Патенты с меткой «кинетики»

Номер патента: 1627947

Опубликовано: 15.02.1991

Авторы: Белоносов, Гуслев, Коваленко, Смальцер, Шепурев

МПК: G01N 25/02

Метки: анализа, веществ, кинетики, пиролиза, твердых

...испаритель 3, вакуумируют объем масс-спектрометра 1, в том числе и объем источника 2 ионов, включают экстрагирующие ионна-оптицеские и измерительные системы источника 2 и масс-спектрометра 1. Включают источник 4 питания (в исходном состоянии ключи б и 7 закрыты). На вход запуска коммутатора 8 подают импульс запуска, в результате коммутатор 9 выдает два синхронизированных сигнала: на первом выходе и на третьем выходе устанавливаются состояния "1", Сигнал с первого выхода поступает на управляющий вход ключа 6, последний открывается и ток источника 5 питания протекает через нагрузоцный резистор 5, в это время в замкнутом контуре, образованном источником 4 и резистором 5, протекают переходные процессы, Сигнал "1" с третьего выхода...

Номер патента: 1670545

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Авдеенко, Заика, Пакулов, Фенстер

МПК: G01N 21/64

Метки: возбуждении, затухания, излучением, импульсным, исследования, кинетики, люминесценции

..."Сброс" ЭВМ 12 из блока 20 связи поступает на первый вход элемента ИЛИ 24, одновременно он сбрасывает счетчик-делитель 31 и счетчики 32 и 34, Сигнал с выхода элемента ИЛИ 24 сбрасывает триггеры 23 и 26, Сигнал "Разрешение работы" с блока 20 связи устанавливает триггер 23, разрешая прохождение сигнала "Пуск" с блока 7 временной привязки через элемент И 22, первый иэ которых устанавливает триггер 26. Высокий уровень с прямого вы. хода триггера 26 разрешает прохождение импульсов с генератора 25 через элемент И 27 на вход счетчика-делителя 31, выходы которого соединены с информационными входами мультиплексора 14, В зависимости от уставки, поступающей на управляющие входы мультиплексора, на его выходе имеются сигналы выбранного...

Номер патента: 1745330

Опубликовано: 07.07.1992

Автор: Фаерман

МПК: B01J 19/24

Метки: исследования, кинетики, реактор, реакции

...трубок должна обеспечивать достаточную скорость теплоотвода при возможно меньшем сопротивлении газовому потоку, Опытным путем установлена ее оптимальная величина порядка 0,1 - 0,2 б,Сущность изобретения заключается в следующем,Для проведения исследований кинетики химических реакций в потоке необходимо измвнять и точно измерять длину нагретой части реактора, В реакторе-прототипе это достигается за счет воэможности перемещения печи с холодильником вдоль О-образного корпуса реактора и высоком градиенте температур на границе печь-холодильник, обусловленном хорошим тепловым контактом между стенками реактора и ахлаждаемым водой блоками через помещенный в магнитное поле мелкодисперсный ферромагнитный материал, Однако с5 10 15 20 риала...

Номер патента: 1770828

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Борисов, Зимина, Крашенинников, Филиппов, Филонов

МПК: G01N 13/02

Метки: восстановления, высокотемпературного, исследования, кинетики, металлов, оксидов

...изотермическуьо зону (1500-1700 С) печи 4, вакуумное уплотнение 5. экраны б, нагреватель 7, смотровое окно 8, фото- или кинокамеру 9, металлический стержень 10, стержень 11 из А 20 з,отводы 12 и 13 для входного и выходного контроля газовой фазы; А - положение графитовой подложки с таблеткой оксида металла до начала проведения процесса, Б - в момент начала эксперимента,П р и м ер .Печь предварительно откачивают до 10 атм и заполняют гелием, Таблетка оксида металла на графитовой подложке. внесенная в изо;ермическую зону печи при температуре 1570 С, расплавляется в течение первых 15-20 с, При этом Формируется капля оксида металла. Профиль капли снимают на Фотопленку со скоростю 1 кадр в 1-2 с. При этом образцы готовят заранее, а не...

Номер патента: 1770835

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Игнатов, Киселев, Кобляков, Удачин

МПК: G01N 15/02

Метки: кинетики, оценки, пропитки

...концентрации включений к оптической плотности определяют размеры газовых включений,по которым судят о кинетике и степени завершенности пропитки.На чертеже изображена принципиальная схема экспериментальной установки, 1770835, см,(2) де РоР - е проп масса образца перед иизменение массы образитки, гс;Ост - плотность жидкостериала, г/см,долях, (3) иткой, гс; в процеси волок Экспериментальная установка содержит: контролируемый образец 1, стеклянную кювету 2, наполненную связующим 3, источник оптического излучения 4, измеритель светопропускания 5, датчик усилия 6. 5Предлагаемый способ оценки кинетики пропитки реализован следующим образом. Контролируемый образец 1 (например в виде пробы стеклоткани) помещают в кювету 2 со связующим, через...

Номер патента: 1796999

Опубликовано: 23.02.1993

Авторы: Васев, Крючков, Спицына

МПК: G01N 3/42

Метки: исследования, кинетики, микровдавливания, процесса

...индентора в этьх образцах после снятия с индентора нагрузки от времени, где 21;22,23,24 - кривые для образцов Сз, ИаС, ОЕ и нержавеющей стали соответственно.20 Предлагаемый способ основанна полученных экспериментальных данных, цто после кратковременных разгрузках индентора до 30 с, в результате которых разгруженный индентор поднимается из образца на 0,3-2,8 мкм.(в зависимости от материала и времени выдержки индентора под нагрузкой), последующее нагружение индентора приводит к дальнейшему его внедрению по ранее установившемуся закону. А это не 30 приводит к, потере информации о кинетикемикровдавливания индентора, но дает дополнительную информацию об упругопластичнь 1 х свойствах образцов в зависимости от времени и глубины внедрения...

Номер патента: 1806375

Опубликовано: 30.03.1993

Автор: Иванникова

МПК: G01N 33/24

Метки: вещества, кинетики, минерализации, органического, почвы

...инкубируют при постоянной влажности и температуре, В течение инкубации периодически заменяют и оттитровывают щелочь в опытных и контрольных измерительных системах и определяют количество продуцируемого С 02 по формуле 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 К 2 а.=а,+(а-а К К 2) К, К КК 2 К 1где Оп - количество продуцируемого почвой С 02 эа время экспозиции,мг; 0,п - количество С 02, диффундирующего к поверхности поглотителя в опытном измерении, мг; Ок - количество С 02, диффундирующее к поверхности поглотителя в контрольном измерении, мг; К - коэффициент, показывающий отношение диффузионного потока С 02 через патрубок поглотительного сосуда к общему диффузионному потоку С 02 в контрольной измерительной системе; К 1 - коэффициент;...

Номер патента: 1822954

Опубликовано: 23.06.1993

Авторы: Алиев, Исмаилов, Султанов, Шафизаде

МПК: G01N 23/20

Метки: исследования, кинетики, переходов, пленках, тонких, фазовых, электронографического

...подводится к неподвижной щели датчика с фотоэлектронным мнО- жителем и фиксируется на ней, При этом размер щели датчика устанавливается больше ширины дифрвкционной линии с уче 1 ом смещения линии в процессе нагрева исследуемого объекта, исключая попадание дру- ф гих линий спектра в данную щель. После 00 установления необходимой для фазового пе- срехода в исследуемом объекте температуры запускается регистрирующая стойка электронографа и производится запись кривой 1 у зависимости интенсивности линии от температуры, т. е. основной экспериментальный +ф материал, с помощью которой строятся кинетические кривые фазовых превращений.Тем самым отпадает необходимость получения серии кинематических элекгронограмм с фоторегистрацией и их...

Номер патента: 927037

Опубликовано: 10.04.2000

Авторы: Калинина, Попов, Сычева

МПК: G01N 27/416

Метки: исследования, кинетики, коррозии, металлов, электрохимическая, ячейка

Электрохимическая ячейка для исследования кинетики коррозии металлов, содержащая корпус с отводами для разделения приэлектродных пространств электрода сравнения, вспомогательного и рабочего электродов, отличающаяся тем, что, с целью повышения точности исследований в двухфазной системе, корпус ячейки выполнен в виде U-образного контура, обе ветви которого в верхней части соединены перемычкой, при этом в одной ветви U-образного замкнутого контура установлена мешалка, а отводы для разделения приэлектродных пространств электрода сравнения, вспомогательного и рабочего электродов расположены в другой ветви корпуса.