Способ определения линейных параметров многополюсника

СОЮЗ СОЯЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИН 594 С П У ва свер 70, с.5 олюс ных Извести а, 1977,ПРЕДЕЛЕНИЯ ЛИНЕЙНЬО ГО ПОЛЮСНИКАние относится к тй и обеспечивает 4) СПОСОБПАРАМЕТРОВ М 7) Изобрет ехни повыния измере ние точности за с ет устра вленных сторов. то на о паразитСпособ огрешностей щи элемент обуслми рез ключается том,многопдин вх (ИМП) нный люсник исследуемогчерез послед тел вклю ОСУДАРСТНЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ АНИЕ ИЗО РСНОМУ СВИДЕТЕЛЬС(56) Альтман Дж.Л. Устройствысоких частот. М.: Мир, 1978.Мирошник И,А, Измерение волновыхпараметров рассеяния многопэлементов в радиодиапазоне.ВУЗов СССР. Радиоэлектроникт.ХХ, В 5, с.86-89. 801317370 А 1 зистор 2 подают синусоидальный сигнал от источника 1 синусоидального сигнала, К другим входам ИМП 5 подключаются параллельно резисторы 3. На всех входах ИМП 5 измеряют ком плексные напряжения П" , П . При1 ф,31отсутствии ИМП 5 и поочередном подключении последовательно к каждому резистору 3 источника ЭДС измеряют диагональные и недиагональные компоненты П , П матрицы опорных на-пряжений Пр. Затем при поочередном подключении образцового резистора последовательно к каждому резистору 3 и источнику ЭДС измеряют напряжение П . на нем - компонент вектора калибровочных напряжений П 1,. Операции измерений напряжений на ИМП 5, опорных и калибровочных напряжений осуществляются по И раз.Данные измерений используются для определения коэф.матрицы по формулам. При этом учитывают" ся систематические поправки для определения точных значений коэф, матрицы ИМП 5. Резисторы 2,3 и образцовый резистор подключаются через контактное приспособление 6. 2 ил.% 35 1 131Изобретение относится к технике рдиоизмерений и может использоваться для измерения матриц линейных параметров транзисторов, интегральных схем и других многополюсников.Цель изобретения - повьяпение точности эа счет устранения погрешностей, обусловленных паразитными элементами резисторов. На фиг, 1 и 2 изображены структурные электрические схемы устройств дляосуществления предлагаемого способа.Устройства для осуществления предлагаемого способа содержат источник1 синусоидального сигнала, резисторы2 и 3, образцовый резистор 4 и исследуемый многополюсник 5.Способ осуществляют следующим образом,Для измерения вектора калибровочных напряжений собирают устройство в соответствии с фиг. 1. При подключении источника 1 через резистор2 к образцовому резистору 4, к которому подсоединяется контактное приспособпение 6, предназначенное длясоединения 1-го входа исследуемогомногополюсника 5, обладающего матрицей У проводимости, и резистора 3 квыходу контактного приспособления 6,предназначенного для подсоединения1-го входа исследуемого многополюсника 5, измеряют компоненты Бо; вектора Б калибровочных напряжений.Данные измерения проводят М раз. 730 2Данные измерений используют дляопределения коэффициентов матриц линейных параметров исследуемого многополюсника, причем результаты калибровки измерительного приспособления в виде составляющих векторов напряжений 0 и матрицы напряжений П , а также данные калибровки пробника измерительного прибора, а именно значе ние его входной проводимости на заданной частоте измерений используют для определения систематических поправок, посредством которых определяют точные значения коэффициентов 15 матрицы исследуемого многополюсникапутем нахождения коэффициентов матрицы: У -П (М) - (М,) "1, 20 где Р - скалярная матрица с диагональным элементом, равным 2;М и Мо - матрицы, диагональные и недиагональные коэффициентыкоторых определяют по фор- мулам45 Мо 1 где д и 50 П,о 1По и По,. Затем собирают устройство в соответствии с фиг. 2, для чего отсоединяют образцовый резистор 4 от -входа и измеряют диагональные и недиагональные компоненты 0 р и О ой матрицы опорных напряжений Б . При каждомоподключении источника 1 к очередному т.-входу контактного приспособления измеряют одну диагональную компоненту вектора 0 и Ннедиагональных его компонент, причем операции повторяют И раз по числу входов,Для определения компонент матрицы полюсных напряжений собирают устройство по фиг. 2 путем подключения,исследуемого многополюсника с матрицей У проводимости к соответствующим входам контактного приспособления. Процесс измерений диагональных и недиагональных компонент П " и 0 ; матрицы напряжений 1 дналогичен процессу измерения матрицы напряжений Бо. 2 П о 1" П о 1Ь ( --- 1) У 0 01 0 О 1 индексы входов исследуемого многополюсника;диагональный элементматрицы напряжений Бдля входадиагональный элементматрицы напряжений Бдля входа элементы вектора напряжений 111, для входови13173 о М и О; элемент матрицы напряжений О, который соответствует напряжениюна входе 3 при подключении источника ЭДС квходупроводимость образцового резистора для вхо- .да 1;проводимость образцового резистора для входа 1;входная проводимостьизмерительного прибора;диагональный элемент 15матрицы напряжений Бдля входа 1;недиагональный элементматрицы Б ,который соответствует напряжению 20на входе 3 при подключении источника ЭДС квходу д. 1 Мо о 1 М 01 где Способ определения линейных параметров многополюсника, включающий подачу синусоидального сигнала на один из входов исследуемого много полюсника при подключении к нему последовательно, а к остальным входам - параллельно, резисторов и измерение комплексных напряжений О",на всех входах исследуемого мно-З 5 гополюсника, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повьппения точности за счет устранения погрешностей;обус- . ловленных паразитными элементами резисторов, дополнительно измеряют на пряжения Оо на каждом из резисторов в отсутствии исследуемого многополюсника при поочередном подсоединении к каждому из резисторов последовательно источника ЭДС, измеряют 45 напряжения Бо; на образцовом резисторе при поочередном подключении его последовательно к каждому из резисторов и.источнику Э ДС, а линейные параметры исследуемого многополюсника определяют путем нахождения коэффициентов матрицы: 55 где 0 - скалярная матрица с диагональным элементом, равным 2; Формула изобретения 25 4Мо - матрицы, диагональные и недиагональные коэффициентыкоторых определяются по формулам1-1 1 /о2 ( ---- 1)01ОО 1ОсУ 1 У 1)Б;1о2(-- 1)УД 1 100 11 о 11О оц Оо3 012(- --- 1 )ОО1о20 о Б О--- ( 1) Уо 0 М)---- 13 о 11и ОО 11 и 3 - индексы входов исследуемого многополюсника;О . - диагональный элемент матрицы напряжений Б длявходаО - диагональный элемент матрицы напряжений У дляовходаБо; - элемент вектора напряжений Б для входа д;О о - элемент вектора напряжений 13, для входа . О 1 - элемент матрицы напряжений У, который соответствует напряжению на вхо.де 3 при подключении источника ЭДС к входу 1; Т; - проводимость образцовогорезистора для входа У 1 . - проводимость образцового11резистора для входа У . - входная проводимостьизмерительного прибора;- диагональный элементматрицы напряжений О,для входаО " - диагональный элемент маторицы напряжений БО длявходаОО, - недиагональный элементматрицы Б , который соответствует напряжениюна входе 1 при подключении источника ЭДС к входу 1,Муск оррек 0 Тираж 730 ПодписноВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий3035, Москва, Ж, Раушская наб., д.4/5 Заказ 24 1 Производственно-полиграфическое предприятие, г.ужгород, ул. Проектная