Способ тепловой дефектоскопии изделий

Номер патента: 972367

Авторы: Долгов, Короткая

ZIP архив

Текст

ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветскихСоциалистическихРеспублик1972367(51) М. Кл. б 01 М 25/72 Гвсудлрствеиимй кемитет СССР Опчбликовано 07.11.82. Бюллетень41 по делам изебретеиий и аткрмтийДата опубликования описания 17.11,82(72) Авторы изобретения В. М. Долгов и В, Г. Короткая 1Днепропетровский ордена Трудового КрасногоЗнаменигосударственный университет им. 300-летия воссоединенияУкраины с Россией(54) СПОСОБ ТЕПЛОВОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ ИЗДЕЛИЙ Изобретение относится к неразрушающему контролю качества изделий и материалов и может быть использовано для обнаружения дефектов тепловым способом в изделиях, содержащих пленочное покрытие на металле. 5Известен способ тепловой дефектоскопии изделий, основанный на визуализации распределения температуры по поверхности нагреваемого изделия с помощью жидкокристаллических термоиндикаторов, при котором контролируемую зону изделия нагревают, а неравномерности теплового поля, вызываемые наличием дефектов, наблюдают посредством нанесения на поверхность контролируемого объекта слоя термотропных жидких кристаллов, спектр отражения5 которых зависит от изменения температуры в диапазоне, определенном для каждого типа жидкокристаллической композиции 1 . Недостатками указанного способа явля 20 ются сложность, трудоемкость и неоперативность контроля, значительный расход термочувствительного материала, трудность создания плоскостной текстуры жидкокристаллического слоя, необходимой для качественного наблюдения температурного поля на поверхности.Наиболее близким к предлагаемому техническим решением является способ тепловой дефектоскопии изделий с помощью пленочных термоиндикаторов, заключающийся в том, что изделие нагревают непрерывным или импульсным источником тепловой энергии, а к контролируемой поверхности прикладывают пленку, содержащую микрокапсулирова нные включения жидких кристаллов, что позволяет наблюдать температурное распределение нагреваемой поверхности. При этом над участками отслоений наблюдается изменение температуры, по которому судят о наличии дефектов 2.Недостатком известного способа является то, что при использовании термочувстви тельной пленки сложно обеспечить тепловой контакт ее с поверхностью изделия, что особенно важно в тех случаях, когда изделие содержит тонкое пленочное покрытие, теплоемкость которого сопоставима с теплоемкостью жидкокристаллического термоиндикатора. Кроме того, в случае тонких покрытий осуществление постоянного10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 нагревания жидкокристаллической пленки со стороны пленочного покрытия приводит к быстрому установлению стационарного режима и размытию характерных областей температурного рельефа, несущих информацию об объекте, применение же импульсных источников нагрева сопряжено либо со значительным непродуктивным расходом тепловой энергии, либо с усложнением системы контроля (например, использование в качестве источника тепловой энергии импульсного лазера).Цель изобретения - повышение достоверности и чувствительности обнаружения дефектов в изделиях, содержащих пленочные покрытия на металле.Поставленная цель достигается тем, что согласно способу тепловой дефектоскопии изделий, заключающемуся в нагревании изделия и визуализации распределения температуры по поверхности изделия с помощью пленочных термоиндикаторов, на поверхность пленочного термоиндикатора помещают сосуд с открытым дном и нагревание изделия осуществляют за счет адиабатического сжатия газа в сосуде.На чертеже показана схема осуществления предлагаемого способа.Способ осуществляют при помощи сосуда 1, содержащего воздух, прозрачного порш. ня 2, металлического основания 3, диэлектрического пленочного покрытия 4. На чертеже обозначены область 5 дефекта, жидкокристаллический пленочный термоиндикатор 6, направление 7 движения поршня. Используемый в качестве термочувствительного элемента пленочный микрокапсулированный жидкокристаллический термоиндикатор представляет собой дно сосуда, содержащего сжимаемый газ.При нагревании пленки за счет адиабатического сжатия газа в зависимости от коэффициента теплопередачи внутри изделия изменяется количество тепла, отводимого от пленки в каждом участке, т, е. фиксируют области, в которых прерывается тепловой поток, отводимый от пленки.Теплопередача от нагретого адиабатическим сжатием газа через жидкокристаллическую пленку изделия зависит от степени теплового контакта между ними, который улучшается вследствие увеличения давления на пленку и более полного прижатия ее к поверхности контролируемого объекта. При этом в областях дефектов, прерывающих или уменьшающих тепловой поток, температура выше, чем в бездефектных. Это приводит к соответствующему изменению цвета в отраженном свете жидкокристаллической пленки. Наблюдение оптического изображения теплового рельефа может быть осуществлено через прозрачный поршень.Пример реализации способа. Пусть в сосуде под поршнем находится воздух при температуре Т -- 27 С (300 К) при нормальном давлении Р -- 1 атм, Образец - плоская металлическая пластина с тонким диэлектрическим покрытием, толщина которого с -- 0,2 мм, а коэффициент теплопроводности )= 0,5 вт/м.град, в котором имеется локальная неоднородность, представляющая собой воздушную прослойку толщиной й -- 0,01 мм и коэффициентом теплопроводности Х, = 0,02 вт/м. град. Толщина термочувствительного слоя дц = 0,1 мм, а коэффициент теплопроводности его 1 ц = = 0,4 вт/м.град.При адиабатическом сжатии газа, проводимом таким образом, чтобы результирующий объем Ъ был вдвое меньше исходного , давление под поршнем определяется из уравнения адиабаты Р -- Р (Ъ/Ъ ) где Т - отношение теплоемкостей газа при постоянном давлении и постоянном объеме (для воздуха У = 1,4), и составит Р =2,64 атм, что обеспечивает прижим пленки из термочувствительного материала к поверх ности изделия избыточным давлением 1,64 кг/см и позволяет осуществить полный тепловой контакт термоиндикатора с объектом.В тепловых методах контроля с использованием традиционных средств нагревания градиент температур на поверхности изделия, являющийся критерием наличия дефекта, обусловлен различной скоростью передачи тепла на дефектных и бездефектных участках. Так как дефект является термическим сопротивлением на пути теплового потока, над дефектным участком аккумулируется дополнительное по отношению к бездефектному участку тепло, которое и регистрируется индикатором. Величина и скорость прироста тепла зависят от толщины слоя материала над дефектом, а чувствительность способа - от расстояния между термоиндикатором и контролируемой поверхностью.Если в качестве меры чувствительности способа С принять величину, равную отношению тепловых потоков через бездефектный и дефектный участки, то при наличии воздушного промежутка между жидкокристаллическим термоиндикатором и контролируемой поверхностью др -- 0,1 мм эта величина составит С = 1,08, а по предлагаемому способу, т. е. в отсутствие зазора между индикатором и объектом, С = 1,8, что обеспечивает уверенную локализацию дефекта. Температура Т газа после сжатия составляет 122,9 С.Предположим, что в отличие от рассматриваемого способа, нагревание изделия осуществляется за счет источника, излучающего как абсолютно черное тело, и в идеальном случае весь поток поглощается жидкокристаллическим индикатором. Если площадь обогрева составляет 10 см, а приведенная теплоемкость термоиндикатора 1,5 Дж/см, то для того, чтобы нагреть ин972367 Составитель С. Беловодченко Редактор Т. Лопатина Техред И. Верес Корректор Ю. Макаренко Заказ 8062/33 Тираж 887 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4дикатор на ЬТ = 95,9 С за 2 с требуются источник нагревания с температурой 1627 С.Очевидно, недостатком такого способа является наличие внешнего источника, содержащего высокотемпературный нагревательный элемент, невыгодный с энергетической точки зрения. Предлагаемый способ позволяет устранить этот недостаток. Повышается экономичность контроля за счет исключения затрат электрической энергии на нагревание контролируемого объекта, нагревание производится за счет тепловой энергии, выделяющейся при адиабатическом сжатии газа.Использование предлагаемого способа тепловой дефектоскопии обеспечивает обнаружение дефектов в изделиях, содержащих тонкие пленочные покрытия на металле, и облегчает как совершенствование технологии изготовления изделий, так и устранение обнаруженных дефектов в готовых изделиях.Предлагаемый способ обладает следую щими преимуществами по сравнению со способом с непосредственным наложением термоиндикатора на поверхность объекта; оперативность контроля увеличивается при мерно в 10 раз; обеспечивается равномер 25 ное прижатие жидкокристаллической пленки к поверхности изделия, в связи с чем улучшается достоверность термограмм; осуществляется импульсный нагрев жидкокристаллического индикатора, что приводит к лучшей выявляемости дефектов; отсутствует специальный нагреватель. Формула изобретенияСпособ тепловой дефектоскопии изделий, заключающийся в нагревании изделия и визуализации распределения температуры по поверхности изделия с помощью пленочных термоиндикаторов, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности и чувствительности обнаружения дефектов в изделиях, содержащих пленочные покрытия на металле, на поверхность пленочного термоиндикатора помещают сосуд с открытым дном и нагревание изделия осуществляют за счет адиабатического сжатия газа в сос де. Источники информации,принятые во внимание при экспертизе . Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. Справочник под ред. В. В. Клюева. Т. 1, М., Машиностроение, 1976, с. 104.2. Авторское свидетельство СССР352204, кл. 6 01 М 25/30, 1971 (прототип).

Смотреть

Заявка

3285831, 06.05.1981

ДНЕПРОПЕТРОВСКИЙ ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМ. 300-ЛЕТИЯ ВОССОЕДИНЕНИЯ УКРАИНЫ С РОССИЕЙ

ДОЛГОВ ВАЛЕРИЙ МИХАЙЛОВИЧ, КОРОТКАЯ ВАЛЕНТИНА ГРИГОРЬЕВНА

МПК / Метки

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектоскопии, тепловой

Опубликовано: 07.11.1982

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-972367-sposob-teplovojj-defektoskopii-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ тепловой дефектоскопии изделий</a>

Похожие патенты