Устройство для сортировки микросхем по электрическим параметрам

:Вф Ри ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(54) (57) УСТРОЙСТВО ДЛЯ СОРТИРОВКИ МИКРОСХЕМ ПО ЭЛЕКТРИЧЕСКИМ ПАРАМЕТРАМ, содержащеепитатель, лоток, подпружиненный прижим,контактирующий узел с отсекателем, электрически связанный с измерительной системой, сортировочный механизм и привод, отличающееся тем, что, с целью повышения производительности, оно имеет дополнительный контактирующий узел с отсекателем и два. приводных штыря-отсекателя, размещенных вдоль лотка между контактирующими узлами, при этом лоток выполнен наклонным и разрезным с образованием двух связанных между собой и приводом промежуточных участков, образующих сортировочный механизм, каждый из которых рас положен следом за соответствующим контактирующим узлом.Изобретение относится к контрольно-сор. тировочной технике и может быть использовано для сортировки по группам годности изделий электронной техники, например интегральных микросхем.Известно устройство для сортировки мик. росхем по электрическим параметрам, содержащее питатель, лоток, подпружиненный прижим, контактирующий узел с отсекателем, электрически связанный с измерительной системой сортировочный механизм и привод 1.Недостатком известного устройства является низкая производительноСть из-за больших потерь времени на вспомогательные операции.Целью изобретения является повышение производительности.Указанная цель достигается тем что устройство для сортировки микросхем по электрическим параметрам, содержащее питатель, лоток, подпружиненный прижим, контактирующий узел с отсекателем, электрически связанный с измерительной системой, сортировочный механизм и привод, имеет дополнительный контактирующий узел с отсекателем и два приводных штыря-отсекателя, размещенных вдоль лотка между контактирующими узлами, при этом лоток выполнен наклонным и разрезным с образованием двух связанных между собой и приводом промежуточных участков, образующих сортировочный механизм, каждый из которых расположен следом за соответствующим контактирующим узлом.На фиг, 1 изображено устройство для сортировки микроехем; на фиг. 2 - 14 - лоток устройства в различные фазы его работы, разрез.Устройство для сортировки микросхем по электрическим параметрам содержит питатель 1, наклонный лоток 2, два контактирующих узла, каждый из которых выполнен в виде двух подвижных колодок 3 и 4, 5 и 6 с контактами 7 и отсекателями 8 и 9, сортирующий механизм, выполненный в виде подвижных частей 10 и 11, которые жестко связаны между собой при помощи вилки 12, шарнирно установленной на оси 13, перемещающийся возвратно-поступательно перпендикулярно лотку 2 подпружиненный прижим 14, размещенный в подвижном корпусе 15, и два штыря-отсекателя 16 и 17, возвратно-поступательно перемещающиеся перпендикулярно лотку 2, привод и измерительную систему (не показаны), На лотке 2 размещены микросхемы 18 - 22, подлежащие сортировке.Устройство для сортировки микросхем работает следующим образом. (Исходное положение механизмов устройства для сортировки показано на фиг. 2).Поток микросхем из питателя 1 под действием собственного веса соскальзывает5 10 15 Отсекатель 8 и прижим 14 совершают пос 20 ледовательно возвратно-поступательные пе 25 30 35 40 45 50 55 в лоток 2 и останавливается, когда микросхема 18 будет остановлена отсекателем 8 (фиг. 3) . Затем включается привод устройства (не показан). Колодки 3 и 4 контактного узла, перемещаясь, сжимают микросхему 18, через контакты 7 подключая ее к измерительной системе (не показана), при этом осуществляется измерение электрических параметров микросхемы 18. После окончания измерения электрических параметров микросхемы 18 колодки 3 и 4 контактного узла возвращаются в исходное положение, отсекатель 8 и подпружиненный прижим 14 перемещаются вниз, при этом микросхема 18, если она годна, получает возмоЖность соскальзывать вниз по лотку 2 до штыря-отсекателя 16 (фиг. 4), после чего штырь-отсекатель 17, пропустив через себя микросхему 18, перемещается вверх,преграждая путь микросхемам по лотку 2. ремещения вверх-вниз-вверх, отделяя от всего потока изделий микросхему 19 с неизмеренцыми электрическими параметрами и сбрасывая ее на штырь-отсекатель 17, и дают возможность переместиться микросхеме 20 вниз до отсекателя 8 (фиг. 5).Во время перемещений, совершаемых отсекателем 8, йрижимом 14 и штырямиотсекателями 16 и 17, колодки 5 и 6 контактного узла сближаются, совершая движение, аналогичное, движению колодок 3 и 4, но так как у отсекателя 9 при запуске устройства нет микросхемы, первый цикл измерения пропускается. После возврата колодок 5 и 6 контактного узла в исходное положение, колодки 3 и 4 контактного узла сжимают микросхему 20, подключая ее к измерительной системе и осуществляя измерение ее электрических параметров. Во время измерения электрических параметров микросхемы 20 отсекатель 9 и штырьотсекатель 16 поочередно опускаются, при этом микросхема 18 получает возможность перемещаться далее по лотку 2 (фиг, 6). Пропустив микросхему 18 отсекатель 9 поднимается (штырь-отсекатель 16 остается пока в нижнем положении), а штырь-отсека- тель 17 опускается, сбрасывая микросхему 19 на отсекатель 9 в зону колодок 5 и 6 контактного узла (фиг.,7), после чего штырь отсекатель 16 поднимается, преграждая путь микросхеме 20, которая находится под контактами 7 колодок 3 и 4 контактного узла (фиг. 8). С этого момента элементы устройства вновь занимают исходное положение, но на отсекателе 9 в зоне колодок 5 и 6 контактного узла находится микросхема 19 с неизмеренными электрическими парамет рами.После окончания измерения электрических параметров микросхемы 20 и колодки 3 и 4 отходят от нее и отключают ее отизмерительной системы, а колодки 5 и 6 контактного узла сжимают микросхему 19, подключая ее к измерительной системе. Осуществляется измерение электрических параметров микросхемы 19.5Во время измерения электрических параметров микросхемы 19 отсекатель 8 и прижим 14 выполняют ранее описанные операции, т. е, сбрасывают микросхему 20, если она годная, на штырь-отсекатель 16 (фиг. 9), после подъема штыря-отсекателя 17 сбрасывают на штырь 17 микросхему 21 с неизмеренными параметрами, а затем дают переместиться вниз до отсекателя 8 микросхеме 22 со всем потоком микросхем, находя- шихся на лотке. 15После окончания измерения электрических параметров микросхемы 19 она отключается от измерительной системы, а подключается микросхема 22.Во время измерения электрических параметров микросхемы 22 отсекатель 9 переме щается вниз, освобождая путь микросхеме 19, которая, если она годная, соскальзы. вает далее по лотку 2 (фиг. 11), после чего штырь-отсекатель 16 также опускается и микросхема 20 также соскальзывает дальше по лотку 2 (фиг. 12). Пропустив микросхему 20, отсекатель 9 поднимается, а штырьотсекатель 17 опускается, и микросхема 2 соскальзывает до отсекателя 9 (фиг 13), после чего штырь-отсекатель 16 поднимается в верхнее положение (фиг. 14), и элементы устройства вновь занимают исходное положение и готовы к повторению следуюшего цикла работы.Если при измерении электрических параметров оказывается, что микросхема, на-.ходящаяся под контактами 7 колодок 3 и 4 или 5 и 6 контактного узла, негодна (или не соответствует заданной группе), то перед тем как отсекатель 8 или 9 отпустят удерживаемую ими микросхему, от измерительной системы поступает сигнал на исполнительное устройство (не показано), которое поворачивает вилку 12. При этом подвижные части 10 и 11 лотка 2 поднимаются и микросхема, не соотвутствующая заданной группе, проваливается в образовавшийся проем в лотке 2.1094626 4 ррЙМ Ю 17,Г11 1 Я Ю 10 Ж 1 6 ГЮ6 1 17 7 Е 1 77 Р оставитель В. Аганииред И, Верес Корж 589 Подрственного комитета Сзобретений и открытий- 35, Раушская наб.,г Ужгород ул Про ектор И. Эрдей исноеССР Редактор А. Шишкина38 каз 3480/3 Тех ТирВНИИПИ Госудпо делам и113035, Москва, Ж илиал ППП Патен д. 4/5 ктная, 4