Способ выявления геологических структур
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Сфвз СоветскикСецмалмстическикРеспублик Оп ИСАНИЕИЗОВВЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(51) М. Кл. ЪауАарстванай квмнтвт СССР ае двлвм нэобрвтвннй н втврьпнйДата опубликования описания 18, 12,81 О, Н. Кутузов, Е, А, Соловьев и Ю, С. Шилов(72) Авторы изобретения Всесоюзный научно-исследовательский институт природных газов ВНИИГАЗ(54) СПОСОБ ВЫЯВЛЕНИЯ ГЕОЛОГИЧЕСКИХ СТРУКТУРИзобретение относится к поиску иразведке месторождений полезных ископаемых с помощью измерения освещенности, отраженной от земной поверхности.Известен сйособ выявления геологических структур, в котором измеряют темЮпературу в мелких скважинах на разнойот поверхности глубине, определяемойкак 0,23-0,30 величины слоя с изменяющимися годовыми температурами. Врезультате обработки полученных данныхустанавливают повыщение значений температуры над антиклиналями 11,Недостатками этого способа являются"необходимость бурения скважин, а так 15же определение мощности слоя с изменяющимися годовыми температурами.Известен также способ поиска геологических структур, основанный на регистрации инфракрасного излучения Земли,Обычно инфракрасная съемка проводитсяс летательного или космического аппарата в диапазоне длин волн 0,7611 мкм, Дешифрированиеснимков позволяет выявить геологические объекты, отличающиеся по температуре от окружающей среды 2.Недостатками этого способа являютсяего малая чувствительность и, как следствие, низкая разрещающая способность,Пель изобретения - повыщение эффективности изучения глубинного геологического строейияПоставленная цель достигается тем,что согласно способу выявления геологических структур, основанном на регистрации отраженного от поверхности Землиизлучения, измеряют отраженную от земной поверхности освещенность в диапазоне 100-9500 лк в условиях затене-ния, причем изменения освещенности,происходящие в период съемки корректируютпо изменениям в базовых точках,Изобретение основано на том, чтоучастки поверхности Земли, соответствующие геотермическим аномалиям, обладают повьпценной отражающей способностью,890347 4заны средние значения отраженной освещенности полученные при полевых наблюдениях, Наиболее оптимальные значения получены в точках 1-4 (1009500 лк) с эффективностью составляющей 55-90%. При значениях отраженнойосвещенности свыше 10000 лк (точка 5)эффективность уменьшается до 40%,Выбор оптимального диапазона наблю 10 дений достигается затенением объекта отпрямого попадания солнечных лучей, Приоблачной и пасмурной погоде производятзатенение как в базовой, так и точкахм наблюдения. Результаты измерения от 15 раженной освещенности в пунктах наблюдения корректируют по наблюдениям, получаемым в базовой точке,ви- В результате сопротивления данныхУ- наблюдений в пунктах замера с данныминаблюдений, полученных в базовых точъе- ках, получают различия впокаэаниях отрае- женной освещенности, Значения отраженной освещенности по точкам наблюденияой наносят на карту и строят карту изолюкс,д по которой затем выявляют антиклинали.ро- В процессе практической реализациив способа установлено, что нвд антиклиналями, которые могут содержать залежинефти и газа, регистрируют повышенныезначения отраженной освещенностьл- Использование данного способа выявлея ния геологических структур ло сравнению с известными позволяет ускоритьработы по выявлению геологических струки тур и .удешевить работы по их съемке,Способ реализуют следующим образом.Плошадь, подлежащая исследованию,в случае разнородного строения в зависимости от характера растительного покрова почвы, поверхностной литологии,рельефаместности и др. разделяютна ряд участков, В каждом из этих участков намечают базовую точку (плввающий ноль вследствие изменения освещенности),характеризующуюся осредненнымидля данного участка условиями (растительный покров, рельеф и др. ), Исследования проводят на плошади по профилярасполагающимся в плане по взаимно.перпендикулярным линиям, В базовой токе каждого участка проводят через корокие промежутки времени (3-5 мин в зйсимости от времени перехода из предыдшей точки на последуюшую) измерения ораженной освещенности наблюдаемого обкта при затенении, При переходе к исслдованиям другого участка наблюдения нчинают параллельными замерами в стари новой базовых точках,Замеры отраженной освещенности иизводят люксметром (например Ю)затененных условиях наблюдаемого объетв, для чего точки замеров (и базовую)изолируют от прямого попадания солнечных лучей, Длительность затенения дожна составлять не менее 20 с, учитываинерционность прибора, Замеры осушествляют при расположении прибора параллельно земной поверхности на расстоянив пределах 1-1,3 м от нее (строго оди 35,иаковом расстоянии прибора от поверхности земли). Указанное расстояние удобнодля наблюдений. Практически при изменении расстояния прибора от поверхности40земли 0,5-3 м изменения отраженнойосвещенности не превышают 2-4%, в товремя как разница в точках наблюденияколеблется в пределах 5-80%. Времязамера определяется стабильностью показаний прибора и не превьшиет 10-15 с,На чертеже показана кривая зависимости эффективности измерений от отраженной освещенности в условиях затенения,Оптимальное значение измеряемойотраженной освещенности должно находиться в пределах 100-9500 лк. Подтверждение правильности выбранных пределов показано на чертеже, На оси абсцисспоказаны логарифмы полученных эначений отраженной освещенности в затененных условиях, по оси ординат - эффективность в процентах, В точках 15 покаФормула изобретенияСпособ выявления. геологическихструктур, основанный на регистрации отраженного от поверхности Земли излучения, о т л и ч а ю ш и й с я тем, что,с целью повышения эффективности изучения глубинного геологического строения, измеряют отраженнуюот земной поверхности освещенность в диапазоне 1009500 лк в условиях затенения, причемизменения освещенности, пооисходяшие впериод съемки, корректируют по изменениям в базовых точках.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1, Авторское свидетельство СССРМо 625177, кл, С; 01 М 9/00, опублик.1974.2, Кац Я, Г, и лр, Космические методы в геологии. М., МГУ, 1976, с, 133 134(прототип),890347 ставитель Э. Волконскийхред С. Мигунова Корректор С, Щомак едактор 7 ал ПП "Гатент", г, Ужгород, ул, Проектная,Зрректц 5 нюсвь 100/ Заказ 10986/76 Т ВНИ ИПИ Гос по делам 113035, Москвадарственногоизобретений Ж, Рауш Подписноеомитета СССРоткрытийая наб., д. 4/5
СмотретьЗаявка
2911974, 16.04.1980
ВСЕСОЮЗНЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ПРИРОДНЫХ ГАЗОВ "ВНИИГАЗ"
КУТУЗОВ ОЛЕГ НИКОЛАЕВИЧ, СОЛОВЬЕВ ЕВГЕНИЙ АЛЕКСЕЕВИЧ, ШИЛОВ ЮРИЙ СЕРГЕЕВИЧ
МПК / Метки
Метки: выявления, геологических, структур
Опубликовано: 15.12.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-890347-sposob-vyyavleniya-geologicheskikh-struktur.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ выявления геологических структур</a>