Способ измерения длительности переходных процессов в системах отклонения электронно-лучевых трубок

(5 )М. Кл. Н 01,Х 31/00 феударетееы 11 кемитет СССР в делам зееретеиий открыт 11(71) Заявител 54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДЛИТЕЛЬНОСТИ ПЕРЕХОДНЫХ ПРОЦЕССОВ В СИСТЕМАХ ОТКЛОНЕНИЯ ЭЛЕКТРОННОЛУЧЕВЫХ ТРУБОКпериодическим ность которых мпульсов упр задержкой отн них фронтов, при достижени установленног длительность мпульсами, длительменьше длительности вляющих сигналов с сительно их передвеличивают задержкузначения параметра, в статическом режим ереходного процесса ой значению задержи принимают равки 1 . Однако на экран следа электронног ствующего установи а для установки ми положение требуетс операция, по указа нет возможности пр точно во время изм микроскопа совпада следа электронного новившемся режиме,еосле взаимногосмеще мени измерения (,К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(23) ПрноритетДата опубликования описания 1 5 . 08,82 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при исследовании процессов отклонения.ПЬ основному авт,св М 699487известен способ измерения длительности переходных процессов в системах отклонения электронных пучков электроннолучевых трубок заключающийся в том, что предварительной регулировкой величин ,управляющих сигналов в статическом режиме устанавливают требуемые параметрыследа электронного пучка на экран электроннолучевой трубки ( ЭЛТ), и чего подают в исследуемые цепи управляющие сигналы в виде периодических импульсов прямоугольной фор" мы, причем длительность импульсов устанавливают большей ожидаемой длительности переходного процесса, а амплитуду, равной значению, установленному в статическом режиме, электроннолучевую трубку отпирают е ЭЛТ не видноо пучка соответвшемуся режиму,кроскопа в этоя специальнаяиной причинесверить, какерения визирет с положением пучка в уста- а в случае их я в течение врепример, из-за3 95117нестабильности измерительной аппаратуры или случайного сбоя микроскопа) достоверность результатовизмерений снижается.Цель изобретения - сокращение5времени, повышение точности, а .также удобства и достоверности измерений.Поставленная цель достигаетсятем,что согласно способу в интервалах между периодическими импульсами отпирания луча устанавливают режим частичного отпирания луча ЭЛТ. След электронного луча,соответствующий импульсу отпирания 15совмещают са следом электронноголуча, соответствующим установившемуся значению процесса отклонения, адлительность переходного процессаопределяют по времени задержки импульса отпирания электронного луча.На фиг.1 представлены эпюры:управляющего сигнала в исследуемойцепи 1, импульса й подсвета, задержанного на времяпо отношению казначалу управляющего сигнала, переходного процесса в цепи 3 отклонения, а также изображения световогопятна, соответствующие неотклоненному положению пучка ц, устано 30Вившемуся значению отклоненного пучка (точка 5) и положению пучка в момент времени соответствующий импульсу отпирания пучка ( тоцка 6 ).На фиг.2 представлена структурнаясхема установки, реализующей описанный способ,Установка содержит электроннолучевую трубку 7, содержащую отклоняющую систему 8, систему 9 динамической фокусировки, систему 10 статической фокусировки, генератор 11прямоугольных импульсов, переключатели 12, 13 и 1, электронные ключи 15,16 и 17, регулируемые источники18-21 тока, регулируемый элемент 22задержки, формирователь 23 импульсовподсвета, микроскоп 2, механизм25 перемещения микроскопа, шину 26нулевого потенциала, шину 27 опорногонапряжения и регулируемый источник28 напряжения. При реализации способа переключателями 12, 13 и 1 М подключают Входы ключей 15, 16 и 17 к шине 26 нулевого потенциала. При этом выходы истоцников 18, 19. и 20 тока отключают от отклоняющей системы 8 и сис 3, 4темй 9 динамической фокусировки, Регулировкой источника 21 фокусируют неотклоненный луц, после чего переключателями 12, 13 и 1 ч подключают входы ключей 15, 16 и 17 к шине опор ного напряжения, При этом ключи 15, 16 и 17 осуществляют подключение источников 18, 19 и 20 к катушкам отклоняющей системы 8 и системы 9 динамической фокусировки. Регули- - ровкой тока источников 18 и 19 обеспечивается отклонение луча в заданную точку экрана ЭЛТ, а регулировкой тока источника 20 фокусируют отклоненный луч. Регулировкой источника 28 устанавливается такое напряжение на модуляторе ЭЛТ, при. котором в промежутках между отпирающими импульсами не происходит полного эапирания луча. Отпирание ЭЛТ осуществляют периодическими импульсами, формируемыми формирователем 23 импульсов подсвета, работа которого синхронизирована генератором 11 прямоугольных импульсов, при этом на экране наблюдаются три светящие тоцки (фиг.1 ). Механизмом 25 перемещения устанавливают микроскоп 2 таким образом, чтобы точка 5, соответствующая установившемуся режиму переходного процесса, оказалась в центре поля зрения микроскопа 2, Увеличивая задержку при помощи элемента 22 задержки, наблюдают за пере- мещением световой точки б, которая при увеличении задержки передвигается к точке 5.По показаниям шкалы элемента 22 задержки определяют длительность переходного процесса отклонения, которая соответствует тому значению задержки, при которой передвигающаясятоцка бприблизится к точке 5, состветствующей положению пучка в установившемся режиме с заданной . точностью, а отклонение от этого положения при дальнейшем увеличении задержки не увеличивается.Применение способа обеспечивает сокращение времени измерения длительности переходных процессов в цепях Отклонения более чем в 3 раза и исключает погрешности обусловленные неточностью установки микроскопа,Формула изобретения Способ измерения длительностипереходных процессов в-системах5 9 отклонения электроннолучевых трубок по авт .св. У 699487, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью сокращения времени и повышения точности измерения в цепях отклонения, в интервалах между периодическими импульсами отпирания луча устанавливают режим частичного отпирания луча электроннолучевой трубки, след электронного луча, соответствующий импульсу отпирания, совмещают со следом 51473электронного луча, соответствующим установившемуся значению процесса отклонения, а длительность переходного процесса определяют по времени задержки импульса отпирания электронного луча,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе о 1. Авторское свидетельство СССР й 699487, кл. С 04 Г 13/00, 1978.