 зазорепутем змеения его размароо зд 25 счет перемещения вдоль оп уической оси нижнего полюсного 1 дконечникд. При этом Возниде Г гара)дсГ 1 раде)11ниа вел ичиу маГ- нитной индукции о нема(1 итных зазорах. Так, с увелгьаниалг зазора О оепи Ннд лдг нитной индукции в 1 ам умеьшается, о то же время оо втором зазоре 5 еа значение практически ПР Его(11 е;- ся. 1 рг зГОм соотоа 1- ственно маняетсяокусное расстояниег первой линзы, о результате чего достигается на экране четкость эмиссионного изображения.Конструкция иммерсионного магнитного объектива показанд нд фиг.1; нд 1)иг.2 -...