Способ измерения пространственного распределения плотности потока энергии свч излучения
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК О 9) 80(ш Зс 50 0 01 й 29/10 АОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯща ФЪ ЕЛЬСТ АВТОРСЯОМУ С г емпература окружающей сре1 тветствуюрме,ощения иэном датчике, энергииграницах ргиы СВизотермы ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ(46) 0712,84. Бюл, Мф 45 (72) О,И.Зецер и Е.В.Ратников (71) Институт физики Земли им О.И.Ц 1 мидта(56) 1, Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. Под ред. В.В.Клюева., Т. 1, М , "Машиностроение", 1976, с. 223.2. Максимов В,Н Четкарев В.А. Теплофотоиндикация распределения больших уровней потока СВЧ мощности на жидких кристаллах;ПТЭ, 1977, В 2,. с. 154.(54)(57) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПРОСТРАНСТВЕННОГО РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ПЛОТНОСТИ ПОТОКА ЭНЕРГИИ СВЧ ИЗЛУЧЕНИЯ, заключающийся в том, что СВЧ излучением воздействуют на пленочный датчик, на котором индицируют изотерму, снимают изотерму на фотопленку и определяют плотность потока энергии СВЧизлучения в границах изотермы, о т - л .и ч а ю щ и й с я; тем, что, с целью повышения точности измерений и расширения динамического диапазона измеряемых. плотностей потока энергии СВЧ излучения, съемку изотерм производят .не менее двух раз в течение интервала времени, много меньшего наименьшей из двух величин Р /а исбд /2 сь, где с, , д. и а соответственно теплоемкость, плот"ность, толщина и температуропроводность пленочного датчика, к,коэффициент теплообмена, 10 - характерный.пространственный размер. измеряемого распределения плотности потока энергии СВЧ излучения,"причем из.меряют время 1 , 1,1 п сначала воздействия.СВЧ излучения напленочный датчик и до момента 1-й,2-й,П -й съемки, вычисляютплотность потока энергии в границаходной, например первой, изотермы по ды Т - температура, со щая первой изот М - коэффициент погл лучения в,плено И, - плотность поток СВЧ излучения в первой изотермы а йлотностьйл потока эне1128198 2ночный датчик и до момента 1-й, 2-1, , .й -й съемки, вычисляют плотность Я потока энергии в границах одной, например первой, нзотермы по5 формуле с Изобретение относится к техникеСВЧ измерения, а именно к способамизмерения. пространственного распре:деления плотности потока энергииСВЧ излучения.Известен способ измерения прост-,ранственного распределения плотностйпотока энергии СВЧ излучения, заключающийся в том, что ВЧ излучением,подлежащим измерению, воздействуют 10на пленочный датчик индицируют иснимают на фотопленку контуры изотермы 1 .Однако известный способ отличается малой точностью. 15" Наиболее близким техническим ре:шением к изобретению являетсяспособизмерения. пространственного распределения плотности потока энергииСВЧ излучения, заключающийся в том, 20что СВЧ излучением воздействуют на:пленочный датчик, на котором индицируют изотерму, снимают изотермуна фотопленку и определяют плотностьпотока энергии СВЧ излучения вграницах изотермы с помощью калиброванного источника СВЧ излучения 21,Однако для измерения плотностейпотока энергии больших, чем указанов известном способе 1 такие источники З 0отсутствуют.Цель изобретения - повышение точности измерений и расширение динамического диапазона измеряемых плотностей потока энергии СВЧ излучения. ЗЦель достйгается тем, что соглас. но способу измерения пространствен:ного распределения плотности потока 1энергии СВЧ излучения, заключающемуся в.том, что СВЧ излучением воздей 40:ствуют на пленочный датчик, на котором индицируют изотерму снимаютизотермуча фотопленку и определяютплотность потока энергии СВЧ излучения в границах изотермы, съемкуизотерм производят не менее двух.Раз в течение интервала времени,много меньшего наименьшей из двух, величин г / 0 нефа /2 Ы, где Рф, 3 и О - соответственно тейлоемкость, плотность, толщина и температуропроводность пленочного датчика,М - коэффициент теплообмена, 10характерный пространственный размеризмеряемого распределения плотностипотока энергии СВЧ излучения, причемизмеряют. время ,начала воздействия излучения на плегде- температура окружающей, среды;Т - температура, соответствующая первой изотерме;- коэффициент поглощения излучения в пленочном датчике,У, - плотность потока энергииСВЧ излучения в границахпервой изотермы,а плотность ц потока энергии СВЧизлучения в границах И -й изотермырассчитывают по формуле,Ц ъЦвНа фиг, 1 изображены последовательно отснятые на пленку в различные моменты времени 1изотермы, на фиг. 2 - семейство тех же изотерм, представленных,в единойсистеме координат.Предлагаемый способ:осуществляется следующим образом.Вычисляют две величины 1 / О и2 с 3/2 М. Меньшая из них определяет интервал времени для измерения (который должен быть не менее чем в 5 раз меньше этой наименьшей величины), коэффициент К поглощения излучения в пленочном датчике и темературу Т окружающей среды.Пленочный датчик помещают в плоскость измерения, воздействуют СВЧ излучением, несколько раз снимают изменяющуюся во времени изотерму в течение укаэанного времени, причем каждый раз измеряютинтервал времени .1 ю 2А о с начала воздействия до момента 1-й, 2-й,11 -й съемки.Плотность ц потока энергии в границах одной, например первЖ,.изотермы вычисляют по формуле4-( с) .а плотность д потока энергии СВЧ излучения в, границах и -й изотермы рас.считывают по формуле1128198 Составитель В.Васильева Техред С,Легеза К ор В.Синицкая едактор С.Патр 710 Подписноеениого комитета СССРретений и открытийРаушская наб., д, 4/5 каз 9024/34 Тираж ВНИИПИ Государст по делам изо 113035, Москва, Ж, Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4
СмотретьЗаявка
3571471, 22.02.1983
ИНСТИТУТ ФИЗИКИ ЗЕМЛИ ИМ. О. Ю. ШМИДТА
ЗЕЦЕР ЮЛИЙ ИЗРАИЛОВИЧ, РАТНИКОВ ЕВГЕНИЙ ВЛАДИМИРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 29/10
Метки: излучения, плотности, потока, пространственного, распределения, свч, энергии
Опубликовано: 07.12.1984
Код ссылки
<a href="https://patents.su/4-1128198-sposob-izmereniya-prostranstvennogo-raspredeleniya-plotnosti-potoka-ehnergii-svch-izlucheniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения пространственного распределения плотности потока энергии свч излучения</a>
Предыдущий патент: Способ измерения собственной частоты резонансных контуров
Следующий патент: Устройство для сравнения амплитуд двух низкочастотных гармонических напряжений
Случайный патент: Способ очистки сырого втор-бутилового спирта