Способ контроля параметров аналоговых интегральных микросхем

Союз СоветскмкСоциапистнческикРеспублик Оп ИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 11980029(6 ) Дополнительное к авт. сеид-ву(22) Заявлено 17,06,81 (21) 3302430/18-21с присоединением заявки РЙ -(51) М. Кл. б 01 Р 31/28 Экударствееьй кекитвт СССР до долам изобретений и открытиЯ) Авторыизобретения Т рцевтитутои "реъолещщ 3 Киевский ордена Ленина полиим. 50-летия Великой Октябрьскои ничесч м+оцивлистич(71) Заявител е относится к контрольной технике и может быть иси контроле параметров анавльных мик схем и микоб лируемой и эталонной микросхем в заданные интервалы времени2 ),Однако согласно, известному способу контролируется количество значений выход.о сигнала контролируемых интегральных схем, лежащих зв пределами допуска на параметр и не учитывается величина отклонения значений параметра от эталонных или допустимых значений. америчвль ользовано логовых интегрросборок.Известен способ контроля параметров линейных интегральных микросхем, заключаквцийся в подаче иа вход испытуемой микросхемы стимулируюшего воздействия и измерений параметра. При этом о годности интегральной схемы по контролируемому параметру судят по измерен ному значению последнего 1 1,Этот способ имеет низкое быстродейвие из-за большого времени контроля интегральных микросхем, имеюших большое число параметров.Наиболее близким техническим решением к предлагаемому является способ проверки выходного параметра электрон ных схем, заключаккцийся в том, что на вход контролируемой и эталонной микросхем подают стимулируккцее воздействие и сравнивают выходные сигналы контроног о9. Допустим исследуемые выходные сигналы двух контролируемых интегральныхсхем превышают верхнюю возможную границу параметра в заданный интервал времени, но один из них лишь незначительноотличается (О, 1-0,2%) от допустимыхзначений, а другой имеет значительныеотклонения (5-10%) при наличии во второмвысших гармоник, сильно искажакацих о форму сигнала. При контроле по известному способу различий между исследуемыми схемами выявлено не будет, и информация об копичественном значенииотклонения испытуемых сигналов от эта 4) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ АНАЛОГОВЫ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ5 980029 4шими нижнему и верхнему допустимым в зоне определяемой верхнимдХ (1) изначениям отклонения мгновенного зна- нижним Ь Х Щ допустимыми отклонениямичения выходного сигнала контрсцтируемой от эталонного сигнала, формируемогосхемы от этатонного, формируемого эта-, эталонной схемой, причемлонной схемой в данном временном интер-вале дт,1 и равными соответственноЮ -Х ,а дпя 1 -го интервала дМЪ)=Х И,)-ХЬ,Т.е. дпя каждого временного ла дТ допжно выполняться не Ь Х(-. ) с д Х И ) с д Х"И,к) 1 и Р 1 вдля всех временных интервалов, в течение времени контроля, то схема признается годной, в противном случае схема признается не годной, а значение относительного отклонения К И 1) мгновен- аЗ ного значения выходного сигнала контролируемой схемы от эталонного для 1-го интервала Дравняется ХС Х(Ь) тХ р кс Если ХИ):Х в рассматривервале времени, например дла й 1, то вероятность мом ин ЮИ) РХС,Р- значение величины. ервадп-го интервал На фиг, 2шие сущность Необходимо ены графики,гаемого спы внутренние ив поясняюособа. ф параыход ной одолся= Р, =Р, (Х) тры схемыгнал контроли такими, чтмой схемы кс" , Х;)где дХ (. ) - нижнее допустимое значеНние отклонения выходногосигнала контролируемойсхемы от эталонного в1-м интервале (Д. );М(.) - верхнее допустИмое знач1нне отклонения выходногосигнала контролируемойсхемы от эталонного в1-м интервале (И 1 )Х (.) - мгновенное значение эталонного сигнала в 1 -минтервале ( Ь) (выходного сигнала эталоннойсхемы);1, - значение относительного 1 Х (;Ь) отклонения выходного сигнала контролируемой схемы от эталонного в 1-минтервале (Ь. )Д 1(И 1 ) - значение отклонения выходного сигнала контрсцтИруемой схемы от эталонного в 1 -м интервале ьй )На временном отрезке 111 у(фв.2равном времени контроля и на котором определены параметры контролируемой схемы, рассмотрим достаточно малые ин.тервалы времени Ь Е, соответствуюшие 1 -му моменту времени 4, в течение которых изменение значенйй выходных сигналов эталонной и контрсцтируемой схем незначительны, или можно пренебречь и принять значения выходных сигналов постоянными и равными соответсто Хй+)и Х(+)Как видно из графиков на фиг, 2 дпяинтервалов М, в которых мгновенные значения выходного сигнала К контролируемой схемы превышают мгновенные значения выходного сигнала Х р Я) эталонной схемы, т.е. Х И) ) Хэ й) (например, щтя 1=К, т.е. д) вероятность Р превышения случайным сигналом Х Хзначения Х И) = Х Йк),равного значению 33выходного сигнала контролируемой схемы в интервале д 1 в момент выборки равиа величине9 9800 случайных сигналов 11. Импульсы с формирователя 12 поступают на стробирующий вход компаратора 9, и одновременно списывают содержимое счетчика 13. Если в момент прихода импульса на стробирующий вход компаратора 9, случайный сигнал с выхода умножителя 10 больше выходного сигнала контролируемой схемы, на выходе компаратора 9 появляется импульс, увеличивающий содержимое счет чика 16. При прохождении И импульсов с формирователя 12 счетчик 13 обнуляется, а в счетчике 16 записывается число Й случаев, когда в момент прихода импульса на стробирукаций вход комнаратора 15 9 значение случайного сигнала с выхода умножителя 10 больше значения выходного сигнала контролируемой схемы 7. При этом на выходе переполнения счетчика 1 3 появляется командный импульс, по которо му код Низ счетчика 16 поступает в вычислитель 15, а сам счетчик 16 обнуляется. В вычислителе 15 происходит вычисление значения величины Р поформуле 25,и сравнение значения величины Р с Р и Р 1 и, если Р РР , то последний выдает команду блоку управления 14 на продолжение контроля в следующем временном интервале. Блок управления 14 заносит в счетчик 13 значение и, а в вычислитель 15 значения Рни Р для следующего второго) временного интер- З 5 вала и цикл контроля повторяется. Если после очередного цикла контроля в; -м" временном интервале величина Р окажется равной значению, выходящему за пределы Р Р 0 для данного интервала, то 40 вычислитель не дает команды в блок 14 ф для продолжения контроля, а выдает нарегистрацию информацию о том, что контролируемая схема негодна. Если в течение времени контроля во всех временных интер 45 ,валах значение Р лежит в пределах допустимых значений, то по окончании последн го временного интервала вычислитель 15 выдает на регистрацию сообщение о том, что контролируемая схема годна, 50 29 10дельные отклонения выходного сигнала могут задаваться как в абсолютных, так и в относительных значениях. Кроме того, предлагаемый способ обладает более высокой, чем известный, помехозапппценностью от воздействия случайной помехи, так как контрсль в нем производится по среднестатистической оценке. В результате этого достоверность контроля по предлагаемому способу значительно повышается.1Таким образом, контроль параметров линейных интегральных микросхем по предлагаемому способу значительно повышает достоверность контроля за счет повышения помехозащишенности и определения оценки абсолютных и относительных отклонений параметров от эталонных по величине отклонения выходного сигнала контрсщируемых схем" от эталонного,Формула изобретения Способ контроля параметров аналоговых интегральных микросхем, по которому на вход контролируемой и эталонной микросхем подают стимулирующее воздействие и сравнивают выходные сигналы контролируемой и эталонной микросхем в заданные интервалы времени, о т л и ч а ю зц и й с я тем, что, с целью повышения достоверности контроля, задают равномерно распределенный в интервалеоот нулевого до заданного Хмакс значения случайный сигнал, модулируют его выходным сигналом эталонной микросхемы, в каждом интервале времени сравнивают между собой й раз значения выходного сигнала контролируемой интегральной схемы и промодулированного случайного сигнала и регистрируют число сигналов Н о превышении мгновенными значениями промодулирова нного случайного сигнала мгновенных значений выходного сигнала контрсаируемой интегральной схемы, определяют значение величины Р по фор- мулеТаким образом, предлагаемый способ в отличие от известного позволяет фиксировать отклонение мгновенных значений выходных параметров интегральных микросхем за допустимые пределы и производить оценку этого отклонения по величине отклонения выходного сигнала контролируемой схемы от эталонного. Причем пресравнивают значения Р в каждом интервале времени с заданными, соответствующими нижнему и верхнему допустимымзначениям отклонения мгновенного значения выходного сигнала контролируемойинтегральной схемы от эталонного и считают контращруемую интегральную схемуИсточники информапии принятые во внимание при экспертизе11годной, если величина р находитсязаданных предепахе 980029 121, Авторское свидетельство СССР% 661439, кп. 501 Й 31/26, 1979,2. Авторское свидетельство СССР980029 Хюах ОЮ)к Хра к Состав Техред В. Дворкинч Коррек едактор Е. Кини окша каз 9352/ ВТираж 717 Государственного ко по делам изобретений Москва, Ж, Рауш Подпи митета СССРи открытий кая наб д. ное филиал ППП фПатент", г. Ужгород, ул. Проектная