Способ измерения толщины слоев
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 879279
Авторы: Аграновский, Брандорф, Кизилов, Ямпольский
Текст
ц 879279 Союз СоевтскикСоциапистическмкРеспублик ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(22)Заявлено 23.01.80 (21) 2872941/25-28 с присоелинением заявки М 0 01 В 7/066 01 М 2700 РкударстюацН кфмитет СССР ао делам изебретений н еткрцткй(53) УД К 620. 179. .142.5(088.8) Опубликовано 07. 11.81. Бтоллетень,йв 41 Дата опубликования описания 07.11.81. от ъБ.А.Аграновский, В.Г.Брандорф, Ю.Н,Кизилов"и Ж.А.Ямпольский(7) Заявитель Львовский лесотехнический институт(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ СЛОЕВ Изобретение относится к неразрушающему контролю и может использоваться для измерения толщины слоев много- . слойных изделий.Известен способ измерения толщины5 слоев многослойных крупногабаритных изделий, заключающийся в том, что при изготовлении изделия между его слоями размещают линейные проводники так, что они находятся в одной плоскости, и располагают накладной индуктивный преобразователь на одной из поверхностей изделия, по величине сигнала этого преобразователя судят о,измеряемых толщинах слоев 1 1.Недостаток такого способа заключается в том, что на результат измерения влияет поле обратного (общего) провода.Цель изобретения - повышение достоверности контроля. Это достигается тем, что линейныепроводники размещают также и на обеих поверхностях изделия, из группы четырех линейных проводников образуют пару электрических. контуров, не имеющих общих ветвей, по каждому из кон-туров парыпропускают синфазный переменный ток таким образом, что магнитные поля, созданные каждым контуром в накладном преобразователе, направлены встречно, в одном из контуров пары изменяют амплитуду тока домомента, когда сигнал преобразователя равен нулю, и в этом положении измеряют и фиксируют отношение Р токов первой пары контуров, образуютдругую пару, контуров из той же груп"пы четырех линейных проводников ианалогично измеряют и фиксируют отношение Р 2 токов второй пары контуров, по полученным отношениям определяют толщину слоев между линейными проводниками, которые использовались для образования первых двух парконтуров, затем последовательно используются все линейные проводники89279 Фиг. Составитель И.Кесоедактор С.Суркова Техред А, Ач рректор С.Шек 6 4 Тираж 645 Под ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская набо Заказ 4/ тент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 ками, которые использовались для образования первых двух пар контуров,затем последовательно используют вселинейные проводники группами по четыре проводника и определяют толщинувсех .слоев иэделия. Источники инФормации,принятые во внимание при экспертизе1, Авторское свидетельство СССР У 619783, кл. С 01 В 7/06, 1977 прототип).
СмотретьЗаявка
2872941, 23.01.1980
ЛЬВОВСКИЙ ЛЕСОТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
АГРАНОВСКИЙ БОРИС АЛЕКСАНДРОВИЧ, БРАНДОРФ ВИКТОР ГРИГОРЬЕВИЧ, КИЗИЛОВ ЮРИЙ НИКОЛАЕВИЧ, ЯМПОЛЬСКИЙ ЖОЗЕФ АЛЕКСАНДРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 7/06
Опубликовано: 07.11.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-879279-sposob-izmereniya-tolshhiny-sloev.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения толщины слоев</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения толщины диэлектрических материалов
Следующий патент: Устройство для измерения диаметра протяженных изделий
Случайный патент: Устройство для агломерации руд и концентратов