Устройство для проверки пленочных матриц

Номер патента: 185576

Авторы: Бондарев, Китович, Полунин, Страхов

ZIP архив

Текст

Союз Советокиз Социалиотическик РеооубликПриоритетОпубликовано 13.Ч 11.1966, Бюллетень17Дата опубликования описания 31.Х.1966 Комитет ло делам изобретений и открытий лри Совете Министров СССР, Т. Полуни аявитель УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПРОВЕРКИ ПЛЕНОЧНЫХ МАТРИЦ Известно устроиство для проверки пленочных матриц, содержащее измерительную головку, щуп и съемный проводник.Предложенное устройство отличается тем, что оно снабжено теплоизоляционной камерой, электрическим нагревателем с обмоткой, выполненной в виде тороида, и механизмом пантографа с шаблоном. Съемный проводник смонтирован на измерительной головке вместе со щупом.Это позволяет повысить точность проверки матриц, проверять их в широком диапазоне температур и уменьшить помехи при съеме сигналов с пленок.На фиг. 1 схематически изображено устройство для проверки пленочных матриц; на фиг. 2 - столик устройства; на фиг, 3 - измерительная головка; на фиг, 4 - пантограф.Устройство содержит теплоизоляционную камеру 1 для получения внутри нее температуры +60 С. Камера выполнена из двух вставленных один в другой, алюминиевых кожухов 2 и 3, между которыми проложен теплоизоляционный материал 4. Дверь 5 плотно закрывается.На каркасе б закреплена крестовина 7, По нижнему основанию каркаса скользит столик К Крестовина служит для передачи вращательного движения на измерительную головку 9 через сектор 10 от привода 11 и для подвода и отвода измерительной головки к столику и от него с помощью винта 12. Кабель 13 проходит внутри крестовины и подсоединяет измерительную головку к электроизмерительной аппаратуре. На столике размещена матрица 14, нагреваемая до температуры +180 С.Матрица устанавливается на медную подушку 15 и прижимается к четырем упорам 1 б пружиной 17. По поверхности подушки скользят 10 контакты 18 и 19 измерительной головки(фиг. 3).Обмотка нагревателя 20 выполнена в видетороида, что позволяет избавить матрицу от внешних магнитных полей. Для фиксации тем пературы матрицы в подушку 15 впаяна термопара 21.Столик жестко связан с пантографом 22 через стойку 23. Внутри ее проходят выводы 24, 25 от термопары и нагревателя. Под действи ем пантографа столик перемещается вместе степловым экраном 2 б, который изолирует внутренную полость камеры от окружающей среды.Измерительная головка (фиг. 3) служит 25 для приложения магнитных полей к магнитным элементам матрицы и снятия с них сигналов. Головка легко снимается и надеваетс" на крестовину для замены щупа 27.Сменный щуп позволяет проверять матри- ЗО цы с различными размерами и количеством5 10 15 20 25 30 35 40 магнитных элементов. Щуп представляет собой две, расположенные под углом 90, медные шины 28, 29, приклеенные к фторопластовому сердечнику 30 и помещенные в медный экран 31, В рабочей части шин имеются прорези.Съемный проводник 32 крепится в двух зажимах 33 и 34, Зажим 33 осуществляет натяжение проводника, а зажим 34 - установку его по центру щупа, Один конец съемного проводника припаивается к высокочастотному разъему 35 с контактом 18, другой - к контакту 19. Съемный проводник устанавливается параллельно поверхности столика эксцентриком 36. Для присоединения щупа к измерительной аппаратуре в корпусе 37 расположены шесть высокочастотных разъемов 38.Конструкция измерительной головки позволяет одновременно поворачивать относительно пятна матрицы щуп и съемный проводник.Пантограф 22 (фиг. 4) служит для подвода магнитных элементов матрицы под щуп измерительной головки. Он состоит из двух систем рычагов 39, 40, закрепленных на плите 41 и соединенных между собой кареткой 42. Съемный шаблон 43, установленный на плите, представляет собой выполненную в 5-кратном увеличении проверяемую матрицу, Система рычагов 39 передает перемещение фиксатора 44 по шаблону 43 на каретку 42, уменьшенное в 5 раз. Система рычагов 40 осуществляет параллельное перемещение каретки. Пантограф жестко крепится к нижней части камеры.Катушка 45, состоящая из четырех соединенных между собой попарно обмоток, ликвидирует магнитное поле земли вокруг матрицы. Сектор 10 и привод 11 служат для поворота измерительной головки относительно пятна матрицы на угол +25. Сектор имеет шкалу 4 б, с делениями для отсчета угла поворота головки с точностью +30.Для ликвидации внутри камеры магнитного поля земли снимается измерительная головка,на столик помещают компас и через катушку 45 пропускают ток, при этом стрелка компаса должна занимать безразличное положение, Проверяемую матрицу устанавливают на столик, подводят к ней измерительную головку ьинтом 12 так, чтобы между матрицей и съемным проводником был зазор не более 0,2 мм. Контакты 18, 19 головки должны касаться подушки столика. Шкалу сектора устанавливают на О и, выбирая по шаблону любой магнитный элемент матрицы, подводят его при помощи пантографа под щуп.Затем включают электрическую часть установки и, поворачивая сектор, испытывают магнитный элемент матрицы. Передвигая фиксатор пантографа по шаблону, производят испытание всей матрицы.Если необходимо проверить матрицу пр температуре +180 С, включают нагреватель столика, а при - 60 С в ящик 47 закладывают сухой лед, дверь камеры плотно закрывается и через отверстие в камере заливается периодически жидкий азот до получения температуры в камере - 60 С. Отверстие в камере закрывается пробкой 48 и крышкой 49. Предмет изобретения Устройство для проверки пленочных матриц, содержащее измерительную головку, щуп и съемный проводник, отличающееся тем, что, с целью повышения точности проверки матриц, возможности их проверки в широком диапчзоне температур и уменьшения помех при съеме сигналов с пленок, оно содержит теплоизоляционную камеру, электрический нагреватель с обмоткой и механизм пантографа с шаблоном, причем .съемный проводник смонтирован на измерительной головке вместе со щупом, а обмотка нагревателя выполнена в виде тороида.185576фиг ФСоставитель А. А, Соколов Редактор И, С. Грузова Техред Г, Е, Петровская Корректор С. Н. Соколова Заказ 3384(19 Тираж 1970 Формат бум. 60(90/з Объем 0,49 изд. л, Подписное ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Центр, пр. Серова, д. 4Типография, пр. Сапунова, 2

Смотреть

Заявка

900991

А. Т. Полунин, А. Е. Бондарев, В. Г. Страхов, В. В. Китович

МПК / Метки

МПК: G11C 11/14, G11C 29/00

Метки: матриц, пленочных, проверки

Опубликовано: 01.01.1966

Код ссылки

<a href="https://patents.su/5-185576-ustrojjstvo-dlya-proverki-plenochnykh-matric.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для проверки пленочных матриц</a>

Похожие патенты