Сканирующий туннельный микроскоп
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
51) Н 01 д 3 П 26 О СУД АРСТВЕННЫЙО ИЗОВРЕТЕНИЯМ ИРИ ГКНТ СССР ИТЕТРЫТИЯМ(71) Институт физических проАН СССР(56) Авторское свидетельство1453475, кл, Н 01 Л 37/26 гСнайдер де Лозанн. Растронельный микроскоп на основеческих трубчатых пьеэоэлеменПриборы для научных исследов1988,4 с. 13.(54) СКАНИРУЮЩИЙ ТУННЕЛЬНЫЙ МИКР(57) Изобретение относится к злнои микроскопии и может быть исзовано гри исследованиях свойстповерхности при низких температЦелью изобретения является расши Изобретение относится к технике электронной микроскопии и может быт использовано прн исследованиях физи ческих свойств поверхностей твердых тел при низких температурах с разре шающей способностью порядка размеров атома.Целью изобретения является расши реиие функциональных возможностей микроскопа эа счет проведения измер ний в среде жидкогс гелия путем повышения собственной частоты ме ческих колебаний, 8016 МЩ 4 А 1 ние функциональных возможностей микроскопа за счет проведения измеренийв среде жидкого гелия путем повышения собственной частоты механических колебаний, Иикроскоп содержитвертикально ориентированный полыйцилиндрический корпус, В которомксаксиально расположены и жесткосоедичеиы по нижним смежным торцамвнешний и внутренний трубчатые пьезоэлементы (П), Измерительная иглазакреплена на верхнем тогце внутреннега П. Верхний торец внешнего Пжестко зафиксирован относительнокорпуса, а нижняя часть соединенныхП установлена в корпусе с возможностью вертикальнт о упруго регулируемого скольжения по его внутреннейповерхности, При этом держатель образца выполнен в ниде жестко закрепленного по краям по,гпружиненнсгоупругого диска, ., ил. На енг, 1 показана схема микроскопа, об.-,ий нггдгг на фиг, 2 - вид корпуса с упруги: элементсм, на фиг.Зсечение А-А на фиг. 2.Сканируюший туииельный микроскоп состоит пз голого цилиндрического 1корпуса 1 имеющего в своей средней части на внутренней поверхности два кольцеваобразных выступа 2 и 3. К боковой цилин гричсской говерхности выступа 3 приклеен своей верхней торцовой частью внешний трубчатый пьезоэлемент 4, а и.:гкней частью этот пье 169891эоэлемент установлен по скользящей.гпосадке относительно выступа э нижей частикорпуса 1, С внешним трубчатым пьезоэлементом 4 коаксиально1расположен внутренний трубчатый пьезоэлемент 6, который приклеен нижней.зстью, как и внешний пьезоэлемент,ф торцовому кольцу 7, К верхнемуторцу пьезоэлемента б приклеен игло,Ь".,1 жатель 8, в котором закрепленаг,трием вверх игла 9. Образец 10 приклеен на нижнюю поверхность упругогодиска 11 держателя образца. Полыйстакан 12 вставлен в верхнюю часть;корпуса и своим нижним торцом прижимает диск 11 к выступу 2, В дне стакана имеется резьбовое отверстие свинтом 13, взаимодействующим с диском 11 через пружину 14, В нижней,половине корпуса 1 (фиг. 2) выполнены две параллельные вертикальныепрорези 15, образующие лепесток 16,шириной Й/2 (Н - наружный радиускорпуса) .25На внутренних и внешних цилиндрических поверхностях пьезоэлементов4 и б нанесено токопроводящее покрытие, которое выполнено в виде четырех, изолированных секторов,30Микроскоп работает следующим образом,Приближение острия иглы к исследуемой поверхности образца осуществляется в две стадии, 35На первой стадии производитсясближение иглы с образцом спомощьюспециального манипулятора, представляющего собой металлический стержень,который вводится во внутреннюю полость внутреннего пьезоэлемента 6 досоприкосновения с торцом иглы 9. Поддействием усилия, создаваемого манипулятором, игла, проскальзывая в иглодержателе, приближается к поверхности образца до расстояния, позволяющего создать туннельный ток с помощьюсистемы тонкого регулирования, т,е.на расстояние порядка 10 мкм. Контрольрасстояния между острием движущей 50иглы и поверхностью образца осуществляется с помощью оптического микроскопа через окно в корпусе,Затем микроскоп укрепляют на труб55 ке иэ нержавеющей стали, в которой размещаются соединительные провода и манипулятор вращения винта 13. После этого его опускают в дьюар с жидким гелием, где он охлаждается дотемпературы 2-3 К,За счет того,-что внутренний б ивнешний 4 пьезоэлементы изготовленыиз одинакового материала и имеютпочти одинаковую длину, а внешнийпьезоэлемент установлен в нижней час-.ти по скользящей посадке, оба пьезоэлемента при охлаждении одинаковоизменяют свою длину, При этом иглодержатель 8 и игла 9 остаются напрежнем расстоянии относительно образца 10.На второй стадии вращение винта13 приводит к деформации диска 11и сближению держателя образца и иглы,При соответствующем выборе материалов и размеров элементов один оборотвинта соответствует смещению держателя образца на 2 мкм.При возникновении туннельноготока в цепи между иглой и образцомвращение винта 13 прекращается и проводятся измерения,Установка нижней части пьезоэлементов по скользящей посадке, обеспечение упругого скольжения с помощьюподжатого внутрь корпуса лепестка 16,а также повьппение жесткости держателя образца за счет введения упругогодиска 11 позволяет повысить жесткостьконструкции и увеличить частоту собственных колебаний по крайней мере.в 2 раза, В результате обеспечивается повышенная стабильность туннельного промежутка и может быть достигнуто разрешение микроскопа до 1 О нм,Формула изобретенияСканирующий туннельный микроскоп, содержащий вертикально ориентированный полый цилиндрический корпус с коаксиально расположенными в нем и жестко соединенными по нижним смежным торцам внутренним и внешним трубчатыми пьезоэлементами, иглу, закрепленную на верхнем торце внутреннего пьезоэлемента, и расположенный над иглой пружинный держатель образца, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью расширения функциональных возможностей эа счет проведения измерений в среде жидкого гелия путем повьппения собственной частоты механических колебаний, верхний торец внешнего пьезоэлемента жестко зафиксирован относительно корпуса, нижняячасть соединенных пьезоэлементовустановлена в корпусе с воэможностьювертикального упругорегулируемогоскольжения по его внутренней поверх 5 ности, а держатель образца выполненв виде подпружиненного упругого диска, жестко закреплеййого й кбрпусапо его краям.1698914 фСоставитель В,1"аврвщинТехред Л.ОйиВньк .Корректор Р,Ревска Редактор С.Лиси Зак ВЯИИП 11 одиисноеениям и откр кая наб., д. вобре сударственного комитета ло 113035 Иссква Жям нри ГКНТ СС
СмотретьЗаявка
4758682, 18.10.1989
ИНСТИТУТ ФИЗИЧЕСКИХ ПРОБЛЕМ АН СССР
АЛЬТФЕДЕР ИГОРЬ БОРИСОВИЧ, ВОЛОДИН АЛЕКСАНДР ПЕТРОВИЧ, ХАЙКИН МОИСЕЙ СЕМЕНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: H01J 37/26
Метки: микроскоп, сканирующий, туннельный
Опубликовано: 15.12.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/4-1698914-skaniruyushhijj-tunnelnyjj-mikroskop.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Сканирующий туннельный микроскоп</a>
Предыдущий патент: Регулятор линейности строк
Следующий патент: Устройство для микроанализа образца
Случайный патент: Источник магнитного поля для индуктивной геоэлектроразведки