Способ измерения формы объекта и устройство для его осуществления
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(191 И 1) 2 01 В 21/2 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИ РЕТЕНИ ВТОРСНОМ(46) 23,07.91. Бюл, (7 1) Рыбинский авиа гический институт (72) Ю.И.Гудков, Ю, Е.А,Зак, В,В,Зиновь М.Ю,Смирнов, А.В.Ма феев и В,И.Шелгунов (53) 531,717 (088.8 (56) Авторское свид У 1105756, кл, С 01Авторское свиде У 976293, кл, С 01 функциями, В уст ляющем способ, и ики 6 света расп ных точках на по ым про ве, и 7 т в сущест источ онтрол 3, экв оо мни ага ноло 1 ионньв истантнои эталон ерхности, запоми рхност ной из,Жаботинский, в, А.К.Криков,шинин, А.А.Тимояемои ают си иемника 7 в кажда льных а и с бъ тельство СССРВ 1 1/24, 983.ельство СССР11/24, 1981. роля фотопрточках длязапомненнымного объектвыполнена в ты вмонтироваводные чем ны в промежут ность которого ности измеряем жточныи эталон можностью перем е про иля объ та,асти щения отн пособлени ительн 15, в расширение ои устройствамерения формькоторых опис базирующего при тором устанавли ект 3, 2 с, и 1 а ается из з.п, ф-л яемыи2 ил ътов, поверхнос бр т носится к и может бы змер етени техни ис поль, т ельнои зовано, профиляЦель ия от расст ия й до поа излерхносУст е о в частности, пр объекта.изобретения явл области примене ства за счет об формы объектов, описывается прои т промежуточны 2 которого эк с ба эталонвидиста я споспечениверхнольными ти алонноавнивается и устроимерениякоторыхфункциямиНа фиосуществ объекта верхнос тема 4,по зв оптическая я в виде И ис 1светово отверст акрепленнь ного этало схема устройства, редлагаемый спосо юще(54) СПОСОБ ИЗМЕР "И УСТРОЙСТВО ДЛЯ (57) Изобретение тельной технике и зовано при контро Цель изобретения применения способ счет обеспечения ЕНИЯ ФОРМЫ ОБЪЕКТА ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ относится к измериможет быть испольточках для эталонного удят о контролируемом и разности сигналов с кон иемника 7 в контрольных измеряемого объекта 3 с и сигналами для эталона, оптическая система 4 виде световодньх жгутов ыи эталон, поверхквидистантна поверх о объекта 3, промеустановлен с возна фиг.2 графически показана зависимость сигнала 0 на выходе приемнити объекта.ойство содерж1, поверхностнтна поверхнос которым сть объекта 3,5, выполненндных жгутов,иях промежутоЯ + 1 источников 6 излучения, наприМер светодиодов, сопряженных с торцами световодных жгутов системы 4, Я+1 - канальный приемник излучения, выполненный, например, в виде Я+1 фотодиодов 7, сопряженных с торца" ми световодных жгутов системы 5, Я + 1 силитель 8 Я, первых 9 и Я вторых0 элементов памяти (например, аналоговые коммутаторы с Я + 1 дифферениальных усилителей 11, Я индикатоов 12, компаратор 13, переключатель 4 режимов "Обучение-работа" Я ка алов являются измерительными, а Я+1)-й - опорным, Устройство имеет акже базирующее приспособление 15, предназначенное для установки объекта 3, Промежуточный эталон 1 жестко Связан с направляющей 16 и установЛен с возможностью перемещения поредством привода (на фиг,1 не поазан) в вертикальном направленииштативе 17. В верхней и нижнеч часги направляющей 16 закреплены упоры 18, 19. Положение упоров 18, 19 моет регулироваться по длине направ,пяющей 16 с помощью элементов крепления. На штативе 17 закреплены первый 20 и второй 21 конечные выклю- чателИ, базирующее приспособление 15 закреплено на столе 22 штатива 1.Устройство содержит также источ" ник 23 тока, Я+1 источник излучения подключен к его выходу, Я+1 канальный приемник излучения - к входам усилителей 8, Выход усилителя 8 опорного канала соединен с первым входом компаратора 13, Второй вход 24 компаратора 13 соединен с источником опорного напряжения и ,Вых д компаратора 13 соединен с переключающим контактом переключателя 14 "Обучение- работа". Выходи усилителей 8 измерительных каналов 1, 11 Я соединены с входами первого 9 и второго 10 эпементов памяти, Выходы элементов памяти 9 и 10 соединены с входами дифференциальных усилителей 11, к выходу которых подключены элементы индикации 12, Стробирующие входы первых элементов 9 памяти подключены к выходу "Обучение" переключателя 14 режимов Стробирующие входы вторых элементов 10 памяти подключены к выходу "Работа" переключателя 16,Способ измерения формы объектауществляется устройством следующим ос обзом. Ь режиме обучения (переключатель14 в положении "Обучение" ) производится опускание промежуточного эталона 1 (это перемещение ограничено5положением первого конечного выключателя 20), При движении напряжениена выходах усилителей 8 изменяетсяпо закону, показанному на фиг. 2,При достижении зазора между эталоном1 и объектом 3, равного д; (соответствует значению Б 0), на выходекомпаратора 13 появляется "1". Этовызывает открывание первых элементовпамяти 9, т,е, напряжение на их выходах точно соответствует входномув каждый момент времени, На спадающем участке Ж р,О) характеристики(фиг, 2) в момент равенства выходного напряжения усилителя 8 опорногоканала напряжению источника опорного напряжения Б на выходе компаратора 13 появляется напряжение "0",Это приводит к "запиранию" первых 25 элементов памяти 9, т,е. напряжениена их выходах не зависит от входногоЙ равно входному напряжению, действующему в момент запирания, Положение упора 18 отрегулировано так,что момент перехода компаратора 13из состояния "1" в "0" происходитдо срабатывания первого концевоговыключателя 20, Таким образом, присрабатывании концевого выключателя20 в первых элементах памяти 9 заполн 11ены "нулевые показания датчиковзмерительных каналов 1.Я, Посде этого производится отключение источнйка 23 тока, питающего источника 40 излучения 6, и подъем эталона 2 вкрайнее верхнее положение (до срабатывания второго концевого выключателя 21).Далее устройствс переводится в 45 рабочий режим, Для этого переключатель 14 устанавливается в положение"Работа. В баэирующее приспособление помещается объект 3, поверхность которого измеряется. Производится опускание промежуточного эталона 1. При этом аналогично режиму"Обучение" производится запись выходных напряжений усилителей 8 измерительных каналов 1 Я во вторыеэлементы 10 памяти, После чего отключается источник 23 тока и производится подъем эталона 1 в крайнее верхнее положение, При этом5 166 13 из состояния "1" в состояние "О") индикаторы 12 показывают отклонения размеров в контролируемых точках из меряемого объекта 3 от размеров эталонного объекта в этих же точках,Формула изобретения1. Способ измерения формы объекта, заключающийся в том, что формируют световой пучок, состоящий из набора лучей, принимают лучи в контрольных точках, а о контролируемом параметре судят по сигналам, принятым в каждой контрольной точке, о т л ич а ю щ и й с я тем, что, с целью расширения области применения, контрольные точки формируют эквидистантно эталонной поверхности, набор световых лучей формируют точечными и осуществляют прием в контрольных точках отраженного от эталонной поверхности соответствующего светового луча и запоминают эталонные сигналы в каждой из контрольных точек в момент достижения заданного уровня опорного сигнала, соответствующего определенному расстоянию между эталонной поверхностью и контрольными точками, аналогично запоминают сигналы от измеряемой поверхности, а отклонение формы измеряемого объекта определяют по изменению сигналов от отраженных световых лучей по срав" нению.с эталонными сигналами.2. Способ измерения формы объектапоп.1, отличающийся тем, что световые лучи формируют по нормали к эталонной поверхности,3, Устройство для измерения формы объекта, содержащее источник излучения, установленную последовательно по ходу светового потока оптическую систему, И-канальный приемник излу- в 5231чения, число каналов приемника равночислу контрольных точек, соответствующих числу контролируемых элементов объекта, и схему обработки сигнала, отличающееся тем,что, с целью расширения области применения, оно снабжено Я источникамиизлучения, опорным приемником излу 1 О чения, промежуточным эталоном с (0+1)сквозными отверстиями в контрольныхточках, расположенных по его поверхности, эквидистантной поверхностиэталонного объекта, оптическая сис 15 тема выполнена в виде (И+1) световодных жгутов, пропущенных сквозьсоответствующие отверстия промежуточного эталона, и содержащими вкаждом передающие и приемные свето 20 воды, одни концы которых сопряженыторцами с поверхностью промежуточного эталона, а другие - с соответствующим источником и приемником излучения, блок обработки сигнала вы 25 полнен в виде источника тока, переключатель режимов, М цепей, каждаяиз которых содержит усилитель, первый и второй элементы памяти, подключенные к нему параллельно, и диффе 30 ренциальный усилитель, инвертирующий и прямой входы которого соединены соответственно с выходами первогои второго элементов памяти, а выходс индикатором, опорной цепи, содержащей И+1-й усилитель и компаратор,соединенный с ним, И цепей соединенымежду собой соответственно стробирующим входом первого и второго элементов памяти, входы являются выходами40 Обучение и Работа переключателярежимов, источники излучения подключены к источнику тока, второй входкомпаратора предназначен для подключения к источнику опорного напряжения,1(Зазо,о) Составитель Е. Глазковаедактор Е,Полионова Техред А,Кравчук, Корректор Л.Пилипенко П Ванн 1130 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагари Заказ,271 ВНИИПИ Го Тираж 388о комитета Москва,о изобретениям и 35, Раушская наб исноеткрытиям при ГКНТ ССд. 4/5
СмотретьЗаявка
4419130, 03.05.1988
РЫБИНСКИЙ АВИАЦИОННЫЙ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
ГУДКОВ ЮРИЙ ИГОРЕВИЧ, ЖАБОТИНСКИЙ ЮРИЙ ДАНИЛОВИЧ, ЗАК ЕВГЕНИЙ АРОНОВИЧ, ЗИНОВЬЕВ ВЛАДИМИР ВЛАДИСЛАВОВИЧ, КРИКОВ АНАТОЛИЙ КОНСТАНТИНОВИЧ, СМИРНОВ МИХАИЛ ЮРЬЕВИЧ, МАШИНИН АНДРЕЙ ВАЛЕРЬЕВИЧ, ТИМОФЕЕВ АЛЕКСАНДР АНТОНОВИЧ, ШЕЛГУНОВ ВАЛЕРИЙ ИВАНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 21/20
Опубликовано: 23.07.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/4-1665231-sposob-izmereniya-formy-obekta-i-ustrojjstvo-dlya-ego-osushhestvleniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения формы объекта и устройство для его осуществления</a>
Предыдущий патент: Устройство контроля линейных размеров изделий
Следующий патент: Способ изготовления шкалы
Случайный патент: Настроечный образец для ультразвуковой дефектоскопии