Устройство для двустороннего плоского шлифования

Номер патента: 1144851

Опубликовано: 15.03.1985

Авторы: Довгалев, Сургунт

МПК: B24B 1/00

Метки: кругом, поверхностей, поверхностью, прерывистой, рабочей, шлифования

...кругу сообщают вращательные движения, а круг перемещают вдоль образующей обрабатываемой детали 1.Недостатком известного способа является низкое качество обработанной поверхности.Цель изобретения - улучшение качества обработанной поверхности.Поставленная цель достигается тем, что согласно способу шлифования поверхностей кругом с прерывистой рабочей поверхностью, при котором детали и шлифовальному кругу в системе СПИД с переменной жесткостью сообщают вращательные движения, а круг перемещают вдоль образующей обрабатываемой детали, деталь на время выхода периферийной режущей части кру га из зоны контакта с ней нагружают со стороны круга усилием, равным усилию резания.Такое выполнение способа исключает разгрузку системы СПИД во время...

Номер патента: 1256938

Опубликовано: 15.09.1986

Авторы: Белявский, Глухих, Грабченко, Доброскок, Дрожин, Михайлов

МПК: B24B 53/00

Метки: круга, поверхностью, правки, прерывистой, рабочей, шлифовального

....способ может предусматривать изменение длительности импульсного воздействия на связку круга н соответствии с оптимальным для дан-ного режима шлифования отношением длины внадины к длине выступов круга.Вследствие того, что за время импульса, круг перемещается в новое положение, длина впадины превышает продольный размер электропроводной полосы 3 катода и определяется фор" мулой К = 1Х. = а+к ф где 1ЬзЬ где с - угол наклона задней частивыступа или передней боковой сторокы впадины.Тогда для случаяподачи прямоугольных импульсов где- продольньй размер задней части выступам ( ч 0 =6, (р 1 если Т ь ,рко50 шаг волнистости продольного профиля;продолжительность импульсов;размер электропроводных участков на рабочей поверхности...

Номер патента: 775633

Опубликовано: 30.10.1980

Авторы: Загромов, Куликов

МПК: G01K 7/00

Метки: между, металлическую, нанесенного, поверхностями, подложку, покрытия, противоположными, разности, температур

...подложки безразмер.- у ная избыточная температуры поверхlности покрытия 9 р будет изменяться также, как и температура подлож 1 Уки 6 св случае, если таким же потоком действовать со стороны покрытия, т.е. будет выполняться тождество( 11К м А=Окоторое в размерном виде можно записать как3( о-):011 О,где д(Цх,С)-1 о) - избыточная температура образца.Помимо таких Факторов, как неодномерность температурного поля, зависимость теплофизкческих свойств от температуры, устраняемых общеизвестными способами, решающую роль в отклонении условий. эксперимента от теоретических играет конечность величины теплолроводности материала лодложки, оценка влияния которой сделана путем сравнения решения задачи для случая, когда теплолроводность материала...

Номер патента: 1180697

Опубликовано: 23.09.1985

Авторы: Айсин, Подобрянский, Пушечников, Смирнов, Хлебников, Шевелев

МПК: G01B 21/08

Метки: между, отражающими, поверхностями, расстояний

...Кроме того, измеряется расстояние между отражающими поверхностями объекта 31, например линзы,Устройство работает следующимобразом,Источник 1 света освещает щелевуюдиафрагму 2, автоколлимационноеиэображение которой от первой поверхности строится с помощью полупрозрачного элемента 3, коллимирующегои фокусирующего объективов 5 и 6 вплоскости анализа, в которой -установлена щелевая диафрагма 2,Автоколлимационное изображениещелевой диафрагмы 2 также строитсяв плоскости анализа с помощью полупрозрачного элемента 7, зеркал 8-10и фокусирующего объективаФокусирующие объективы 6 и 11 установлены таким образом, что расстояние между их фокальными плоскостями больше максимального расстояния между отражающими поверхностями линзы 31.При перемещении...

Номер патента: 1357710

Опубликовано: 07.12.1987

Авторы: Бручас, Маченис, Паулаускас, Печкис

МПК: G01B 21/00

Метки: двумя, зазоров, которых, малых, между, одна, поверхностями, прозрачная

...монохроматическим потокам с длинами волн Л и Л 2 . Калибровка осуществляется по максимальным (А )макси минимальным (А) значениям амплитуд сигналов каждого из Фотоэлектрических датчиков 6 и 7 (т.е. дляи (12 ) фотоэлектрического датчика,макс = А макс АмиО 1для второго фотоэлектрического датчика1Ц(2 т ) макс макс максо 23 13577После калибровки должно бытьВ режиме калибровки сигналь с вы 5 хода фотоэлектрических датчиков 6 и 7 поступают на вход преобразователя 10, который преобразует их в код и посылает их в вычислительный блок 18.Регистрируемые значения выходных сигналов сопоставляются с ранее установленным калибровочным значением, находящимся в вычислительном блоке 18.15При неравенстве текущих значений выходных сигналов калибровочным с...