Способ диагностики электронно-ионных колец

Номер патента: 1225052

Авторы: Тютюнников, Шаляпин

ZIP архив

Текст

Изобретение относится к ускорительной технике, а именно к коллективному методу ускорения.Цель изобретения - расширение функциональных возможностей способа 5 за счет измерения распределения потенциала и плотности ионов в сечении кольца.На фиг. 1 показана схема предлагаемой установки . на фиг. 2 - вид А 10 на фиг 1.Установка содержит электронно- ионное кольцо 1, объектив 2, набор щелевых диафрагм 3, фотопластинка или диссектор 4. Объектив проецирует 15 иэображение сечения кольца в синхротропном свете на ппоскость щелевых диафрагм. Кроме того, на фиг. 2 показано (с увеличением) сечение 5 кольца, щелевые диафрагмы 6, 2 - 7., - 20 секущие эллипса сечения, параллельные аксиальной оси 2,- 7 Измеряя ширины угловых распределений вдоль прямых .7, С получают 2 Ь сечение распределения потенциала, создаваемого ионами кольца. Так как в видимой области спектра сосредоточена значительная часть мощности СИ (Р100 Вт при М = 5 10 ), то в Зб качестве регистрирующего элемента используют фотопластинку (интегральный датчик) или диссектор,с временным разрешением до десяти наносекунд. Ошибку измерения определяют всли. чиной промежутка между щелями и шириной щели. Оценка дифракционных эффектов показывает, что точность измерения может достигать 47. Задаваясь точностью измерений В0,05, определяют количество электронов в зондирующем пункте:то (О, + 1);"е р 4 еВ условиях формирования электронно-ионных колец в коллективном ускорителе тяжелых ионов выполняются следующие соотношения:40; :а = 0,2 см Г= 3 см;0,05тогда4 10 1 6 10 зе 2,8 10 "41 Г 40 4 10ф 32810 фы =3 10"еПри таком числе электронов мощность СИ составляет 1 Вт, поэтому измерения угловой ширины можно проводить фотоэлектронным прибором типа диссектор.11225052 2-г Составитель А.ГромовТехред И.Верес роаи Редактор М.Недолуженко екто Заказ 19 б 7/61 Проектная Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ухгород 2 р 2 е Тирам ВНИИПИ,Государ по делам иэ 3035, Москва, Ж 765твенного кобретений и5, Раущская Подписнотета СССРкрытийаб., д. 4

Смотреть

Заявка

3734905, 03.05.1984

ОБЪЕДИНЕННЫЙ ИНСТИТУТ ЯДЕРНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ

ТЮТЮННИКОВ СЕРГЕЙ ИВАНОВИЧ, ШАЛЯПИН ВАЛЕРИЙ НИКОЛАЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01T 1/29, H05H 7/00

Метки: диагностики, колец, электронно-ионных

Опубликовано: 15.04.1986

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1225052-sposob-diagnostiki-ehlektronno-ionnykh-kolec.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ диагностики электронно-ионных колец</a>

Похожие патенты