Патенты с меткой «сгустках»

Способ определения среднего заряда и времени накопления ионов в электронно-ионных сгустках

Загрузка...

Номер патента: 1061077

Опубликовано: 07.07.1986

Авторы: Кузнецов, Перельштейн, Ширков

МПК: G01R 33/02

Метки: времени, заряда, ионов, накопления, сгустках, среднего, электронно-ионных

...(кольцевой пучок) электронов. После поступлениянейтральных атомов в электронный 50сгусток происходит образование ионовэлектронным ударом. Положительно заряженные ионы накапливаются, а освобождающиеся при этом вторичныеэлектроны выталкиваются собственным 55полем сгустка и регистрируются детектором электронов. За счет процесса Оже - ионизации изменение выхода вторичных электронов во времени имеет характерный ступенчатый вид для всех элементов периодической таблицы с Е18, Это обусловлено тем, что вклад ОЖе - ионизации в произ-. водство ионов резко уменьшается, когда из атома или иона удаляются все электроны внешней оболочки и начинается процесс ионизации с более глубокого уровня, Распределение электронов по атомным оболочкам хорошо...