Способ определения счетной концентрации капель и их среднего размера

Союз СоветскихСоциалистическихРеспублик ОП ИКАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(23)Приоритет Ьаудврстввнный комнтет по делам нзобретеннй и открытий(53 ) Уд К 5 3 1.7 15, ,27 (088,8) Дата опубликования описания 10.01.82(2) Автор изобретения В. П. Саванеев аявите ьединенный институт ядерных исследован ОЙ КОНЦЕНТРАЦИИРАЗМЕРА Л ПРЕДЕЛЕНИЯ С И ИХ СРЕДН(54) СПО Изобретение относится к измерению параметров микрочастиц и их количества и может быть использовано для определения параметров капельного распыла.Известен способ определения количества и размеров частиц, заключающийся в том, что по разнице световых потоков, проходящих через чистую подложку и подложку с исследуемой пробой, определяют общую поверхность исследуемой пробы и по известному распределению капель по размерам, определяют количество частиц в капельном распыле 111 .Недостатком указанного способа является низкая точность измерения из-за отсутствия постоянного соотношения межцу счетной концентрацией и поверхностью исследуемой пробы.Наиболее близким к изобретению по технической сущности является способ20 определения счетной концентрации капель и их среднего размера, заключающийся в том, что отбирают на подложку пробу капельного распыла, изготавливают нега тивное изображение подложки с пробой,проектируют его на экран и вручную определяют число капель. Размеры капельопределяют с помощью накладываемоймасштабной сетки 12,Недостаток указанного способа - низкая производительность, связанная с ручной обработкой результатов,Цель изобретения - повышение производительности опре деления.Поставленная цель достигается тем,что изготавливают негативное изображение подложки до отбора пробы капельногораспыла, освещают негативные изображения световыми потоком, измеряют световые потоки, прошедшие через негативные изображения, находят их разность ипо разности световых потоков определяютобщую площадь исследуемой пробы капельного распила, выделяют на обоих негативных изображениях участок одинаковойплошади и содержащий целое число капель,определяют число капель на выделенномучастке, освещают выделенные участкиновании этих данных определяют среднююплощадь каплим: 95,Таким образом, предлагаемый способ позволяет определить с минимально возю можными затратами времени и сил счетную концентрацию капель и их средний размер. Способ определения счетной концентрации капель и их среднего размера,заключающийся в том, что отбирают наподложку пробу капельного рвспыла, изготавливают негативное изображение подложки с пробой, о т л и ч а ю ш и йс я тем, что, с целью повышения производительности определения, изготавливают негативное иэображение подложкидо отбора пробы капельного распыла, освещают негативное изображение световым потоком, измеряют световые потоки, прошедшие через негативные изображения, находят их разность и по разности световых потоков определяют общую площадь исследуемой пробы капельного распыла, выделяют на обоих негативных изображениях участок одинаковой площади и содержащий целое число капель, определяют число капель на выделенном участке; освещают выделанные участкисветовым потоком, измеряют световые потоки, прошедшие через выделенные участки,находят разность световых потоков и по полученным данным определяют счетнуюконцентрацию капель и их средний размер.Источники информации,принятые во внимание . при экспертизе1. Грин Х., Лейк В. Аэрозоли - пыли,дымы и туманы. Л., "Химия, 1969,с. 337.о2. Там же, с. 232 (прототип). 3 896394 фсветовым потоком, измеряют световыепотоки, прошедшие через выделенныеучастки, находят разность световых потоков и по полученным данным определяют 5=би 1счетную концентрацию капель и их среди общее число зафиксированных капельний размер.На фиг. 1 показано негативное изображение подложки до фиксации на ней капель;на фиг. 2 - то же, после фиксации капель;на иг. 3 - участок, вьщеленный на нега-1 фтивном изображении подложки с каплями;на фиг, 4 - участок, выделенный на негативном иэображении подложки без капе льеСпособ заключается в следующем.Для определения общей плошади ЯМФормула изрбретенияисследуемой пробы капельного распыла,делают с подложки два негативных изсбрвжения по фиксации на ней капель ипосле. Через оба негативных изображения пропускают эталонный световой потоки определяют, проектируя изображение с помощью оптики на катод фотоэлектронного умножителя (не показан),разность световых потоков 33Фо фо=фогде ф - световой поток, прошедший нефагативное изображение подложки до фикс ации н а ней к апель;ф - световой поток, прошедший неЮЧогативное изображение подложкипосле фиксации на ней капель:Разность Ьф световых потоков будетпропорциональна обшей площади 5исследуемой пробы квпельного распыла. За- Итем с помощью диафрагмы 1 выделяютна обоих негативных изображениях участокодинаковой площади и содержащий небольшое к оличество ( И ) капель, Черезоба выделенных участка пропускают эта . 46донный световой поток и определяют,проектируя изображение с помощью оптики на катод фотоэлектронного умножителя, разность измеренных световых потоков 3, которая будет пропорциональна общей плошади 5 занимаемой И капцлями. Визуально делают подсчет числаИ капель на выделенном участке. На ос896394 фиеЗ Тираж 613 Подписноеосударственного комитета СССРам изобретений и открытийЖ 36, Раушская наб., д. 4/5 ИИПИ по