Патенты с меткой «электронно-ионных»

Номер патента: 943623

Опубликовано: 15.07.1982

Авторы: Инкин, Мозелев, Саранцев

МПК: G01T 1/29

Метки: колец, параметров, электронно-ионных

...аналиЭ зирующей аппаратуры, испольэоватьАЦП с малым "мертвым" временем налинии с мини-ЭВИ, что позволяет производить измерение параметров в каждом цикле ускорителя.10 Аналогичные расчеты для других тяжелых и средних элементов, ускоряев мых на коллективном ускорителе тяжелых ионов, показывают пригодностьданного способа.15 Способ диагностики электронноионных колец по обратному комптоновскому рассеянию отличается от способа, основанного на регистрации характеристического рентгеновского из2 В лучения. где Ч - объем электронного кольца,Измеряя интенсивность рассеянного излучения по формуле (4), легкоопределить и, Ч - полное число ионо4в электронном кольце, зная остальные параметры, входящие в формулу,в настоящее время они .с...

Номер патента: 865112

Опубликовано: 23.11.1982

Авторы: Алексахин, Саранцев

МПК: H05H 5/00

Метки: колец, коллективный, ускоритель, электронно-ионных

...ных колец, включающий инжектор электроновелинейный индукционный ускоритель 2 и адгеэатор 3, градиейтный соленоид 4, катушку 5, и витки импульсной линии 6, охватывающие траекторию электронного кольца 7; синхрони зирующий виток 8, конденсаторы 9, емкость. .которых существенно превосходит собственную емкость витков 6, генератор 10 токового импульса и согласованную нагрузку 11.. Работает устройство слецующим образом.Кольцо релятивистских электронов, сфор 50 мированное в генераторе 1 электронных колец, загружается ионами и ускоряется в с 1 гадающем магнитном поле В, При попадании коль; ца в обпасть быстро нарастающего вдоль оси Е магнитного поля, создаваемого катушкой 55 5, происходит сепарация ионной и электронной компонент кольца, электроны...

Номер патента: 1132374

Опубликовано: 30.12.1984

Авторы: Курсков, Тютюнников, Шаляпин

МПК: H05H 7/00

Метки: заряда, ионов, кольцах, среднего, электронно-ионных

...= 6 том(ОЙе)о Р 101 Ь (1) интенсивность тормозного.излучения на ионах илиатомах,сечение тормозного излучения на ионах со среднимзарядом, при этом 6 то Ри (О) - сечение тормозного излучения на атоме (Е). =О)",энергетическая эффективность регистрации иэлучениязПосле замены переменных ф = /6получаемДля вычисления сечения (5) надо иметь модели форм-факторов атомов и ионов. На ЭВМ проведено вычисление сечения вторм тормозного излучения для разных энергий-квантов и .разных элементов до Хе включительно. Эти сечения для энергии -квантов Кб 0,2 мс 2=100 кэВ приведены в зависимости от заряда иона для ксенона на фиг,1, для азота - на фиг.2.Из фиг.1 и 2 видно, что если в 2 О эксперименте реализуется точность измерения величиныто это...

Номер патента: 1148550

Опубликовано: 23.02.1986

Авторы: Тютюнников, Шаляпин

МПК: H05H 7/00

Метки: диагностики, колец, параметров, электронно-ионных

...оси и подуглом 45 к плоскостипоперечного сечения трубкиеНа фиг.1 приведено поперечноесечение устройства, на фиг.2 - расположение устройства в ускорительной трубке, на Фиг.З - схема устройства в плоскости 72; на фиг.4 - 25 сечение кольца на экране,Устройство для диагностики параметров электронно-ионных колец содержит одинаковые зеркала 1-3, установленные по окружности ускори тельной трубки 4, и плоское зеркало 5, располагаемое в центре трубки 4. На фиг.2 показан шток 6 и .указаны продольный 7 и поперечный8 размеры пучка.На Фиг.З показаны приемник 9излучения и экран 10, на Фиг.4 приведены два следа в виде полосок 11и 12 и показан радиалный размеркольца 13. Зеркала 1, 2 расположены 4 О под углом 45 к вертикальной оси07. Угол сК...

Номер патента: 1225052

Опубликовано: 15.04.1986

Авторы: Тютюнников, Шаляпин

МПК: G01T 1/29, H05H 7/00

Метки: диагностики, колец, электронно-ионных

...- 7., - 20 секущие эллипса сечения, параллельные аксиальной оси 2,- 7 Измеряя ширины угловых распределений вдоль прямых .7, С получают 2 Ь сечение распределения потенциала, создаваемого ионами кольца. Так как в видимой области спектра сосредоточена значительная часть мощности СИ (Р100 Вт при М = 5 10 ), то в Зб качестве регистрирующего элемента используют фотопластинку (интегральный датчик) или диссектор,с временным разрешением до десяти наносекунд. Ошибку измерения определяют всли. чиной промежутка между щелями и шириной щели. Оценка дифракционных эффектов показывает, что точность измерения может достигать 47. Задаваясь точностью измерений В0,05, определяют количество электронов в зондирующем пункте:то (О, + 1);"е р 4 еВ условиях...

Номер патента: 1061077

Опубликовано: 07.07.1986

Авторы: Кузнецов, Перельштейн, Ширков

МПК: G01R 33/02

Метки: времени, заряда, ионов, накопления, сгустках, среднего, электронно-ионных

...(кольцевой пучок) электронов. После поступлениянейтральных атомов в электронный 50сгусток происходит образование ионовэлектронным ударом. Положительно заряженные ионы накапливаются, а освобождающиеся при этом вторичныеэлектроны выталкиваются собственным 55полем сгустка и регистрируются детектором электронов. За счет процесса Оже - ионизации изменение выхода вторичных электронов во времени имеет характерный ступенчатый вид для всех элементов периодической таблицы с Е18, Это обусловлено тем, что вклад ОЖе - ионизации в произ-. водство ионов резко уменьшается, когда из атома или иона удаляются все электроны внешней оболочки и начинается процесс ионизации с более глубокого уровня, Распределение электронов по атомным оболочкам хорошо...

Номер патента: 1155148

Опубликовано: 07.08.1986

Авторы: Барабаш, Саранцев, Тимохин, Чалышев

МПК: H05H 5/00

Метки: импульсного, колец, компрессора, магнитной, питания, системы, электронно-ионных

...фиг, 1 приведена электрическаясхема устройства,Емкостные накопители 1 и 2 энергиисхем питания первой и второй ступеней компрессора подключены через тиристорные коммутаторы 3 и 4 к индуктивно связанным индуктивным нагруз кам 5 и 6 схем импульсного питанияступеней.Индуктивный дроссель 7 связи подсоединен одним концом к зажиму начала обмотки нагрузки 5 схемы питанияпервой ступени, а другим концом - кзажиму начала обмотки нагрузки 6 схемы питания второй ступени. В этомслучае компенсация наводки в схемепитания первой ступени осуществляется частью рабочего тока от тока схемы питания второй ступени компрессора.Ограничительный дроссель 8 выполняет вспомогательную функцию. Егонеобходимо включать для ограниченияутечки тока компенсации...

Номер патента: 1220556

Опубликовано: 15.04.1988

Авторы: Тютюнников, Шаляпин

МПК: H05H 7/00

Метки: ионного, кольцах, компонента, параметров, электронно-ионных

...определяется ио пространственному распределению потерянных электронон. Как показывают расчеты, радиальное рас- Япределение плотности ионов в кольце описывается формулойп (г)=1 ехр(-г (а ), (ч)а распределение плотности электроиов кольца формулой ц (г)=ыехр(-г(ае ) (5) ааг а агде аа и -Е,е а 1+агОтсюда получаютггй а ас аг -а г(6) Таким образом, зная радиальный полуразмер распределения вторичныхэлектронов ае н зная этот параметр для основного электронного кольца, находят по формуле (7) соответствующее значение а; для ионного размера. Измерение радиального профиля потерянных электронов может быть проведено с помощью сцинтиллятора 8. Из измерений частоты бетатронных колебаний электронов кольца 11 можно найти суммарный ионный заряд . по1...

Номер патента: 1422409

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Александров, Долбилов, Сумбаев

МПК: H05H 7/00

Метки: адгезатора, вывода, колец, коллективного, ускорителя, электронно-ионных

...изменяется положение точки и момент снятия потенциальной ямы,Способ заключается в следующем.Формирование электронно-ионных колец в адгезаторе коллективного ускорителя завершается сжатием в нарастающем магнитном поле пары катушек, согласно и последовательноФподсоединенных к генератору. Для вывода кольца шунтируют одну из катушек сжатия, где ток начинает падать, в то время как ток в незашунтированной катушке нарастает. При этом потенциальная яма, увлекая кольцо, смещается в направлении шунтируемой катушки. Потенциальный барьер со стороны шунтируемой катушки уменьшается, обращаясь в нуль в точке выводаОдновременно с моментом шунтирования включается- нарастающее во времени ускоряющее градиентное магнитное поле, достигающее максимального...