Способ мониторирования в нейтронно-активационном анализе
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СЮЗ СОЕЕТСНИХ ЦИА ДИСТИЧЕР,РСПУБЛИН ГОСУДАРСТВЕННЦй НОМИТЕтПС ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОЩРИТИЯМ Эб ТЕНИ 8 АЬТОРСЯ(56) РЬз.11 ррофакоп апа 1 уз 1 эшеЬой Л.йайг.р,87. Яатаргияг Н гггие по несколькимтроино" активациорукопись ВЙНИТИ,и др. Зталонирова мониторам при не зе. Д 4-77,Б ИОКПОРИРОМНИЯ В НКЙ- ф(фЯНАЦНОННЩ 1 АНАЛИЗЕетение относится к англо" имиир В частности к ОТНОварианту нейтронно-актианалиэа (НАА), и может ьэоваио при многозлемеитиродных объектов. Цельюя является упрощение спомма-лин ко аналитическ руежгх изот тивностям р в к абсолют цнч аналитнчес ов монитора. Р Гнс тра изотоп оба по линийя спо га итьб ее оляе т иск адчю определения тивностг.й с испо тягъс гамма-истом процессалютных за ием станд Зорю иков.г ил., 2 табл. Изобретение относится к аналитической химии, В частности к относительному вариаггту нейтронно-активационного анализа (НАА), преимущественно к массовоягу НАА, может быть использовано при многоэлементном НАА природных объектов технологических продуктов биологических материалов и д е и гамм луть иэобоете заключаетсябровочнуютносительной аммачают гамма"спекй во всем р р нэ обретения УХНЗОТОПНОГО МОч ения упрощение спониторированияСВЯЭанных Стектора по эфсоб нижение трудалибровкой ка Озатратг одого д и(57) Изобртической хсительномувационногобыть исполном НАА призобретени НЙЕ ИЗОБР СВИДЕТЕЛЬСТВУ 88.8)3.С, Иецйгоп асй 1 ча-,у СЬе вопоэйаггйагйа 1, СЬев, 1973, ч.15 соба двухизотопнаго мониторирования,снюкенче трудозатрат, связанньм скалибровкой каждого детектора по эффективности регистрации гамма"излучения, Сущность изобретения заключается В том что нскОмую калнброВОЧную зависимость изменения относительной эКективности регистрациигамга-излучения от энергии получаютс помощью многолинейчатого гаяюаспектра монитора с энергией во всемрегистрируемом диапазоне излучения,по которой определяют отношение абсолготных эффектнвггостей регнс трации Фективности регистрачения в томчто искомую кал зависимость изменения зрфективностгг регистра лучения от .энергии гго мощью многолннейчатого тра монитора с энергие гистрируемом диапазоне Способиллюстрируется слпримераяги.14647 Построение калибровочной зависимости относительной эффективности Е; от энергии.Для построения калибровочной зависимости нужны ядерно"физические характеристики изотопа " Та и ряд данных,полученных иэ эксперимента,Для;получения экспериментальных данных мониторы нейтронных потоков - цинк и 16 тантал облучали вместе с исследуемыми обраэцамн в ядерном реакторе,Время облучения составляло 20 ч,время охлаждения - )00 ч, время измерения гамма-спектра Та " 5 мин,в)масса тантала ) )О г.Справочные (столбцы )-6) н экс-,периментальные (столбцы 7,ф) данныесведены в табл.1,Таблица Периодполураспад Радио актив Исходргии аспро-.- траненость,Х ммантов квантов из ра 99, 9883 Та " 111, 2 д 0,5)0,440,026Ою)40,0190,0325003690,3450,)70,273Оя)2 67,884,7100,1113,8179,6264,03121,0) 1,8912211231 380 60,8 70,9 45,8 70,8 32 р 3 200 182 24) 20 ОО 90 22,16 Ва чертеже приведена калиброВоч- Так, например, для ф ).а(Еная зависимость изменения относительщ 487 кзв).ной эффективности регистрации гамма, е ьЯ 87 3 9 а 487излучения от энергии 7 ь (И)5)Е )89) ф"Используя данные табл.1, строятОпределение ряда элементов вграфик изменения относительной зф" стандартном образце состава горнойфективности регистрации от знергии породы "габбро эссекснтовое" (СГДгамма-излучения. На левую ось орди", Ы).иат наносят экспериментально найден , 40 В качестве исследуемых нспользо"ные значения ппощадей фотопиков вали стандартные образцы состава гор чф 1оТа (имп), нормировапнык к )ООЖ- иой породы "габбро эссекснтовоенному выходу (О)/:ф),-8-й столбец таб- (СГД-)А), Анализ проводили по слелицы). На ось абсцисс " энергию гам , дующей схеме: Нониторы цинк и танталма-квантов в кзв. Ба правой оси ор- ) облучали вместе с образцамн СГД-)Адинат откладывают значения , в еди" в ядерном реакторе. Время облученияницах абсолютнойэффективности ре ч время выдержки 100 ч время3 й11 истрацни гамма-линии Та с Еизмерения мониторов 5 мин, стандарт 1189 кзв. образцов 15-20 минПосле облучения и выдержки реИ 1/ : гистрировали гамма"спектр 9 Та,Я (1189)/ Г 189) из него получали Та (89) й стро. Те ) теипи график калибровочной эависимосафика легко поучить отношение ти относительной эффективности оттных эффективностей регистра-энергии.щ двух гамма-линий любых знер",т кИз графика)89) ных Из грабсолюции длгий,146471 спектр пробы стандартного образца(СГД"1 А), иэ которого получали приведенные интенсивности гамма-линийобразца 11 , Расчет содержанияэлемента в пробе вели по формуле шщЛ11 оьР ш(2)1 обР 1 рг1 О пересчитывали на мас,Х. Данные поопределению содержания элементов встандартных образцах СГД-А приведены в табл,2. Т а б л и ц а 2 Определение содержания ряда элементов в стандартных образцах СГДА 1Е;ЕтД 89) Содержание, мас,7 Е,Изотоп кэвЭле" мент К К; Аттесто- Опредеванно лево по монитору О, 0017 0,050,000140,0005 1 З 8111 Се141 ТЬ1 в12,870,524,0168216112,939,9719,9151151О, 0110,00861460,1460 Яш Се ТЬ Ец 0,000290,008 1"ТЬее0,004Со лучения от энергии, нэ которой определить отношение абсолютных эффективностей регистрации, что тМм самымснижает трудо- и времязатраты проведения анализа, что особенно важно вслучае массового НАА Предлагаемый способ существенно, упрощает известный способ двухиэотопного мониторирования в части определения отношений абсолютных эфФективностей регистрации аналитических гамма"линий интересующих изотопов к абсолютным эффективностям регистрации аналитических гаьо 1 а-линий изотопов монитора за счет исключения стадий определения абсолютньв эфФективностей с использованием ОСГИ. Измерение гамма-спектра монитора фТа одновременно позволяет решить две задачи - определить удельные ин теисивности гамма-линий изотопов монитора и получить калибровочную зависимость изменения относительной зФФактивности регистрации гамма-нзФормула изобретения Способ маниторирования в нейтронно-активационном анализе, вклю-, чающий облучение анализируемых образцов и двухизотопного монитора в канале ядерного реактора, определение отношения абсолютных эффективностей регистрации аналитических гамма-линий контролируемых изотопов к.абсоЛютньк эффективностям регистких гамма-линий изотопов, по которым проводится определение. После этого измеряли гамма-спектр цинка и из него Т Еп (1 115). Приведенные эталонные интенсивности для всех аналитических гамма.плиний рассчитывали по Формулет; К; - - Т+КМ 1К 1 и К, рассчитывали из справочных данных, И монитор цинкИмо интор тантал. Затем измеряли гамма 104 18 84145 17,9298 6,83344 5,591408 0,79396 4,6487 3,451596 0,664889 1,51120 1,0910991290 0,891173 1,021332 0,85 2,41,2Мд СоставительТехред Л,СерФЩ аъФ 4 ФФфТираж 289митета по ннзобрква, В 35 р РауВ ад ОВ рректор Р 1.Пожо едакто ФШ ЭШ Э 4 М Ю Заказ 4 буз/ДСП: ВНИИПИ Госуд ственкого ко 113035, Ио ПРоизВОДственно издательский ЖОмбииат Патент р г еу% ул. Гагарина, 101 рацинн аналитических гамма-линМ изотопов монитоРар измеРение гамма-спектра монитора,определение из негоприведениьщ уделъннк йитеисивностейгамма-линий 1 изотопов монитора с пос"ледуищейй радецкой по иии приведеиникудельимк интеисннвпостенн аиалитическю гамма-линнп изотопов коитрбдируененк злемеитов о т л и ч а на щ и й" 16с и темр чтор с Депьш его УИРОЩ 6нний, калибровочную завннсимость измеиеиии Отнноситедьной зФфектннвнностннрегистраннин гамма издуч 6 пии От зне )гии стропт с помОБью миоголииеича" того гамма-спектра монитора с зиер"гиейй Во всем регистрируемом диапазоне излучення и из иее определяют от.ношение абсолвтимх зективностейрегистрщии аналитические гамма линий коитродируемик изотопов к абсо".33 Отиым зф 4 юктивностям регистрациианалитических гамма линий изотОповмонитОрае1 2. Способ по п.1, о г л и ч а ю"а 1 и й с я тем, что в качестве одного Яз изОтопоВ моиитоР 8 исполнрзУнОТ"Ха Подписноеевам и.открцтивм при ГКНТ СССРкап иаб., д, 4/5
СмотретьЗаявка
4280273, 07.07.1987
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-7924
СМАХТИН Л. А, ФИЛИППОВА Н. В, ШОКЕЛЬ Е. С
МПК / Метки
МПК: G01T 1/36
Метки: анализе, мониторирования, нейтронно-активационном
Опубликовано: 30.12.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/4-1464711-sposob-monitorirovaniya-v-nejjtronno-aktivacionnom-analize.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ мониторирования в нейтронно-активационном анализе</a>
Предыдущий патент: Способ электродуговой сварки с короткими замыканиями дугового промежутка
Следующий патент: Устройство для измерения угловой скорости
Случайный патент: Устройство для перегрузки сыпучегоматериала c одного вибрационногоконвейера ha другой